一种检测电路及显示装置，显示装置包括显示模块、检测电路及处理模块。显示模块包括多个串联连接的发光二极管构成的至少一个灯串。检测电路包括差动放大器及第一电容。差动放大器接收灯串内的检测电压和参考电压，比较检测电压与参考电压和电源电压的大小，并根据比较结果输出不同的输出电压，以指示灯串内是否存在异常。参考电压小于电源电压。在检测电压小于等于电源电压且大于等于参考电压时，输出电压等于电源电压，指示灯串存在异常。在检测电压小于参考电压时，输出电压小于电源电压，指示灯串正常。第一电容用于在显示模块工作时根据检测电压充电以提供检测电压给差动放大器。采用简单电路结构的检测电路降低了生产成本。采用简单电路结构的检测电路降低了生产成本。采用简单电路结构的检测电路降低了生产成本。
【技术实现步骤摘要】
检测电路及显示装置
[0001]本专利技术涉及显示
，特别是涉及一种检测电路及显示装置。
技术介绍
[0002]由于半导体发光技术的突飞猛进，发光二极管(Light emitting diode,LED)被广泛应用在显示装置中。多个LED可以形成多个灯串，并在驱动电压的驱动下被点亮，以实现显示功能。为了保证显示装置的显示效果，需要检测电路对灯串的电压状况进行检测，以及时发现灯串的异常，例如短路、开路。随着显示技术的发展，在具有高画面细致度、高对比度以及具有调光能力的显示装置中，灯串的数量非常多，使得对应的检测电路的数量也随之增多。因此，如何提供一种简单检测线路，以降低显示设备的生产成本。
技术实现思路
[0003]本专利技术的主要目的是提供一种检测电路及显示装置，旨在解决现有技术中如何提供一种简单且低成本的检测电路实现灯串电压异常检测的问题。
[0004]一种检测电路，应用于显示装置中；所述显示装置包括显示模块以及处理模块；所述显示模块包括有多个串联连接的发光二极管构成的至少一个灯串；所述检测电路用于获取所述灯串内的检测电压，并根据不同的所述检测电压输出对应的输出电压给所述处理模块，以指示所述灯串内是否存在异常；所述检测电路包括：
[0005]差动放大器，接收所述检测电压和参考电压，比较所述检测电压与所述参考电压和电源电压的大小，并根据比较结果输出不同的输出电压给所述处理模块；其中，所述参考电压小于所述电源电压；在所述检测电压小于等于所述电源电压且大于等于所述参考电压时，所述输出电压等于所述电源电压，指示所述灯串存在异常；在所述检测电压小于所述参考电压时，所述输出电压小于所述电源电压，指示所述灯串正常；及
[0006]第一电容，用于在所述显示模块工作时根据所述检测电压进行充电以提供所述检测电压给所述差动放大器。
[0007]此外，为了实现上述目的，本专利技术还提出一种显示装置，包括显示模块、驱动模块、至少一个检测电路以及处理模块；所述显示模块包括由多个串联连接的发光二极管构成的至少一个灯串；所述驱动模块用于提供所述驱动电压给所述显示模块，以使得所述灯串根据所述驱动电压被点亮；所述检测电路用于获取所述灯串内的检测电压，并根据不同的所述检测电压输出对应的输出电压给所述处理模块，以指示所述灯串内是否存在异常；所述检测电路包括：
[0008]差动放大器，接收所述检测电压和参考电压，比较所述检测电压与所述参考电压和电源电压的大小，并根据比较结果输出不同的输出电压给所述处理模块；其中，所述参考电压小于所述电源电压；在所述检测电压小于等于所述电源电压且大于等于所述参考电压时，所述输出电压等于所述电源电压，指示所述灯串存在异常；在所述检测电压小于所述参考电压时，所述输出电压小于所述电源电压，指示所述灯串正常；及
[0009]第一电容，用于在所述显示模块工作时根据所述检测电压进行充电以提供所述检测电压给所述差动放大器。
[0010]上述检测电路及显示装置，通过采用差分放大器、多个电阻以及电容构成简单的检测电路，直接实现对所述灯串的异常进行检测，通过检测电路的输出电压识别对应所述灯串内是否存在异常，相较于采用集成电路的检测电路，降低了所述检测电路的复杂程度以及生产成本。进一步地，在具有多条所述灯串时，所述显示装置的生产成本进一步降低。
附图说明
[0011]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
[0012]图1为本专利技术较佳实施方式的显示装置的模块示意图。
[0013]图2为图1中所述显示模块以及检测电路的电路示意图。
[0014]主要元件符号说明
[0015]显示装置
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ1[0016]显示模块
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
10
[0017]灯串
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
11
[0018]发光二极管
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
D1
‑
Dn
[0019]驱动模块
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
20
[0020]检测电路
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
30
[0021]差动放大器
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
31
[0022]第一电阻
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
R1
[0023]第一电容
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
C1
[0024]第二电阻
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
R2
[0025]第一输入端
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
Vin1
[0026]第二输入端
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
Vin2
[0027]电源端
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
VCC
[0028]输出端
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
Vout
[0029]第一分压电阻
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
R3
[0030]第二分压电阻
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
R4
[0031]第三分压电阻
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
R5
[0032]第一晶体管
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
Q1
[0033]第二晶体管
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
Q2
[0034]如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本专利技术。
具体实施方式
[0035]为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是
本专利技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术保护的范围。
[0036]本专利技术的说明书及上述附图中的术语“第一”、“第二”和“第三”等是用于区别不同对象，而非用于描述特定顺序。此外，术语“包括”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。
[0037]除非另有定义，本本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种检测电路，应用于显示装置中；所述显示装置包括显示模块以及处理模块；所述显示模块包括由多个串联连接的发光二极管构成的至少一个灯串；其特征在于：所述检测电路用于获取所述灯串内的检测电压，并根据不同的所述检测电压输出对应的输出电压给所述处理模块，以指示所述灯串内是否存在异常；所述检测电路包括：差动放大器，接收所述检测电压和参考电压，比较所述检测电压与所述参考电压和电源电压的大小，并根据比较结果输出不同的输出电压给所述处理模块；其中，所述参考电压小于所述电源电压；在所述检测电压小于等于所述电源电压且大于等于所述参考电压时，所述输出电压等于所述电源电压，指示所述灯串存在异常；在所述检测电压小于所述参考电压时，所述输出电压小于所述电源电压，指示所述灯串正常；及第一电容，用于在所述显示模块工作时根据所述检测电压进行充电以提供所述检测电压给所述差动放大器。2.如权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述差动放大器包括第一晶体管、第二晶体管、第一分压电阻、第二分压电阻以及第三分压电阻；所述第一晶体管的控制端与所述第一电阻电性连接，且作为所述差动放大器的第一输入端；所述第一晶体管的第一连接端通过所述第一分压电阻接收所述电源电压；所述第一晶体管的第二连极端通过所述第三分压电阻接地；所述第二晶体管的控制端接收所述参考电压，且作为所述差动放大器的第二输入端；所述第二晶体管的第一连接端通过所述第二分压电阻接收所述电源电压；所述第二晶体管的第二连接端通过所述第三分压电阻接地；所述差分放大器的输出端电性连接在所述第二分压电阻和所述第二晶体管的第一连接端之间。3.如权利要求2所述的检测电路，其特征在于，在所述检测电压小于等于所述电源电压且大于等于所述参考电压时，所述第一晶体管截止，所述第二晶体管导通，所述输出端的电压为所述电源电压在所述第二分压电阻上的分压。4.如权利要求2所述的检测电路，其特征在于，在所述检测电压小于所述参考电压时，所述第一晶体管导通，所述第二晶体管截止，所述输出端的电压为所述电源电压。5.如权利要求2所述的检测电路，其特征在于，所述检测电路还包括第一电阻以及第二电阻；所述第一电阻电连接在所述第一输入端和所述灯串之间；所述第二电阻的一端电性连接在所述第一电阻和所述第一输入端之间，另一端接地；所述第一电容的一端电性连接在所述第一电阻和所述第一输入端之间，另一端接地。6.一种显示装置，包括显示模块、驱动模块、至少一个检测电路以及处理模块；所...
【专利技术属性】
技术研发人员：吴弘智，
申请(专利权)人：业成光电深圳有限公司英特盛科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。