三维扫描设备制造技术

一种三维扫描设备，包括：发光单元，所述发光单元适宜于形成出射光，所述出射光为线偏振光；所述出射光扫描待成像物体形成回波光；检偏单元，所述检偏单元根据所述出射光的偏振方向对所述回波光进行检偏，形成成像光；成像单元，所述成像单元适宜于采集所述成像光。所述检偏单元的检偏是以所述出射光的偏振方向为基础的，所述检偏单元对所述回波光进行检偏的过程中，能够去除所述回波光中，大量的杂散光，特别是扫描所述待成像物体过程中退偏现象所形成的杂散光，通过选择性的过滤反射中的杂散光，能够有效抑制成像光中的噪声，能够有效改善信噪比，有利于亮暗区域反差的提高，有利于图像质量的改善。图像质量的改善。图像质量的改善。

【技术实现步骤摘要】
三维扫描设备


[0001]本技术涉及三维成像领域，特别涉及一种三维扫描设备。

技术介绍

[0002]为求成像品质的提高，而且更精确的成像效果，一个三维立体的物体的整体信息或专业相关数据，最好是能以三维扫描的方式获得，得到一清晰的三维图像。
[0003]采用三维扫描技术，使得对物体进行照相测量，三维扫描技术的可三维展示性，可展示在社会生活中的方方面面，基于扫描技术的发展，可以运用软件对物体结构进行多方位扫描，从而建立物体的三维数字模型。
[0004]但是，现有的三维扫描设备所获得的图像中，亮暗区域的反差不足，图像质量不高。

技术实现思路

[0005]本技术解决的问题是如何提高三维扫描设备所获得图像的亮暗区域的反差，提高图像质量。
[0006]为解决上述问题，本技术提供一种三维扫描设备，包括：
[0007]发光单元，所述发光单元适宜于形成出射光，所述出射光为线偏振光；所述出射光扫描待成像物体形成回波光；检偏单元，所述检偏单元根据所述出射光的偏振方向对所述回波光进行检偏，形成成像光；成像单元，所述成像单元适宜于采集所述成像光。
[0008]可选的，所述检偏单元的检偏方向与所述出射光的偏振方向平行。
[0009]可选的，所述成像光的偏振方向与所述出射光的偏振方向平行。
[0010]可选的，所述检偏单元包括：线偏振片。
[0011]可选的，所述发光单元中的光源为非偏振光源；所述发光单元还包括：线偏振片。
[0012]可选的，所述光源产生的初始光透射线偏振片形成所述出射光；所述回波光透射线偏振片形成所述成像光；所述回波光和所述初始光透射同一线偏振片。
[0013]可选的，所述检偏单元包括：线偏振片，所述检偏单元中的线偏振片和所述发光单元中的线偏振片为同一线偏振片。
[0014]可选的，还包括：三色灯；所述线偏振片上具有开窗；所述开窗的位置与所述三色灯的位置相对应。
[0015]可选的，所述发光单元的光源为发光二极管光源和激光光源中的一种。
[0016]可选的，所述发光单元的光源为激光光源，所述出射光为单模激光。
[0017]可选的，所述发光单元还包括：聚焦透镜、偏折镜、棱镜、数字微镜元件和透射透镜；所述聚焦透镜、所述偏折镜、所述棱镜、所述数字微镜元件和所述透射透镜依次位于所述光源所产生光线的光路上。
[0018]与现有技术相比，本技术的技术方案具有以下优点：
[0019]本技术技术方案中，所述发光单元产生的出射光为偏振光，利用偏振光扫描
待成像物体以形成回波光，所述检偏单元基于所述出射光的偏振方向对所述回波光进行检偏形成成像光以进行成像。所述检偏单元的检偏是以所述出射光的偏振方向为基础的，所述检偏单元对所述回波光进行检偏的过程中，能够去除所述回波光中，大量的杂散光，特别是扫描所述待成像物体过程中退偏现象所形成的杂散光，通过选择性的过滤反射中的杂散光，能够有效抑制成像光中的噪声，能够有效改善信噪比，有利于亮暗区域反差的提高，有利于图像质量的改善。
[0020]本技术可选方案中，所述发光单元和所述检偏单元均包括线偏振片，而且所述发光单元中的线偏振片和所述检偏单元中的线偏振片为同一线偏振片。利用同一线偏振片起偏和检偏，能够有效保证出射光和成像光偏振方向的一致性，减少装配误差，降低装配难度，有利于图像对比度效果的提升。
附图说明
[0021]图1是本技术三维扫描设备一实施例的功能框图；
[0022]图2是图1所示三维扫描设备实施例的结构示意图；
[0023]图3是图1所示三维扫描设备实施例中所述偏振片沿A方向的结构示意图；
[0024]图4是本技术三维扫描设备另一实施例的结构示意图。
具体实施方式
[0025]由
技术介绍
可知，现有技术中，三维扫描设备所获得图像的亮暗区域的反差较弱，图像质量较差。
[0026]利用偏振光扫描待成像物体形成回波光的过程中，会出现退偏振现象，即部分光的偏振性质被改变，所述回波光不仅包括用于进行成像的光信号，还包括大量不需要的杂散光信号；杂散光信号的存在，严重影响了所获得图像的亮暗区域反差，影响了图像质量。
[0027]为解决所述技术问题，本技术提供一种三维扫描设备，所述检偏单元的检偏是以所述出射光的偏振方向为基础的，所述检偏单元对所述回波光进行检偏的过程中，能够去除所述回波光中，大量的杂散光，特别是扫描所述待成像物体过程中退偏现象所形成的杂散光，能够有效抑制成像光中的噪声，能够有效改善信噪比，有利于亮暗区域反差的提高，有利于图像质量的改善。
[0028]为使本技术的上述目的、特征和优点能够更为明显易懂，下面结合附图对本技术的具体实施例做详细的说明。
[0029]参考图1，示出了本技术三维扫描设备一实施例的功能框图。
[0030]所述三维扫描设备包括：发光单元110，所述发光单元110适宜于形成出射光110a，所述出射光110a为线偏振光；所述出射光110a扫描待成像物体101形成回波光101a；检偏单元120，所述检偏单元120根据所述出射光110a的偏振方向对所述回波光101a进行检偏，形成成像光120a；成像单元130，所述成像单元130适宜于采集所述成像光120a。
[0031]下面结合附图详细说明所述三维扫描设备实施例的具体技术方案。
[0032]结合参考图2，示出图1所示三维扫描设备实施例的结构示意图。
[0033]所述发光单元110适宜于形成出射光110a以进行三维扫描。具体的，所述发光单元110包括光源111以产生初始光110b。
[0034]本技术一些实施例中，所述发光单元110中的光源111为非偏振光源。非偏振光源所产生的光线为非偏振光，即所述初始光110b为非偏振光。所述发光单元110还包括：线偏振片121。所述线偏振片121适宜于构成起偏器，使光线起偏，形成所述出射光110a。具体如图2所示，所述光源111产生的初始光110b透射线偏振片121形成所述出射光110a。
[0035]具体如图2所示实施例中，所述发光单元110的光源111为发光二极管光源，即所述光源111包括至少1个发光二极管。
[0036]需要说明的是，本技术一些实施例中，所述发光单元110还包括：聚焦透镜112、偏折镜113、棱镜114a、棱镜114b、数字微镜元件115和透射透镜116；所述聚焦透镜112、所述偏折镜113、所述棱镜114a、所述棱镜114b、所述数字微镜元件115和所述透射透镜116依次位于所述光源111所产生光线的光路上。
[0037]如图2所示，所述光源111所产生的初始光110b经所述聚焦透镜112传输后，投射至所述偏折镜113；所述偏折镜113将所述初始光110b反射至包括棱镜114a和棱镜114b的棱镜组114；所述初始光110b透射所述棱镜114a和所述棱本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种三维扫描设备，其特征在于，包括：发光单元，所述发光单元适宜于形成出射光，所述出射光为线偏振光；所述出射光扫描待成像物体形成回波光；检偏单元，所述检偏单元根据所述出射光的偏振方向对所述回波光进行检偏，形成成像光；成像单元，所述成像单元适宜于采集所述成像光。2.如权利要求1所述的三维扫描设备，其特征在于，所述检偏单元的检偏方向与所述出射光的偏振方向平行。3.如权利要求1所述的三维扫描设备，其特征在于，所述成像光的偏振方向与所述出射光的偏振方向平行。4.如权利要求1～3中任一项所述的三维扫描设备，其特征在于，所述检偏单元包括：线偏振片。5.如权利要求1所述的三维扫描设备，其特征在于，所述发光单元中的光源为非偏振光源；所述发光单元还包括：线偏振片。6.如权利要求5所述的三维扫描设备，其特征在于，所述光源产生的初始光透射线偏振片形成所述出射光；所述回波光透射线偏振片形成...

【专利技术属性】
技术研发人员：施赛华，凌严，
申请(专利权)人：上海箩箕技术有限公司，
类型：新型
国别省市：