一种测量零件平面度和厚度偏差的3轴测量仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种测量零件平面度和厚度偏差的3轴测量仪，包括托板，所述托板的顶部设置有横向机架，所述横向机架的一侧设置有导轨，所述导轨的表面卡合滑动设置有滑扣，所述滑扣的一侧表面设置有测量表头，所述托板的顶部设置有下滑轨，所述下滑轨的顶部卡合滑动设置有上滑座，所述上滑座的顶部设置有测量平台，所述下滑轨的数量为两根，且两根下滑轨之间相互平行设置，所述导轨的两端表面皆设置有限位销。该一种测量零件平面度和厚度偏差的3轴测量仪，能够有效提高对单散件的检测效率，且对人员技能水平要求较低，大大降低了检测成本，避免采用塞尺来检测存在很大的局限性，能更加直观的观测被测面的浮动偏差。更加直观的观测被测面的浮动偏差。更加直观的观测被测面的浮动偏差。

【技术实现步骤摘要】
一种测量零件平面度和厚度偏差的3轴测量仪


[0001]本技术涉及机加工品质管控
，具体为一种测量零件平面度和厚度偏差的3轴测量仪。

技术介绍

[0002]零件加工完成后通常需要相关人员对零件各个尺寸进行检验合格后方可流露下一制程，零件平面度是限定一个零件表面允许的不平误差的形位公差，是判定该零件是否合格的一个重要公差，通常的检验方法是采用塞尺或者三次元来监测。
[0003]但是由于三次元价格昂贵，而且首先要对被检测的零件进行图档转换和软件编程，对单散件的检测效率低下，且对人员技能水平要求较高，大大增加成本，若采用上述所说的的塞尺来检测也会有很大的局限性，不能更加直观的观测被测面的浮动偏差。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种测量零件平面度和厚度偏差的3轴测量仪，以解决上述
技术介绍
中提出的由于三次元价格昂贵，而且首先要对被检测的零件进行图档转换和软件编程，对单散件的检测效率低下，且对人员技能水平要求较高，大大增加成本。若采用上述所说的的塞尺来检测也会有很大的局限性，不能更加直观的观测被测面的浮动偏差的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种测量零件平面度和厚度偏差的3轴测量仪，包括托板，所述托板的顶部设置有横向机架，所述横向机架的一侧设置有导轨，所述导轨的表面卡合滑动设置有滑扣，所述滑扣的一侧表面设置有测量表头，所述托板的顶部设置有下滑轨，所述下滑轨的顶部卡合滑动设置有上滑座，所述上滑座的顶部设置有测量平台。
[0006]优选的，所述下滑轨的数量为两根，且两根下滑轨之间相互平行设置。
[0007]优选的，所述导轨的两端表面皆设置有限位销，且下滑轨的顶部两端皆设置有软质限位柱。
[0008]优选的，所述横向机架与托板之间相互垂直设置，且横向机架与导轨之间相互平行设置。
[0009]优选的，所述测量平台的顶部设置有通孔，且测量平台的一侧表面设置有凹槽。
[0010]优选的，所述测量平台的底部靠近四个边角处皆设置有升降槽，所述升降槽的内侧皆设置有电动升降柱，且电动升降柱的底端皆设置有吸盘。
[0011]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0012]该一种测量零件平面度和厚度偏差的3轴测量仪，在进行日常使用的过程中，能够有效提高对单散件的检测效率，且对人员技能水平要求较低，大大降低了检测成本，避免采用塞尺来检测存在很大的局限性，能更加直观的观测被测面的浮动偏差。
[0013]该一种测量零件平面度和厚度偏差的3轴测量仪，在进行日常使用的过程中，可根
据实际需要检测的单散件规格尺寸不同需要，通过电动升降柱带动测量平台进行实时升降高度调节，使得检测能够适用的范围更加广泛。
附图说明
[0014]图1为本技术的主视图；
[0015]图2为本技术的下滑轨和软质限位柱连接结构示意图；
[0016]图3为本技术的测量表头和滑扣连接结构示意图；
[0017]图4为本技术的测量平台部分剖视图。
[0018]图中：1、横向机架；2、托板；3、下滑轨；4、软质限位柱；5、上滑座；6、测量平台；7、限位销；8、导轨；9、测量表头；10、滑扣；11、通孔；12、凹槽；13、升降槽；14、吸盘；15、电动升降柱。
具体实施方式
[0019]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0020]如图1
‑
4所示，本技术提供一种技术方案：一种测量零件平面度和厚度偏差的3轴测量仪，包括托板2，托板2的顶部设置有横向机架1，横向机架1的一侧设置有导轨8，导轨8的表面卡合滑动设置有滑扣10，滑扣10的一侧表面设置有测量表头9，通过滑扣10在导轨8上进行横向往复移动，实现对测量表头9的位置进行实时移动变换，托板2的顶部设置有下滑轨3，下滑轨3的顶部卡合滑动设置有上滑座5，能够有效提高对单散件的检测效率，且对人员技能水平要求较低，大大降低了检测成本，避免采用塞尺来检测存在很大的局限性，能更加直观的观测被测面的浮动偏差，上滑座5的顶部设置有测量平台6，通过上滑座5在下滑轨3表面进行往复滑动，实现对测量平台6和单散件的测量位置进行移动变换，下滑轨3的数量为两根，且两根下滑轨3之间相互平行设置，可使滑动过程的整体稳定性更好，避免因为受力不均导致发生倾斜倒塌现象。
[0021]导轨8的两端表面皆设置有限位销7，可对导轨8起到插接限位作用，可避免导轨8与横向机架1之间发生掉落，且下滑轨3的顶部两端皆设置有软质限位柱4，可避免滑轨3与上滑座5之间因为没有阻挡限位而发生脱离掉落问题，横向机架1与托板2之间相互垂直设置，且横向机架1与导轨8之间相互平行设置，可实现对测量的范围坐标进行不同调节，使得测量的范围更加广泛精确，测量平台6的顶部设置有通孔11，可通过螺栓配合对检测的单散件进行实时插接限位固定，避免检测过程受力发生偏移，且测量平台6的一侧表面设置有凹槽12，测量平台6的底部靠近四个边角处皆设置有升降槽13，升降槽13的内侧皆设置有电动升降柱15，可根据实际需要检测的单散件规格尺寸不同需要，通过电动升降柱15带动测量平台6进行实时升降高度调节，且电动升降柱15的底端皆设置有吸盘14，可增加测量平台6与上滑座5之间的吸附能力，有效提高测量时的整体稳定性。
[0022]工作原理：当需要进行单散件检测工作时，首先可将需要检测的单散件放置到测量平台6的顶部，并且通过螺栓和通孔11进行实时限位插接固定，可根据实际需要检测的单
散件规格尺寸不同需要，通过电动升降柱15带动测量平台6进行实时升降高度调节，然后通过滑扣10在导轨8上进行横向往复移动，实现对测量表头9的位置进行实时移动变换，通过上滑座5在下滑轨3表面进行往复滑动，实现对测量平台6和单散件的测量位置进行移动变换，从而能够有效提高对单散件的检测效率，且对人员技能水平要求较低，大大降低了检测成本，避免采用塞尺来检测存在很大的局限性，能更加直观的观测被测面的浮动偏差。
[0023]尽管已经示出和描述了本技术的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本技术的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本技术的范围由所附权利要求及其等同物限定。
本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测量零件平面度和厚度偏差的3轴测量仪，包括托板(2)，其特征在于：所述托板(2)的顶部设置有横向机架(1)，所述横向机架(1)的一侧设置有导轨(8)，所述导轨(8)的表面卡合滑动设置有滑扣(10)，所述滑扣(10)的一侧表面设置有测量表头(9)，所述托板(2)的顶部设置有下滑轨(3)，所述下滑轨(3)的顶部卡合滑动设置有上滑座(5)，所述上滑座(5)的顶部设置有测量平台(6)。2.根据权利要求1所述的一种测量零件平面度和厚度偏差的3轴测量仪，其特征在于：所述下滑轨(3)的数量为两根，且两根下滑轨(3)之间相互平行设置。3.根据权利要求1所述的一种测量零件平面度和厚度偏差的3轴测量仪，其特征在于：所述导轨(8)的两端表面皆设置有限位销(...

【专利技术属性】
技术研发人员：王唱唱，吴东，
申请(专利权)人：苏州市分寸科技有限公司，
类型：新型
国别省市：