一种光学检测治具以及光学检测系统技术方案

本申请提供了一种光学检测治具以及光学检测系统，光学检测治具包括支架、承载件、发光件以及成像板。承载件设于支架上，承载件包括用于承载电子设备的承载面以及位于承载面相对两侧的托板，承载面的下方具有透光区域，托板用于配合承托电子设备的相邻侧边，使得电子设备的顶角对应于透光区域。发光件设于承载件的与承载面相背的侧面上，发光件用于向电子设备的顶角发光。成像板设于承载件背向发光件的一侧，成像板用于呈现经发光件向电子设备的顶角发光所投射的光影图像，且成像板上标有用于检测光影图像的预设检测区域。上述光学检测治具不仅检测精度高，还能够高效地检测大量的电子设备的顶角，提高了检测效率。提高了检测效率。提高了检测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种光学检测治具以及光学检测系统


[0001]本申请涉及检测电子设备的顶角的
，尤其涉及一种光学检测治具以及光学检测系统。

技术介绍

[0002]由于各种机床的加工精度不同，在加工电子设备的顶角时会产生不同的误差，为了满足加工要求，需要准确的测量出加工的顶角的尺寸是否符合要求。常见的电子设备的顶角包括R角和C角，R角是零件铸造加工时产生的铸造圆角，C角是零件铸造加工时产生的铸造倒角。目前常见的R角加工精度检测方式是使用R规测量，但是R规测量的方法的精度较低，并且极易受人工主观影响，具有检测精度低以及效率低下的缺点。

技术实现思路

[0003]针对现有技术中存在的上述技术问题，本申请提供了一种光学检测治具以及光学检测系统，其不仅检测精度高，还能够高效地检测大量的电子设备的顶角，提高了检测效率。
[0004]本专利技术实施例公开了一种光学检测治具，应用于电子设备的顶角检测，所述光学检测治具包括支架，还包括：承载件，其设于所述支架上，所述承载件包括用于承载所述电子设备的承载面以及位于所述承载面相对两侧的托板，所述承载面的下方具有透光区域，所述托板用于配合承托所述电子设备的相邻侧边，使得所述电子设备的顶角对应于所述透光区域；发光件，其设于所述承载件的与承载面相背的侧面上，所述发光件用于向所述电子设备的顶角发光；成像板，其设于所述承载件背向所述发光件的一侧，所述成像板用于呈现经所述发光件向所述电子设备的顶角发光所投射的光影图像，且所述成像板上标有用于检测所述光影图像的预设检测区域。
[0005]在一些实施例中，所述发光件以可转动地方式设于所述承载件上。
[0006]在一些实施例中，所述承载件枢转地设于所述支架上。
[0007]在一些实施例中，所述支架包括底座和设于所述底座上的活动架，所述底座上设有滑槽，所述活动架的一端滑动设于所述滑槽内，并与所述底座枢接，所述活动架的另一端与所述承载件枢接。
[0008]在一些实施例中，所述活动架包括第一架体和第二架体，所述第一架体相对所述第二架体靠近所述发光件设置，所述第一架体的两端分别与所述底座和承载件枢接，所述第二架体的一端滑动设于所述滑槽内，并与所述底座枢接，所述第二架体的另一端与所述承载件枢接。
[0009]在一些实施例中，所述成像板朝向所述承载件的一侧面上形成有长度测量刻度。
[0010]在一些实施例中，所述托板由所述承载件的两侧向内弯折形成。
[0011]在一些实施例中，所述托板滑动设于所述承载面上，以调整位于所述承载面相对两侧的托板的间距。
[0012]本专利技术实施例还公开了一种光学检测系统，包括上述的光学检测治具，还包括电子设备，所述光学检测治具用于检测所述电子设备的顶角。
[0013]在一些实施例中，所述顶角为以下中的至少一个：C角、R角。
[0014]与现有技术相比，本申请实施例的有益效果在于：本申请通过在承载面的下方设置透光区域，以及待检测的电子设备的顶角对应透光区域，实现在发光件在向电子设备的顶角发光后，能够在成像板上投射出对应顶角的光影图像，通过判断光影图像是否于预设检测区域内，从而确定电子设备的顶角是否符合要求。上述检测电子设备的顶角的方式不仅检测精度高，还能够高效地检测大量的电子设备的顶角，提高了检测效率。
附图说明
[0015]在不一定按比例绘制的附图中，相同的附图标记可以在不同的视图中描述相似的部件。具有字母后缀或不同字母后缀的相同附图标记可以表示相似部件的不同实例。附图大体上通过举例而不是限制的方式示出各种实施例，并且与说明书以及权利要求书一起用于对所公开的实施例进行说明。在适当的时候，在所有附图中使用相同的附图标记指代同一或相似的部分。这样的实施例是例证性的，而并非旨在作为本装置或方法的穷尽或排他实施例。
[0016]图1为本申请实施例光学检测治具的第一视角的结构示意图；图2为本申请实施例光学检测治具的第二视角的结构示意图；图3为本申请实施例光学检测治具的结构示意图，图中未示出成像板；图4为本申请实施例光学检测治具的爆炸图，图中未示出成像板。
[0017]图中的附图标记所表示的构件：100
‑
光学检测治具；200
‑
电子设备；201
‑
顶角；1
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支架；11
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底座；12
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活动架；13
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滑槽；14
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第一架体；15
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第二架体；2
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承载件；21
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承载面；22
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托板；3
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发光件；4
‑
成像板。
具体实施方式
[0018]为使本领域技术人员更好的理解本申请的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本申请作详细说明。下面结合附图和具体实施例对本申请的实施例作进一步详细描述，但不作为对本申请的限定。
[0019]本申请中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指在该词前的要素涵盖在该词后列举的要素，并不排除也涵盖其他要素的可能。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。
[0020]在本申请中，当描述到特定器件位于第一器件和第二器件之间时，在该特定器件与第一器件或第二器件之间可以存在居间器件，也可以不存在居间器件。当描述到特定器件连接其它器件时，该特定器件可以与所述其它器件直接连接而不具有居间器件，也可以不与所述其它器件直接连接而具有居间器件。
[0021]本申请使用的所有术语（包括技术术语或者科学术语）与本申请所属领域的普通技术人员理解的含义相同，除非另外特别定义。还应当理解，在诸如通用字典中定义的术语应当被解释为具有与它们在相关技术的上下文中的含义相一致的含义，而不应用理想化或极度形式化的意义来解释，除非这里明确地这样定义。
[0022]对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。
[0023]本专利技术实施例公开了一种光学检测治具100，应用于电子设备200的顶角201检测。该电子设备200可以是指智能手机、智能平板电脑、笔记本电脑、PC（Personal Computer，个人电脑）等等不同的电子设备200，对于电子设备200具体是什么样的设备本专利技术不做限制，只要电子设备200在加工生产过程中存在需要待检测的顶角201即可。上述顶角201可理解为电子设备200的壳体上两个相邻侧边的相交处，该顶角201在加工生产的过程中需要检测其加工精度是否符合要求，本申请光学检测治具100可在加工电子设备200后，对电子设备200的顶角201的加工精度进行检测。
[0024]进一步地，如图1至图4所示，光本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学检测治具，其特征在于，应用于电子设备的顶角检测，所述光学检测治具包括支架，还包括：承载件，其设于所述支架上，所述承载件包括用于承载所述电子设备的承载面以及位于所述承载面相对两侧的托板，所述承载面的下方具有透光区域，所述托板用于配合承托所述电子设备的相邻侧边，使得所述电子设备的顶角对应于所述透光区域；发光件，其设于所述承载件的与承载面相背的侧面上，所述发光件用于向所述电子设备的顶角发光；成像板，其设于所述承载件背向所述发光件的一侧，所述成像板用于呈现经所述发光件向所述电子设备的顶角发光所投射的光影图像，且所述成像板上标有用于检测所述光影图像的预设检测区域。2.根据权利要求1所述的光学检测治具，其特征在于，所述发光件以可转动地方式设于所述承载件上。3.根据权利要求1所述的光学检测治具，其特征在于，所述承载件枢转地设于所述支架上。4.根据权利要求3所述的光学检测治具，其特征在于，所述支架包括底座和设于所述底座上的活动架，所述底座上设有滑槽，所述活动架的一端滑动设于所述滑槽内，并与所述底座...

【专利技术属性】
技术研发人员：邱永山，马泽刚，
申请(专利权)人：合肥联宝信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：