本申请公开了一种光束分析工装及光束检测装置，光束分析工装包括基座、转接头和转接机构，转接头与基座连接，转接头用于与光束分析仪的输入端光路连通；转接机构包括活动座及设于活动座的至少两个具有不同聚焦度和/或衰减度的镜筒组件；活动座与基座活动连接并具有多个不同的转接位置，活动座在不同的转接位置时，转接头与不同的镜筒组件的输出端对应，以使不同的镜筒组件的输出端与光束分析仪的输入端光路连通。本申请实施例通过使活动座具有多个不同的转接位置，以使不同的镜筒组件的输出端与光束分析仪的输入端光路连通，能够实现在光束分析仪的输入端与激光器的输出端之间快速更换不同类型的镜筒组件，提高了光束分析仪的分析效率。仪的分析效率。仪的分析效率。
【技术实现步骤摘要】
光束分析工装及光束检测装置
[0001]本申请涉及激光
，尤其涉及一种光束分析工装及光束检测装置。
技术介绍
[0002]在激光器的研发和制造过程中，通常需要通过分析仪对激光器产生的光束进行分析，以实现对激光器的各项参数的测试。其中，在测试激光器的参数时，需要将光束分析仪的输入端与镜筒组件光路连通，然后再将镜筒组件与激光器的输出端光路连通，使激光器产生的激光先通过镜筒组件进行聚焦、滤光等处理后进入到光束分析仪，然后再由光束分析仪进行分析。
[0003]但是，通过光束分析仪测量激光器的多种不同参数时，需要在光束分析仪的输入端与激光器的输出端之间更换不同类型的镜筒组件，镜筒组件的更换比较繁琐，会影响光束分析仪的分析效率。
技术实现思路
[0004]本申请实施例提供一种光束分析工装及光束检测装置，旨在解决过光束分析仪测量激光器的多种不同参数时，需要在光束分析仪的输入端与激光器的输出端之间更换不同类型的镜筒组件，而影响光束分析仪的分析效率的问题。
[0005]本申请实施例提供一种光束分析工装，所述光束分析工装包括：
[0006]基座；
[0007]转接头，所述转接头与所述基座连接，所述转接头用于与光束分析仪的输入端光路连通；
[0008]转接机构，包括活动座及设于所述活动座的至少两个具有不同聚焦度和/或衰减度的镜筒组件；所述活动座与所述基座活动连接并具有多个不同的转接位置，所述活动座在不同的所述转接位置时，所述转接头与不同的所述镜筒组件的输出端对应，以使不同的所述镜筒组件的输出端与所述光束分析仪的输入端光路连通。
[0009]在一些实施例中，所述活动座可相对所述基座绕旋转轴线转动连接，各所述镜筒组件沿所述活动座的周向依次分布；或者，
[0010]所述活动座与所述基座滑动连接，各所述镜筒组件沿所述活动座的滑动方向依次分布。
[0011]在一些实施例中，所述基座开设有第一通孔，所述转接头插入所述第一通孔，以使所述转接头与所述基座连接；所述活动座开设有多个第二通孔，所述第二通孔的数量与所述镜筒组件的数量相同，多个所述镜筒组件的输出端一一对应插入多个所述第二通孔，以使多个所述镜筒组件设于所述活动座；
[0012]所述活动座在不同的所述转接位置时，所述第一通孔与不同的所述第二通孔连通，以使不同的所述镜筒组件的输出端与所述光束分析仪的输入端光路连通。
[0013]在一些实施例中，所述基座和所述活动座分别呈板状设置，所述基座的板面与所
述活动座的板面相对设置，所述旋转轴线与所述基座的板面呈夹角；所述第一通孔贯穿所述基座的板面，所述第二通孔贯穿所述活动座的板面。
[0014]在一些实施例中，所述光束分析工装包括定位件和多个定位部，所述定位件设于所述基座和所述活动座中的一个，多个所述定位部同时设于所述基座和所述活动座中的另一个；所述定位件用于与不同的所述定位部抵接，以将所述活动座定位于不同的所述转接位置。
[0015]在一些实施例中，所述定位部开设有定位槽，所述定位件用于插入不同的所述定位部的定位槽内并与所述定位槽的内表面抵接，以将所述活动座定位于不同的所述转接位置。
[0016]在一些实施例中，所述定位件与所述基座和所述活动座中的一个活动连接，并具有抵接位置和避让位置，所述定位件在所述抵接位置时能够与所述定位部抵接，所述定位件在所述避让位置时能够避让所述定位部。
[0017]在一些实施例中，所述光束分析工装还包括弹性件，所述弹性件和所述定位件同时设于所述基座或所述活动座，所述弹性件与所述定位件连接，并用于对所述定位件施加使所述定位件从所述避让位置运动至所述抵接位置的弹性力。
[0018]在一些实施例中，所述基座朝向所述活动座的一侧开设有安装孔，所述定位件沿所述安装孔的深度方向滑动安装于所述安装孔，所述弹性件安装于所述安装孔内并与所述定位件背离所述活动座的一侧抵接；多个所述定位部设于所述活动座，各所述定位部朝向所述基座的一侧开设有所述定位槽。
[0019]本申请实施例还提供一种光束检测装置，所述光束检测装置包括：
[0020]光束分析仪；
[0021]光束分析工装，所述光束分析工装为如上所述的光束分析工装，所述光束分析工装包括：
[0022]基座；
[0023]转接头，所述转接头与所述基座连接，所述转接头用于与光束分析仪的输入端光路连通；
[0024]转接机构，包括活动座及设于所述活动座的至少两个具有不同聚焦度和/或衰减度的镜筒组件；所述活动座与所述基座活动连接并具有多个不同的转接位置，所述活动座在不同的所述转接位置时，所述转接头与不同的所述镜筒组件的输出端对应，以使不同的所述镜筒组件的输出端与所述光束分析仪的输入端光路连通。
[0025]本申请实施例提供的光束分析工装通过使转接机构的活动座与连接有转接头的基座活动连接，以使活动座具有多个不同的转接位置，并且，活动座在不同的转接位置时，转接头与不同的镜筒组件的输出端对应，以使不同的镜筒组件的输出端与光束分析仪的输入端光路连通。
[0026]因此，测试人员通过将转接头与光束分析仪的输入端光路连通，推动活动座活动至不同的转接位置，即可快速的将光束分析仪的输入端与具有不同聚焦度和/或衰减度的镜筒组件的输出端光路连通，然后将与光束分析仪的输入端光路连通的镜筒组件的输入端与激光器的输出端光路连通，即可在光束分析仪的输入端与激光器的输出端之间快速更换不同类型的镜筒组件，提高了光束分析仪的分析效率。
附图说明
[0027]下面结合附图，通过对本申请的具体实施方式详细描述，将使本申请的技术方案及其它有益效果显而易见。
[0028]图1为本申请实施例提供的光束分析工装的一个实施例的结构示意图；
[0029]图2为图1中光束分析工装的分解结构示意；
[0030]图3为图2中分解后的光束分析工装的另一角度视图；
[0031]图4为图1中光束分析工装的剖视图，其沿转轴的轴线进行了剖视；
[0032]图5为图4中A处的放大图。
[0033]光束分析工装100；基座110；插孔111；第一通孔112；安装孔113；转接头120；转接机构130；镜筒组件131；活动座132；第二通孔1321；定位部1322；定位槽1323；弹性件140；定位件150；转轴160；旋转轴线X。
具体实施方式
[0034]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0035]在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种光束分析工装，其特征在于，所述光束分析工装包括：基座；转接头，所述转接头与所述基座连接，所述转接头用于与光束分析仪的输入端光路连通；转接机构，包括活动座及设于所述活动座的至少两个具有不同聚焦度和/或衰减度的镜筒组件；所述活动座与所述基座活动连接并具有多个不同的转接位置，所述活动座在不同的所述转接位置时，所述转接头与不同的所述镜筒组件的输出端对应，以使不同的所述镜筒组件的输出端与所述光束分析仪的输入端光路连通。2.如权利要求1所述的光束分析工装，其特征在于，所述活动座可相对所述基座绕旋转轴线转动连接，各所述镜筒组件沿所述活动座的周向依次分布；或者，所述活动座与所述基座滑动连接，各所述镜筒组件沿所述活动座的滑动方向依次分布。3.如权利要求2所述光束分析工装，其特征在于，所述基座开设有第一通孔，所述转接头插入所述第一通孔，以使所述转接头与所述基座连接；所述活动座开设有多个第二通孔，所述第二通孔的数量与所述镜筒组件的数量相同，多个所述镜筒组件的输出端一一对应插入多个所述第二通孔，以使多个所述镜筒组件设于所述活动座；所述活动座在不同的所述转接位置时，所述第一通孔与不同的所述第二通孔连通，以使不同的所述镜筒组件的输出端与所述光束分析仪的输入端光路连通。4.如权利要求3所述的光束分析工装，其特征在于，所述基座和所述活动座分别呈板状设置，所述基座的板面与所述活动座的板面相对设置，所述旋转轴线与所述基座的板面呈夹角；所述第一通孔贯穿所述基座的板面，所述第二通孔贯穿所述活动座的板面。5.如权利要求1至3中任意一项所述的光束分析工装，其特征在于，所述光束...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨雄，李宁，
申请(专利权)人：武汉锐科光纤激光技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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