一种用于行星大气与电离层探测的离子产生与引入装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及空间环境探测技术领域，尤其涉及一种用于行星大气与电离层探测的离子产生与引入装置。所述离子产生与引入装置包括位于电离室(3)顶部的气体取样组件、位于电离室(3)内的对称设置的电子发射与控制组件、位于电子发射与控制组件之间的电离室电压调控组件，和位于电离室(3)侧面的离子引出透镜组件；本发明专利技术满足了地球及地外行星、小天体的大气和电离层中性气体和离子同位素测量对离子产生和引入装置输出离子的需求，具备了支撑后续高精度和大量程质量分辨的能力。和大量程质量分辨的能力。和大量程质量分辨的能力。

【技术实现步骤摘要】
一种用于行星大气与电离层探测的离子产生与引入装置


[0001]本专利技术涉及空间环境探测
，尤其涉及一种用于行星大气与电离层探测的离子产生与引入装置。

技术介绍

[0002]地球及地外行星、小天体的大气和电离层是这些天体空间环境的重要组成部分，是人类开展地球及地外行星、小天体探测重点关注的对象。获取地球、地外行星、小天体轨道大气的中性气体和离子的同位素含量数据，对于开展地球、地外行星、小天体大气和电离层科学探测、大气和电离层建模等具有重要的支撑作用。
[0003]现有星上轨道大气测量技术仅能测量中性气体成分，气体电离多采用直丝状热阴极电子发射源和B
‑
A规，探测量程狭窄，压力探测下限仅能达到约10
‑8Pa；同种待测粒子电离后的时空偏差大，导致相近质量数离子的谱峰产生交叠，质量分辨率只有50左右，仅适用于地球轨道300
‑
600公里左右的中性气体主成分探测。地外行星、小天体的轨道大气压力变化范围很大，压力探测下限可达10
‑
13
Pa，中性气体和离子同位素测量要本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于行星大气与电离层探测的离子产生与引入装置，其特征在于，所述离子产生与引入装置包括位于电离室(3)顶部的气体取样组件、位于电离室(3)内的对称设置的电子发射与控制组件、位于电子发射与控制组件之间的电离室电压调控组件，和位于电离室(3)侧面的离子引出透镜组件；其中，所述气体取样组件：用于采集环境离子和中性气体分子；所述电子发射与控制组件：用于发射电子束流，引导电子进入电离区，使得中性气体分子电离产生离子；所述电离室电压调控组件：用于束缚离子，增加电离区内离子的总量，并将离子引入至引出透镜电极组件；所述离子引出透镜组件：用于将电离区引入的离子聚焦后引出离子产生与引入装置。2.根据权利要求1所述离子产生与引入装置，其特征在于，所述气体取样组件包括进气口(2)和吸引栅网(1)，所述吸引栅网(1)安装于进气口(2)的外侧。3.根据权利要求1所述离子产生与引入装置，其特征在于，所述电子发射与控制组件包括依次连接的电子发射阴极组件(4)和电压调制极(5)，其中，所述电子发射阴极组件(4)：用于发射电子，使得中性气体分子电离；所述电压调制极(5)：用于将电子引出和聚焦，聚焦后的电子束流运动到电离室另一...

【专利技术属性】
技术研发人员：王馨悦，张爱兵，孔令高，苏斌，田峥，安雅雅，郑湘芷，
申请(专利权)人：中国科学院国家空间科学中心，
类型：发明
国别省市：