一种设备数据校验方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术涉及数据处理领域，公开了一种设备数据校验方法、装置、设备及存储介质，用于实现可配置的规则进行设备端生产数据校验并实现设备与生产系统互通互联。方法包括：对每个目标设备的设备信息进行信息校验，得到设备信息校验结果；若信息配置正确，则根据第一校验逻辑对每个目标设备的设备生产数据进行点位参数校验，得到点位参数校验结果，并根据点位参数校验结果判断是否允许目标设备进行生产参数下发；若允许生产参数下发，则根据设备生产数据和第二校验逻辑匹配至少一个目标校验规则；根据至少一个目标校验规则和校验过站存储策略生成校验过站存储流程信息，并对设备生产数据进行归档存储。数据进行归档存储。数据进行归档存储。

【技术实现步骤摘要】
一种设备数据校验方法、装置、设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及数据处理领域，尤其涉及一种设备数据校验方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]目前很多MES系统生产过站需要使用机边电脑或外置设备实现生成扫码过站，并且生产过程混批混料、生产参数无法校验控制，且数据追溯无法完成强关联，不能保证生产数据与生产产品一致，打通生产系统与设备交互感知的最后一层壁垒。设备数据校验对于保障生产效率和质量至关重要。该方法旨在通过预设参数和规则来对设备进行全面的校验，从而确保设备生成的数据准确无误。其研究背景是基于制造业中数据安全和数据可靠性的重要性，目的是为了提高设备生产数据的精确性和生产效率。
[0003]然而，现有的技术存在一些不足，比如在大规模设备数据的处理方面，速度还不够快；在校验规则设计方面，还需进一步优化和扩展；另外，该方法对设备硬件的要求也相对较高，对设备的稳定性和操作性也有一定要求，需要针对不同类型的设备进行不同的参数和规则配置。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供了一种设备数据校验方法、装置、设备及存储介质，用于实现可配置的规则进行设备端生产数据校验并实现设备与生产系统互通互联。
[0005]本专利技术第一方面提供了一种设备数据校验方法，所述设备数据校验方法包括：通过预置的上位机进行点位参数和校验规则配置，得到点位参数集合以及校验规则集合，并在预置的扫码服务器中部署目标扫码服务；根据所述目标扫码服务与所述点位参数集合构建第一校验逻辑，以及根据所述目标扫码服务与所述校验规则集合构建第二校验逻辑；获取多个目标设备的设备信息以及设备生产数据，并对每个目标设备的设备信息进行信息校验，得到每个目标设备的设备信息校验结果，其中，所述设备信息校验结果用于指示目标设备是否信息配置正确；若信息配置正确，则根据所述第一校验逻辑对每个目标设备的设备生产数据进行点位参数校验，得到每个目标设备的点位参数校验结果，并根据每个目标设备的点位参数校验结果判断是否允许目标设备进行生产参数下发；若允许生产参数下发，则根据每个目标设备的设备生产数据和所述第二校验逻辑，从所述校验规则集合中匹配每个目标设备的至少一个目标校验规则；根据所述至少一个目标校验规则和校验过站存储策略生成每个目标设备的校验过站存储流程信息，并根据所述校验过站存储流程信息分别对每个目标设备的设备生产数据进行归档存储。
[0006]结合第一方面，在本专利技术第一方面的第一实施方式中，所述通过预置的上位机进
行点位参数和校验规则配置，得到点位参数集合以及校验规则集合，并在预置的扫码服务器中部署目标扫码服务，包括：通过预置的上位机进行点位参数配置，得到点位参数集合，其中，所述点位参数集合包括：设备编号、加工批号、代加工批号、员工编号、校验信号点、设备参数点以及校验信息；通过预置的上位机进行校验规则配置，得到校验规则集合，其中，所述校验规则集合包括：代加工批号校验、加工批号校验、员工编号校验以及加工完成校验；将所述点位参数集合以及所述校验规则集合存储在预置的扫码服务器，并在所述扫码服务器中部署目标扫码服务，其中所述目标扫码服务用于实现设备扫描二维码连接到扫码服务器获取参数和规则。
[0007]结合第一方面，在本专利技术第一方面的第二实施方式中，所述根据所述目标扫码服务与所述点位参数集合构建第一校验逻辑，以及根据所述目标扫码服务与所述校验规则集合构建第二校验逻辑，包括：根据所述目标扫码服务对所述点位参数集合进行数据格式检查节点配置，得到多个数据格式检查节点；根据所述多个数据格式检查节点，构建所述目标扫码服务与所述点位参数集合对应的第一校验逻辑；根据所述目标扫码服务对所述校验规则集合进行业务逻辑规则配置，得到多个业务逻辑规则；根据所述多个业务逻辑规则，构建所述目标扫码服务与所述点位参数集合对应的第二校验逻辑。
[0008]结合第一方面，在本专利技术第一方面的第三实施方式中，所述获取多个目标设备的设备信息以及设备生产数据，并对每个目标设备的设备信息进行信息校验，得到每个目标设备的设备信息校验结果，包括：调用预置的设备管理工具，获取多个目标设备的设备信息以及设备生产数据；获取每个目标设备的设备类型以及功能特性，并根据所述设备类型以及所述功能特性生成设备信息校验规则；根据所述设备信息校验规则，分别对每个目标设备的设备信息进行信息校验，得到每个目标设备的设备信息校验结果，其中，所述设备信息校验结果用于指示目标设备是否信息配置正确。
[0009]结合第一方面，在本专利技术第一方面的第四实施方式中，所述若信息配置正确，则根据所述第一校验逻辑对每个目标设备的设备生产数据进行点位参数校验，得到每个目标设备的点位参数校验结果，并根据每个目标设备的点位参数校验结果判断是否允许目标设备进行生产参数下发，包括：若信息配置正确，则根据所述第一校验逻辑对每个目标设备的设备生产数据进行数据格式校验，得到第一校验结果；对每个目标设备的设备生产数据进行数据有效性校验，得到第二校验结果；对每个目标设备的设备生产数据进行数据范围校验，得到第三校验结果；对所述第一校验结果、所述第二校验结果以及所述第三校验结果进行结果融合，
得到每个目标设备的点位参数校验结果；根据每个目标设备的点位参数校验结果判断是否允许目标设备进行生产参数下发。
[0010]结合第一方面，在本专利技术第一方面的第五实施方式中，所述若允许生产参数下发，则根据每个目标设备的设备生产数据和所述第二校验逻辑，从所述校验规则集合中匹配每个目标设备的至少一个目标校验规则，包括：若允许生产参数下发，则根据每个目标设备的设备生产数据和所述第二校验逻辑，从所述校验规则集合中匹配多个候选校验规则；对所述多个候选校验规则进行匹配度计算，得到每个候选校验规则的目标匹配度；根据每个候选校验规则的目标匹配度，对所述多个候选校验规则进行规则筛选，得到每个目标设备的至少一个目标校验规则。
[0011]结合第一方面，在本专利技术第一方面的第六实施方式中，所述根据所述至少一个目标校验规则和校验过站存储策略生成每个目标设备的校验过站存储流程信息，并根据所述校验过站存储流程信息分别对每个目标设备的设备生产数据进行归档存储，包括：基于所述至少一个目标校验规则选择校验过站存储策略，其中，所述校验过站存储策略包括：数据库；根据所述校验过站存储策略生成每个目标设备的校验过站存储流程信息，其中，所述校验过站存储流程信息包括：数据存储方式以及数据所属类别；根据所述校验过站存储流程信息分别对每个目标设备的设备生产数据进行归档存储。
[0012]本专利技术第二方面提供了一种设备数据校验装置，所述设备数据校验装置包括：配置模块，用于通过预置的上位机进行点位参数和校验规则配置，得到点位参数集合以及校验规则集合，并在预置的扫码服务器中部署目标扫码服务；构建模块，用于根据所述目标扫码服务与所述点位参数集合构建第一校验逻辑，以及根据所述目标扫码服务与所述校验规则集合构建第二校验逻辑；信息校验模块，用于获取多个目标设备的设备信息以及设备生产数据，并对每个目标设备的设备信息进行信息本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种设备数据校验方法，其特征在于，所述设备数据校验方法包括：通过预置的上位机进行点位参数和校验规则配置，得到点位参数集合以及校验规则集合，并在预置的扫码服务器中部署目标扫码服务；根据所述目标扫码服务与所述点位参数集合构建第一校验逻辑，以及根据所述目标扫码服务与所述校验规则集合构建第二校验逻辑；获取多个目标设备的设备信息以及设备生产数据，并对每个目标设备的设备信息进行信息校验，得到每个目标设备的设备信息校验结果，其中，所述设备信息校验结果用于指示目标设备是否信息配置正确；若信息配置正确，则根据所述第一校验逻辑对每个目标设备的设备生产数据进行点位参数校验，得到每个目标设备的点位参数校验结果，并根据每个目标设备的点位参数校验结果判断是否允许目标设备进行生产参数下发；若允许生产参数下发，则根据每个目标设备的设备生产数据和所述第二校验逻辑，从所述校验规则集合中匹配每个目标设备的至少一个目标校验规则；根据所述至少一个目标校验规则和校验过站存储策略生成每个目标设备的校验过站存储流程信息，并根据所述校验过站存储流程信息分别对每个目标设备的设备生产数据进行归档存储。2.根据权利要求1所述的设备数据校验方法，其特征在于，所述通过预置的上位机进行点位参数和校验规则配置，得到点位参数集合以及校验规则集合，并在预置的扫码服务器中部署目标扫码服务，包括：通过预置的上位机进行点位参数配置，得到点位参数集合，其中，所述点位参数集合包括：设备编号、加工批号、代加工批号、员工编号、校验信号点、设备参数点以及校验信息；通过预置的上位机进行校验规则配置，得到校验规则集合，其中，所述校验规则集合包括：代加工批号校验、加工批号校验、员工编号校验以及加工完成校验；将所述点位参数集合以及所述校验规则集合存储在预置的扫码服务器，并在所述扫码服务器中部署目标扫码服务，其中所述目标扫码服务用于实现设备扫描二维码连接到扫码服务器获取参数和规则。3.根据权利要求1所述的设备数据校验方法，其特征在于，所述根据所述目标扫码服务与所述点位参数集合构建第一校验逻辑，以及根据所述目标扫码服务与所述校验规则集合构建第二校验逻辑，包括：根据所述目标扫码服务对所述点位参数集合进行数据格式检查节点配置，得到多个数据格式检查节点；根据所述多个数据格式检查节点，构建所述目标扫码服务与所述点位参数集合对应的第一校验逻辑；根据所述目标扫码服务对所述校验规则集合进行业务逻辑规则配置，得到多个业务逻辑规则；根据所述多个业务逻辑规则，构建所述目标扫码服务与所述点位参数集合对应的第二校验逻辑。4.根据权利要求1所述的设备数据校验方法，其特征在于，所述获取多个目标设备的设备信息以及设备生产数据，并对每个目标设备的设备信息进行信息校验，得到每个目标设
备的设备信息校验结果，包括：调用预置的设备管理工具，获取多个目标设备的设备信息以及设备生产数据；获取每个目标设备的设备类型以及功能特性，并根据所述设备类型以及所述功能特性生成设备信息校验规则；根据所述设备信息校验规则，分别对每个目标设备的设备信息进行信息校验，得到每个目标设备的设备信息校验结果，其中，所述设备信息校验结果用于指示目标设备是否信息配置正确。5.根据权利要求1所述的设备数据校验方法，其特征在于，所述若信息配置正确，则根据所述第一校验逻辑对每个目标设备的设备生产数据进行点位参数校验，得到每个目标设备的点位参数校验结果，并根据每个目标设备的点位参数校验结果判断是否允许目标设备进行生产参数下发，包括：若信息配置正...

【专利技术属性】
技术研发人员：周成，夏冬冬，
申请(专利权)人：深圳市华磊迅拓科技有限公司，
类型：发明
国别省市：