物料的定位方法、用于码垛装置的控制方法及码垛系统制造方法及图纸

技术编号:38336065 阅读:16 留言:0更新日期:2023-08-02 09:16
本发明专利技术提供了一种物料的定位方法、用于码垛装置的控制方法及码垛系统,该定位方法包括:获取装载位在矩阵集中对应的位置信息,位置信息包括行数、列数及层数中的至少两者;确定矩阵集在预设坐标系的各坐标轴上的单位值;根据单位值和装载位的位置信息,获取装载位在预设坐标系中的坐标位置,定位物料时以该物料对应的装载位的坐标位置为目标位置。本发明专利技术可以准确地获取待取放物料的目标位置,从而可以实现在物料摆放位置不理想的情况下进行偏差补偿,进而可以实现物料的精准取放。进而可以实现物料的精准取放。进而可以实现物料的精准取放。

【技术实现步骤摘要】
物料的定位方法、用于码垛装置的控制方法及码垛系统


[0001]本专利技术涉及智能制造
,特别涉及一种物料的定位方法、用于码垛装置的控制方法、码垛系统、电子设备和可读存储介质。

技术介绍

[0002]产品在自动化装配的上下物料过程中,很多物料呈矩阵形式在载体上规则摆放。对于物料的取放,会涉及批量物料的定位以及码垛程序的使用。但实际使用中,载体的放置不可能完全横平竖直符合理想摆放位置,载体的摆放位置难免会存在一定角度的偏差。
[0003]例如,CGMs(连续血糖监测系统)产品组装所需的物料体积小、形状多样,取放精度要求较高。因此提供一种能够自动纠偏、自动补偿的批量定位和控制算法至关重要。
[0004]需要说明的是,公开于该专利技术
技术介绍
部分的信息仅仅旨在加深对本专利技术一般
技术介绍
的理解,而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域技术人员所公知的现有技术。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供一种物料的定位方法、用于码垛装置的控制方法、码垛系统、电子设备和可读存储介质,可以准确地获取待取放物料的目标位置,从而可以实现在物料摆放位置不理想的情况下进行偏差补偿,进而可以实现物料的精准取放。
[0006]为达到上述目的,本专利技术提供一种物料的定位方法,其涉及载体,所述载体包括矩阵集,所述矩阵集包括呈矩阵式排布的多个装载位,所述装载位用于承载所述物料,所述定位方法包括:
[0007]获取所述装载位在所述矩阵集中对应的位置信息,所述位置信息包括行数、列数及层数中的至少两者;
[0008]确定所述矩阵集在预设坐标系的各坐标轴上的单位值;
[0009]根据所述单位值和所述装载位的位置信息,获取所述装载位在所述预设坐标系中的坐标位置,定位物料时以该物料对应的装载位的坐标位置为目标位置。
[0010]可选的,所述确定所述矩阵集在预设坐标系的各坐标轴上的单位值,包括:
[0011]选取至少三个装载位作为基准位,所述基准位包括第一基准位、第二基准位和第三基准位,所述第一基准位与所述第三基准位的连线垂直于所述第二基准位与所述第三基准位的连线;
[0012]获取所述第一基准位、所述第二基准位和所述第三基准位在所述预设坐标系中的坐标位置;
[0013]根据各个所述基准位在所述预设坐标系中的坐标位置,确定所述矩阵集在所述预设坐标系的各坐标轴上的单位值。
[0014]可选的,所述第三基准位为所述矩阵集的各顶点中与所述预设坐标系的原点距离最近的装载位,所述第一基准位和所述第二基准位分别设置在所述矩阵集的边沿上。
[0015]可选的,当所述载体包括一层盘体时,所述选取至少三个装载位作为基准位,包括:
[0016]在所述载体中选取位于第1行第m列的所述装载位作为第一基准位;
[0017]在所述载体中选取位于第n行第1列的所述装载位作为第二基准位;
[0018]在所述载体中选取位于第1行第1列的所述装载位作为第三基准位;
[0019]其中,1<n≤N,1<m≤M,M为所述装载位的总列数,N为所述装载位的总行数。
[0020]可选的,当所述载体包括一层盘体时,所述确定所述矩阵集在所述预设坐标系的各坐标轴上的单位值,包括:
[0021]根据所述第一基准位和所述第三基准位在所述预设坐标系中的坐标位置,计算所述第一基准位在所述预设坐标系的各坐标轴上的单位值;
[0022]根据所述第二基准位和所述第三基准位在所述预设坐标系中的坐标位置,计算所述第二基准位在所述预设坐标系的各坐标轴上的单位值。
[0023]可选的,当所述载体包括一层盘体时,根据如下公式,计算所述第一基准位在所述预设坐标系的各坐标轴上的单位值:
[0024][0025]根据如下公式,计算所述第二基准位在所述预设坐标系的各坐标轴上的单位值:
[0026][0027]其中,X
B
表示所述第一基准位在所述预设坐标系的X轴上的单位值,Y
B
表示所述第一基准位在所述预设坐标系的Y轴上的单位值,X
D
表示所述第二基准位在所述预设坐标系的X轴上的单位值,Y
D
表示所述第二基准位在所述预设坐标系的Y轴上的单位值;X
M'
表示所述第一基准位在所述预设坐标系中的X坐标,Y
M'
表示所述第一基准位在所述预设坐标系中的Y坐标,X
N'
表示所述第二基准位在所述预设坐标系中的X坐标,Y
N'
表示所述第二基准位在所述预设坐标系中的Y坐标,X
A
表示所述第三基准位在所述预设坐标系中的X坐标,Y
A
表示所述第三基准位在所述预设坐标系中的Y坐标。
[0028]可选的,针对任一所述装载位,所述根据所述单位值和所述装载位的位置信息,获取所述装载位在所述预设坐标系中的坐标位置,定位物料时以该物料对应的装载位的坐标位置为目标位置,包括:
[0029]根据如下公式计算任一所述装载位在所述预设坐标系中的坐标位置:
[0030][0031]其中,1≤n'≤N,1≤m'≤M,X
C

表示位于所述载体中的第n'行第m'列的装载位在所述预设坐标系中的X坐标,Y
C

表示位于所述载体中的第n'行第m'列的装载位在所述预设坐标系中的Y坐标,X
B
表示所述第一基准位在所述预设坐标系的X轴上的单位值,Y
B
表示所述第一基准位在所述预设坐标系的Y轴上的单位值,X
D
表示所述第二基准位在所述预设坐标系的X轴上的单位值,Y
D
表示所述第二基准位在所述预设坐标系的Y轴上的单位值,X
A
表示所述第三基准位在所述预设坐标系中的X坐标,Y
A
表示所述第三基准位在所述预设坐标系中的Y
坐标。
[0032]可选的,当所述载体包括堆叠的至少两个规格相同的盘体时,选取至少四个装载位作为基准位,所述基准位还包括第四基准位,所述第四基准位与所述第三基准位的连线垂直于所述第一基准位、所述第二基准位和所述第三基准位所在的平面。
[0033]可选的,所述选取至少四个装载位作为基准位,包括:
[0034]在所述载体中选取位于第1层盘体中的第1行第m列的所述装载位作为第一基准位;
[0035]在所述载体中选取位于第1层盘体中的第n行第1列的所述装载位作为第二基准位;
[0036]在所述载体中选取位于第1层盘体中的第1行第1列的所述装载位作为第三基准位;
[0037]在所述载体中选取位于第l层盘体中的第1行第1列的所述装载位作为第四基准位;
[0038]其中,1<n≤N”,1<m≤M”,1<l≤L”,L”为所述盘体的总层数,M”为每一层所述盘体中的所述装载位的总列数,N”为每一层所述盘体中的所述装载位的总行数。本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种物料的定位方法,其特征在于,其涉及载体,所述载体包括矩阵集,所述矩阵集包括呈矩阵式排布的多个装载位,所述装载位用于承载所述物料,所述方法包括:获取所述装载位在所述矩阵集中对应的位置信息,所述位置信息包括行数、列数及层数中的至少两者;确定所述矩阵集在预设坐标系的各坐标轴上的单位值;根据所述单位值和所述装载位的位置信息,获取所述装载位在所述预设坐标系中的坐标位置,定位物料时以该物料对应的装载位的坐标位置为目标位置。2.根据权利要求1所述的物料的定位方法,其特征在于,所述确定所述矩阵集在预设坐标系的各坐标轴上的单位值,包括:选取至少三个装载位作为基准位,所述基准位包括第一基准位、第二基准位和第三基准位,所述第一基准位与所述第三基准位的连线垂直于所述第二基准位与所述第三基准位的连线;获取所述第一基准位、所述第二基准位和所述第三基准位在所述预设坐标系中的坐标位置;根据各个所述基准位在所述预设坐标系中的坐标位置,确定所述矩阵集在所述预设坐标系的各坐标轴上的单位值。3.根据权利要求2所述的物料的定位方法,其特征在于,所述第三基准位为所述矩阵集的各顶点中与所述预设坐标系的原点距离最近的装载位,所述第一基准位和所述第二基准位分别设置在所述矩阵集的边沿上。4.根据权利要求3所述的物料的定位方法,其特征在于,当所述载体包括一层盘体时,所述选取至少三个装载位作为基准位,包括:在所述载体中选取位于第1行第m列的所述装载位作为第一基准位;在所述载体中选取位于第n行第1列的所述装载位作为第二基准位;在所述载体中选取位于第1行第1列的所述装载位作为第三基准位;其中,1<n≤N,1<m≤M,M为所述装载位的总列数,N为所述装载位的总行数。5.根据权利要求4所述的物料的定位方法,其特征在于,所述确定所述矩阵集在所述预设坐标系的各坐标轴上的单位值,包括:根据所述第一基准位和所述第三基准位在所述预设坐标系中的坐标位置,计算所述第一基准位在所述预设坐标系的各坐标轴上的单位值;根据所述第二基准位和所述第三基准位在所述预设坐标系中的坐标位置,计算所述第二基准位在所述预设坐标系的各坐标轴上的单位值。6.根据权利要求4所述的物料的定位方法,其特征在于,根据如下公式,计算所述第一基准位在所述预设坐标系的各坐标轴上的单位值:根据如下公式,计算所述第二基准位在所述预设坐标系的各坐标轴上的单位值:
其中,X
B
表示所述第一基准位在所述预设坐标系的X轴上的单位值,Y
B
表示所述第一基准位在所述预设坐标系的Y轴上的单位值,X
D
表示所述第二基准位在所述预设坐标系的X轴上的单位值,Y
D
表示所述第二基准位在所述预设坐标系的Y轴上的单位值;X
M'
表示所述第一基准位在所述预设坐标系中的X坐标,Y
M'
表示所述第一基准位在所述预设坐标系中的Y坐标,X
N'
表示所述第二基准位在所述预设坐标系中的X坐标,Y
N'
表示所述第二基准位在所述预设坐标系中的Y坐标,X
A
表示所述第三基准位在所述预设坐标系中的X坐标,Y
A
表示所述第三基准位在所述预设坐标系中的Y坐标。7.根据权利要求4所述的物料的定位方法,其特征在于,针对任一所述装载位,所述根据所述单位值和所述装载位的位置信息,获取所述装载位在所述预设坐标系中的坐标位置,定位物料时以该物料对应的装载位的坐标位置为目标位置,包括:根据如下公式计算任一所述装载位在所述预设坐标系中的坐标位置:其中,1≤n'≤N,1≤m'≤M,X
C

表示位于所述载体中的第n'行第m'列的装载位在所述预设坐标系中的X坐标,Y
C

表示位于所述载体中的第n'行第m'列的装载位在所述预设坐标系中的Y坐标,X
B
表示所述第一基准位在所述预设坐标系的X轴上的单位值,Y
B
表示所述第一基准位在所述预设坐标系的Y轴上的单位值,X
D
表示所述第二基准位在所述预设坐标系的X轴上的单位值,Y
D
表示所述第二基准位在所述预设坐标系的Y轴上的单位值,X
A
表示所述第三基准位在所述预设坐标系中的X坐标,Y
A
表示所述第三基准位在所述预设坐标系中的Y坐标。8.根据权利要求2所述的物料的定位方法,其特征在于,当所述载体包括堆叠的至少两个规格相同的盘体时,选取至少四个装载位作为基准位,所述基准位还包括第四基准位,所述第四基准位与所述第三基准位的连线垂直于所述第一基准位、所述第二基准位和所述第三基准位所在的平面。9.根据权利要求8所述的物料的定位方法,其特征在于,所述选取至少四个装载位作为基准位,包括:在所述载体中选取位于第1层盘体中的第1行第m列的所述装载位作为第一基准位;在所述载体中选取位于第1层盘体中的第n行第1列的所述装载位作为第二基准位;在所述载体中选取位于第1层盘体中的第1行第1列的所述装载位作为第三基准位;在所述载体中选取位于第l层盘体中的第1行第1列的所述装载位作为第四基准位;其中,1<n≤N”,1<m≤M”,1<l≤L”,L”为所述盘体的总层数,M”为每一层所述盘体中的所述装载位的总列数,N”为每一层所述盘体中的所述装载位的总行数。10.根据权利要求9所述的物料的定位方法,其特征在于,所述确定所述矩阵集在所述预设坐标系的各坐标轴上的单位值,包括:根据所述第一基准位和所述第三基准位在所述预设坐标系中的坐标位置,计算所述第一基准位在所述预设坐标系的各坐标轴上的单位值;根据所述第二基准位和所述第三基准位在所述预设坐标系中的坐标位置,计算所述第二基准位在所述预设坐标系的各坐标轴上的单位值;根据所述第四基准位和所述第三基准位在所述预设坐标系中的坐标位置,计算所述第
四基准位在所述预设坐标系的各坐标轴上的单位值。11.根据权利要求9所述的物料的定位方法,其特征在于,根据如下公式,计算所述第一基准位在所述预设坐标系的各坐标轴上的单位值:根据如下公式,计算所述第二基准位在所述预设坐标系的各坐标轴上的单位值:根据如下公式,计算所述第四基准位在所述预设坐标系的各坐标轴上的单...

【专利技术属性】
技术研发人员:张现伟马绍甫陈勋王湘
申请(专利权)人:上海微创生命科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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