用于检测缺陷位置的方法及装置、电子设备、存储介质制造方法及图纸

本申请涉及无损检测技术领域，公开一种用于检测缺陷位置的方法，待检测部位处设置有声发射源和多个声发射传感器；声发射传感器用于发射声信号，声发射传感器用于接收声发射源发射的声信号，该方法包括：获取声信号，获取声信号的到达时间和波速信息。根据到达时间和波速信息确定待检测部位的缺陷位置。这样，通过在待检测部位处设置声发射源和多个声发射传感器，由于声信号在结构缺陷时波速会发生显著变化。通过发射声信号在待检测部位中传播，根据声信号的到达时间和波速信息确定缺陷位置的方式相较于人工观察的方式更准确，实现了无损检测，同时提高了缺陷位置的检测准确性。本申请还公开一种用于检测缺陷位置的装置及电子设备、存储介质。存储介质。存储介质。

【技术实现步骤摘要】
用于检测缺陷位置的方法及装置、电子设备、存储介质


[0001]本申请涉及无损检测
，例如涉及一种用于检测缺陷位置的方法及装置、电子设备、存储介质。

技术介绍

[0002]目前，在家电产业至于冰箱产业，对结构件例如注塑件、钣金件、发泡料等和整机结构的潜在缺陷的判断和定位没有很好的方式。而冰箱在出厂前还会进行出厂检测，此时冰箱内部的结构是已经装配好的结构。
[0003]在实现本公开实施例的过程中，发现相关技术中至少存在如下问题：
[0004]相关技术中在检测冰箱的结构缺陷时，通常需要对已经装配好的结构进行拆机甚至剖开结构件等破坏性方式，并依赖经验丰富的研发工程师和产线工人通过人工观察来判断缺陷是否存在和缺陷位置。而且人工观察的方式精度低误差大，难以准确判断缺陷是否存在和缺陷位置。难以实现无损检测的同时，提高缺陷位置的检测准确性。
[0005]以上的总体描述和下文中的描述仅是示例性和解释性的，不用于限制本申请。

技术实现思路

[0006]为了对披露的实施例的一些方面有基本的理解，下面给出了简单的概括。所述概括不是泛泛评述，也不是要确定关键/重要组成元素或描绘这些实施例的保护范围，而是作为后面的详细说明的序言。
[0007]本公开实施例提供了一种用于检测缺陷位置的方法及装置、电子设备、存储介质，以能够实现无损检测的同时，提高缺陷位置的检测准确性。
[0008]在一些实施例中，所述用于检测缺陷位置的方法，待检测部位处设置有声发射源和多个声发射传感器；所述声发射传感器用于发射声信号，所述声发射传感器用于接收声发射源发射的声信号，所述方法包括：获取声信号，获取所述声信号的到达时间和波速信息，根据所述到达时间和所述波速信息确定所述待检测部位的缺陷位置。
[0009]在一些实施例中，所述获取声信号，包括：接收待处理声信号，对所述待处理声信号进行滤波处理获得声信号。
[0010]在一些实施例中，所述声发射传感器包括第一传感器和第二传感器，所述第一传感器设置在所述待检测部位的一端，所述第二传感器设置在所述待检测部位的另一端；获取所述声信号的到达时间，包括：将所述第一传感器接收到声信号的第一到达时间和所述第二传感器接收到声信号的第二到达时间确定为所述声信号的到达时间。
[0011]在一些实施例中，所述声信号由横波和纵波组成，所述波速信息包括横波波速和纵波波速，获取所述声信号的波速信息，包括：获取所述待检测部位的材料信息和所述声信号的类型信息。从预设的波速信息数据库中匹配出与所述材料信息和所述类型信息共同对应的波速信息；所述波速信息数据库中存储有材料信息、类型信息和波速信息三者之间的对应关系。
[0012]在一些实施例中，所述声信号由横波和纵波组成，所述波速信息包括横波波速和纵波波速，获取所述声信号的波速信息，包括：获取所述第一传感器与所述第二传感器之间的安装距离，获取所述第二到达时间和所述第一到达时间之间的时间差，根据所述安装距离和所述时间差获取波速信息。
[0013]在一些实施例中，根据所述到达时间和所述波速信息确定所述待检测部位的缺陷位置，包括：获取所述声信号在所述待检测部位传播的波形图。根据所述波形图确定所述待检测部位是否存在缺陷。在所述待检测部位存在缺陷的情况下，根据所述到达时间和所述波速信息确定所述待检测部位的缺陷位置。
[0014]在一些实施例中，所述波速信息包括横波波速和纵波波速，根据所述到达时间和所述波速信息确定所述待检测部位的缺陷位置，包括：获取所述第二到达时间和所述第一到达时间之间的时间差。根据所述时间差、所述横波波速和所述纵波波速获取所述第二传感器与缺陷边缘尾部之间的距离。将所述第二传感器与缺陷边缘尾部之间的距离确定为所述待检测部位的缺陷位置。
[0015]在一些实施例中，所述用于检测缺陷位置的装置包括：处理器和存储有程序指令的存储器，所述处理器被配置为在执行所述程序指令时，执行上述用于检测缺陷位置的方法。
[0016]在一些实施例中，所述电子设备包括：电子设备本体；如上述的用于检测缺陷位置的装置，被安装于所述电子设备本体。
[0017]在一些实施例中，所述存储介质存储有程序指令，所述程序指令在运行时，执行上述的用于检测缺陷位置的方法。
[0018]本公开实施例提供的用于检测缺陷位置的方法及装置、电子设备、存储介质，可以实现以下技术效果：通过获取声信号，获取声信号的到达时间和波速信息。根据到达时间和波速信息确定待检测部位的缺陷位置。这样，通过在待检测部位处设置声发射源和多个声发射传感器，由于声信号在结构缺陷时波速会发生显著变化。通过发射声信号在待检测部位中传播，根据声信号的到达时间和波速信息确定缺陷位置的方式相较于人工观察的方式更准确，也不需要进行结构拆解。实现无损检测的同时，提高了缺陷位置的检测准确性。
[0019]以上的总体描述和下文中的描述仅是示例性和解释性的，不用于限制本申请。
附图说明
[0020]一个或多个实施例通过与之对应的附图进行示例性说明，这些示例性说明和附图并不构成对实施例的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件示为类似的元件，附图不构成比例限制，并且其中：
[0021]图1是本公开实施例提供的一个用于检测缺陷位置的方法的示意图；
[0022]图2是本公开实施例提供的一个应用示意图；
[0023]图3是本公开实施例提供的另一个应用示意图；
[0024]图4是本公开实施例提供的一个经过滤波处理后的第一传感器的声信号波形示意图；
[0025]图5是本公开实施例提供的一个经过滤波处理后的第二传感器的声信号波形示意图；
[0026]图6是本公开实施例提供的一个经过不同大小缺陷的声信号波形对比示意图；
[0027]图7是本公开实施例提供的一个用于检测缺陷位置的装置的示意图。
[0028]附图标记：1：第一传感器；2：第二传感器；3：缺陷；4：声发射源；5：待检测部位；6：缺陷边缘尾部。
具体实施方式
[0029]为了能够更加详尽地了解本公开实施例的特点与
技术实现思路
，下面结合附图对本公开实施例的实现进行详细阐述，所附附图仅供参考说明之用，并非用来限定本公开实施例。在以下的技术描述中，为方便解释起见，通过多个细节以提供对所披露实施例的充分理解。然而，在没有这些细节的情况下，一个或多个实施例仍然可以实施。在其它情况下，为简化附图，熟知的结构和装置可以简化展示。
[0030]本公开实施例的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本公开实施例的实施例。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。
[0031]除非另有说明，术语“多个”表示两个或两个以上。
[0032]本公开实施例中，字符“/”表示前后对象是一种“或”的关系。例如本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于检测缺陷位置的方法，其特征在于，待检测部位处设置有声发射源和多个声发射传感器；所述声发射传感器用于发射声信号，所述声发射传感器用于接收声发射源发射的声信号，所述方法包括：获取声信号；获取所述声信号的到达时间和波速信息；根据所述到达时间和所述波速信息确定所述待检测部位的缺陷位置。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取声信号，包括：接收待处理声信号；对所述待处理声信号进行滤波处理获得声信号。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述声发射传感器包括第一传感器和第二传感器，所述第一传感器设置在所述待检测部位的一端，所述第二传感器设置在所述待检测部位的另一端；获取所述声信号的到达时间，包括：将所述第一传感器接收到声信号的第一到达时间和所述第二传感器接收到声信号的第二到达时间确定为所述声信号的到达时间。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述声信号由横波和纵波组成，所述波速信息包括横波波速和纵波波速，获取所述声信号的波速信息，包括：获取所述待检测部位的材料信息和所述声信号的类型信息；从预设的波速信息数据库中匹配出与所述材料信息和所述类型信息共同对应的波速信息；所述波速信息数据库中存储有材料信息、类型信息和波速信息三者之间的对应关系。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述声信号由横波和纵波组成，所述波速信息包括横波波速和纵波波速，获取所述声信号的波速信息，包括：获取所述第一传...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡彦坤，王世超，张存瑞，
申请(专利权)人：青岛海尔智能技术研发有限公司海尔智家股份有限公司，
类型：发明
国别省市：