本申请公开了一种表面缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备，其中，方法包括：基于同一预设拍摄位置，获取若干光源方向下分别对待检测对象进行拍摄所获得的、包含待检测区域的若干初始图像；基于各所述初始图像采用光度立体法重建获得所述待检测区域的深度图；基于所述深度图进行图像处理，获得目标二值图像；基于所述目标二值图像对待检测对象的待检测区域进行缺陷检测，获得检测结果。本申请通过利用光度立体算法，对各初始图像特征进行加强获得深度图像，能够显示在2D图像上难以发现或无法呈现的表面细微特征，后续就可以针对深度图像进行二值化处理，从而能基于二值化后的图像精准、快速的进行表面缺陷检测。快速的进行表面缺陷检测。快速的进行表面缺陷检测。
【技术实现步骤摘要】
一种表面缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备
[0001]本专利技术涉及图像检测
，特别涉及一种表面缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备。
技术介绍
[0002]在摄像头模组生产过程中，外观检测是一个非常重要的环节。在现有的生产线上，可以采用人工对摄像头模组各个部件的划伤、脏污、露铜、弯折、粘胶等缺陷进行检测，但是人工检测存在着效率低下、成本较高、容易出错的问题，因此基于机器视觉以及多通道的检测方法应运而生。但是采用上述检测方法进行缺陷检测时，需要花费大量时间进行成像调整，且容易导致算法无法识别，从而产生大量的漏检或者过检，检测结果不够精准，存在漏检或者过检的问题。
[0003]由此，亟需一种表面缺陷检测方法，以解决现有技术中缺陷检测不够精准的问题。
技术实现思路
[0004]有鉴于此，本专利技术提供了一种表面缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备，主要目的在于解决目前存在检测结果不够精准的问题。
[0005]为解决上述问题，本申请提供一种表面缺陷检测方法，包括：
[0006]基于同一预设拍摄位置，获取若干光源方向下分别对待检测对象进行拍摄所获得的、包含待检测区域的若干初始图像；
[0007]基于各所述初始图像采用光度立体法重建获得所述待检测区域的深度图；
[0008]基于所述深度图进行图像处理，获得目标二值图像；
[0009]基于所述目标二值图像对待检测对象的待检测区域进行缺陷检测，获得检测结果。
[0010]可选的，光源个数为4个，分别包括：第一光源、第二光源、第三光源以及第四光源；各光源以待检测对象为球心、依次设置在同一球面大圆上；
[0011]其中，第一光源与第二光源对应的圆心角为90
°
；第一光源与第三光源对应的圆心角为180
°
；第一光源与第四光源对应的圆心角为270
°
。
[0012]可选的，所述基于各所述初始图像采用光度立体法重建获得所述待检测区域的深度图；
[0013]基于各所述初始图像，采用光度立体法计算获得初始图像内各像素点的表面单位法向量；
[0014]基于各像素点的表面单位法向量构建获得待检测区域的深度图。
[0015]可选的，所述基于各所述初始图像，采用光度立体法计算获得初始图像内各像素点的表面单位法向量，具体包括：
[0016]基于各所述初始图像内各像素点的像素值、光源方向，采用预定的第一计算公式，计算获得初始图像内各像素点的表面单位法向量。
[0017]可选的，所述基于各像素点的表面单位法向量构建获得待检测区域的深度图，具体包括：
[0018]基于各像素点的表面单位法向量以及预定的第二计算公式，计算获得各像素点的深度坐标；
[0019]基于各像素点的深度坐标构建获得待检测区域的深度图。
[0020]可选的，所述基于所述深度图进行图像处理，获得目标二值图像，具体包括：
[0021]对所述深度图进行归一化处理，获得待检测区域的灰度图；
[0022]对所述灰度图进行二值化处理，获得目标二值图像。
[0023]可选的，所述基于所述目标二值图像对待检测对象的待检测区域进行缺陷检测，获得检测结果，具体包括：基于目标二值图像，确定若干初始缺陷区域；
[0024]获取各初始缺陷区域的尺寸特征；
[0025]基于各初始缺陷区域的尺寸特征筛选获得目标缺陷区域，以获得所述检测结果。
[0026]可选的，在获得目标缺陷区域之后，所述方法还包括：
[0027]基于所述目标缺陷区域的尺寸特征以及预定的特征阈值进行缺陷类型检测，以确定所述目标缺陷区域的缺陷类型为撕裂类型或者为凹凸类型。
[0028]可选的，在获得目标缺陷区域之后，所述方法还包括：
[0029]基于目标缺陷区域的缺陷类型，确定与所述缺陷类型对应的各缺陷等级的尺寸区间；
[0030]将所述目标缺陷区域的尺寸特征与各所述尺寸区间进行比较，确定所述尺寸特征对应的目标尺寸区间，以确定所述目标尺寸积区间对应的缺陷等级为所述目标缺陷区域的缺陷等级。
[0031]可选的，所述第一计算公式为：
[0032]t
ij
＝
i
(N
i
*
j
)l
j
[0033]其中，t
ij
表示第j个光源下拍摄的初始图像中第i个像素点的像素值；
[0034]ρ
i
表示第i个像素点对应的反射率；
[0035]N
i
于表示第i个像素点对应的表面单位法向量；
[0036]l
j
表示第j个光源的光照强度。
[0037]可选的，所述第二计算公式为：
[0038]Mz＝v1[0039]Mz＝v2[0040]其中，M表示尺寸为(2*m，m)的稀疏矩阵，其中m为像素个数；
[0041]z则表示像素点的深度坐标；
[0042]v由像素点的表面单位法向量N而得，Nv1＝0，Nv2＝0。
[0043]为解决上述问题，本申请提供一种表面缺陷检测装置，包括：
[0044]获取模块，用于基于同一预设拍摄位置，获取若干光源方向下分别对待检测对象进行拍摄所获得的、包含待检测区域的若干初始图像；
[0045]重建模块，用于基于各所述初始图像采用光度立体法重建获得所述待检测区域的深度图；
[0046]处理模块，用于基于所述深度图进行图像处理，获得目标二值图像；
[0047]检测模块，用于基于所述目标二值图像对待检测对象的待检测区域进行缺陷检测，获得检测结果。
[0048]可选的，光源个数为4个，分别包括：第一光源、第二光源、第三光源以及第四光源；各光源以待检测对象为球心、依次设置在同一球面大圆上；
[0049]其中，第一光源与第二光源对应的圆心角为90
°
；第一光源与第三光源对应的圆心角为180
°
；第一光源与第四光源对应的圆心角为270
°
。
[0050]可选的，所述重建模块包括计算单元以及重建单元；
[0051]所述计算单元用于：基于各所述初始图像，采用光度立体法计算获得初始图像内各像素点的表面单位法向量；
[0052]所述重建单元用于：基于各像素点的表面单位法向量构建获得待检测区域的深度图。
[0053]可选的，所述计算单元具体用于：
[0054]基于各所述初始图像内各像素点的像素值、光源方向，采用预定的第一计算公式，计算获得初始图像内各像素点的表面单位法向量。
[0055]可选的，所述重建单元用于：
[0056]基于各像素点的表面单位法向量以及预定的第二计算公式，计算获得各像素点的深度坐标；
[0057]基于各像素点的深度坐标构建获得待检测区域的深度图。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种表面缺陷检测方法，其特征在于，包括：基于同一预设拍摄位置，获取若干光源方向下分别对待检测对象进行拍摄所获得的、包含待检测区域的若干初始图像；基于各所述初始图像采用光度立体法重建获得所述待检测区域的深度图；基于所述深度图进行图像处理，获得目标二值图像；基于所述目标二值图像对待检测对象的待检测区域进行缺陷检测，获得检测结果。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，光源个数为4个，分别包括：第一光源、第二光源、第三光源以及第四光源；各光源以待检测对象为球心、依次设置在同一球面大圆上；其中，第一光源与第二光源对应的圆心角为90
°
；第一光源与第三光源对应的圆心角为180
°
；第一光源与第四光源对应的圆心角为270
°
。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于各所述初始图像采用光度立体法重建获得所述待检测区域的深度图；基于各所述初始图像，采用光度立体法计算获得初始图像内各像素点的表面单位法向量；基于各像素点的表面单位法向量构建获得待检测区域的深度图。4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于各所述初始图像，采用光度立体法计算获得初始图像内各像素点的表面单位法向量，具体包括：基于各所述初始图像内各像素点的像素值、光源方向，采用预定的第一计算公式，计算获得初始图像内各像素点的表面单位法向量。5.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于各像素点的表面单位法向量构建获得待检测区域的深度图，具体包括：基于各像素点的表面单位法向量以及预定的第二计...
【专利技术属性】
技术研发人员：邱毅，张武杰，
申请(专利权)人：中科慧远视觉技术洛阳有限公司，
类型：发明
国别省市：
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