一种显卡故障的处理方法及系统技术方案

本发明专利技术提供了一种显卡故障的处理方法及系统，包括：通过红外测温传感探测显卡发热元件分布区域，进行显卡温度分布多点采集，通过数据矩阵化处理获取红外温度分布成像点温矩阵；将红外温度分布成像点温矩阵与显卡温度分布参考点温矩阵进行对比分析，进行显卡超温故障判定，获取显卡超温故障判定信息；根据显卡超温故障判定信息，进行超温分布故障点位多点示警及超温故障点位控制指令智能控制，获取超温故障点位智能控制信息；根据超温故障点位智能控制信息，通过显卡半导体制冷及液冷循环互补制冷，进行显卡发热元件的电液互补故障处理。理。理。

【技术实现步骤摘要】
一种显卡故障的处理方法及系统


[0001]本专利技术涉及显卡故障精准监测智能处理
，更具体地说，本专利技术涉及一种显卡故障的处理方法及系统。

技术介绍

[0002]目前，显卡超温是影响系统性能非常广泛的显卡系统故障；如何进行显卡温度分布多点采集以及数据处理温度分布、如何将显卡温度与温度分布参考点进行对比分析及显卡超温故障判定、如何进行超温多点示警及超温智能控制、如何对显卡发热故障处理及时性、快速性及精度准确性尚需提高；因此，有必要提出一种显卡故障的处理方法及系统，以至少部分地解决现有技术中存在的问题。

技术实现思路

[0003]在
技术实现思路
部分中引入了一系列简化形式的概念，这将在具体实施方式部分中进一步详细说明；本专利技术的
技术实现思路
部分并不意味着要试图限定出所要求保护的技术方案的关键特征和必要技术特征，更不意味着试图确定所要求保护的技术方案的保护范围。
[0004]为至少部分地解决上述问题，本专利技术提供了一种显卡故障的处理方法，包括：
[0005]S100，通过红外测温传感探测显卡发热元件分布区域，进行显卡温度分布多点采集，通过数据矩阵化处理获取红外温度分布成像点温矩阵；
[0006]S200，将红外温度分布成像点温矩阵与显卡温度分布参考点温矩阵进行对比分析，进行显卡超温故障判定，获取显卡超温故障判定信息；
[0007]S300，根据显卡超温故障判定信息，进行超温分布故障点位多点示警及超温故障点位控制指令智能控制，获取超温故障点位智能控制信息；
[0008]S400，根据超温故障点位智能控制信息，通过显卡半导体制冷及液冷循环互补制冷，进行显卡发热元件的电液互补故障处理。
[0009]优选的，S100包括：
[0010]S101，在显卡发热元件分布区域设置红外测温传感群组；
[0011]S102，通过红外测温传感群组，进行显卡温度分布多点采集，获取显卡温度分布多点采集数据；
[0012]S103，根据显卡温度分布多点采集数据，将温度分布通过数据矩阵化进行显卡温度分布多点采集数据处理，获取红外温度分布成像点温矩阵。
[0013]优选的，S200包括：
[0014]S201，根据显卡初始预设参数，获取显卡温度分布参考点温，通过标准矩阵化构建显卡温度分布参考点温矩阵；
[0015]S202，将红外温度分布成像点温矩阵与显卡温度分布参考点温矩阵进行对比分析，获取红外温度分布成像点温矩阵异常元素；
[0016]S203，根据红外温度分布成像点温矩阵异常元素，进行显卡超温故障判定，获取显
卡超温故障判定信息。
[0017]优选的，S300包括：
[0018]S301，根据显卡超温故障判定信息，对显卡超温分布故障点位进行超温分布故障点位多点示警，获取超温分布故障多点示警信息；
[0019]S302，将超温分布故障多点示警信息，通过信息指令转换关联自动转换为超温故障点位处理控制指令；
[0020]S303，根据超温故障点位处理控制指令，进行超温故障点位控制指令智能控制，获取超温故障点位智能控制信息。
[0021]优选的，S400包括：
[0022]S401，在显卡发热元件分布区域设置显卡发热半导体制冷模块；通过显卡发热半导体制冷模块进行显卡发热元件的半导体制冷；
[0023]S402，根据超温故障点位智能控制信息，设置液冷循环互补制冷模块；通过液冷循环互补制冷，在显卡半导体制冷出现超温故障时，进行液冷循环互补制冷；
[0024]S403，根据超温故障点位智能控制信息，控制超温分布故障通过显卡半导体制冷或液冷循环互补制冷配合互补，进行显卡发热元件的电液互补故障处理。
[0025]本专利技术提供了一种显卡故障的处理系统，包括：
[0026]显卡温度红外检测分系统，通过红外测温传感探测显卡发热元件分布区域，进行显卡温度分布多点采集，通过数据矩阵化处理获取红外温度分布成像点温矩阵；
[0027]显卡超温故障判定分系统，将红外温度分布成像点温矩阵与显卡温度分布参考点温矩阵进行对比分析，进行显卡超温故障判定，获取显卡超温故障判定信息；
[0028]显卡故障控制示警分系统，根据显卡超温故障判定信息，进行超温分布故障点位多点示警及超温故障点位控制指令智能控制，获取超温故障点位智能控制信息；
[0029]电液互补故障处理分系统，根据超温故障点位智能控制信息，通过显卡半导体制冷及液冷循环互补制冷，进行显卡发热元件的电液互补故障处理。
[0030]优选的，显卡温度红外检测分系统包括：
[0031]红外测温传感探测子系统，在显卡发热元件分布区域设置红外测温传感群组；
[0032]温度分布多点采集子系统，通过红外测温传感群组，进行显卡温度分布多点采集，获取显卡温度分布多点采集数据；
[0033]红外温度分布成像子系统，根据显卡温度分布多点采集数据，将温度分布通过数据矩阵化进行显卡温度分布多点采集数据处理，获取红外温度分布成像点温矩阵。
[0034]优选的，显卡超温故障判定分系统包括：
[0035]温度分布图标准点温子系统，根据显卡初始预设参数，获取显卡温度分布参考点温，通过标准矩阵化构建显卡温度分布参考点温矩阵；
[0036]温度分布点位对比子系统，将红外温度分布成像点温矩阵与显卡温度分布参考点温矩阵进行对比分析，获取红外温度分布成像点温矩阵异常元素；
[0037]对比超温故障判定子系统，根据红外温度分布成像点温矩阵异常元素，进行显卡超温故障判定，获取显卡超温故障判定信息。
[0038]优选的，显卡故障控制示警分系统包括：
[0039]超温分布故障示警子系统，根据显卡超温故障判定信息，对显卡超温分布故障点
位进行超温分布故障点位多点示警，获取超温分布故障多点示警信息；
[0040]超温信息指令转换子系统，将超温分布故障多点示警信息，通过信息指令转换关联自动转换为超温故障点位处理控制指令；
[0041]指令数据智能控制子系统，根据超温故障点位处理控制指令，进行超温故障点位控制指令智能控制，获取超温故障点位智能控制信息。
[0042]优选的，电液互补故障处理分系统包括：
[0043]显卡半导体制冷子系统，在显卡发热元件分布区域设置显卡发热半导体制冷模块；通过显卡发热半导体制冷模块进行显卡发热元件的半导体制冷；
[0044]液冷循环互补制冷子系统，根据超温故障点位智能控制信息，设置液冷循环互补制冷模块；通过液冷循环互补制冷，在显卡半导体制冷出现超温故障时，进行液冷循环互补制冷；
[0045]液冷互补故障处理子系统，根据超温故障点位智能控制信息，控制超温分布故障通过显卡半导体制冷或液冷循环互补制冷配合互补，进行显卡发热元件的电液互补故障处理。
[0046]相比现有技术，本专利技术至少包括以下有益效果：
[0047]上述技术方案的原理及效果为本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显卡故障的处理方法，其特征在于，包括：S100，通过红外测温传感探测显卡发热元件分布区域，进行显卡温度分布多点采集，通过数据矩阵化处理获取红外温度分布成像点温矩阵；S200，将红外温度分布成像点温矩阵与显卡温度分布参考点温矩阵进行对比分析，进行显卡超温故障判定，获取显卡超温故障判定信息；S300，根据显卡超温故障判定信息，进行超温分布故障点位多点示警及超温故障点位控制指令智能控制，获取超温故障点位智能控制信息；S400，根据超温故障点位智能控制信息，通过显卡半导体制冷及液冷循环互补制冷，进行显卡发热元件的电液互补故障处理。2.如权利要求1所述的一种显卡故障的处理方法，其特征在于，S100包括：S101，在显卡发热元件分布区域设置红外测温传感群组；S102，通过红外测温传感群组，进行显卡温度分布多点采集，获取显卡温度分布多点采集数据；S103，根据显卡温度分布多点采集数据，将温度分布通过数据矩阵化进行显卡温度分布多点采集数据处理，获取红外温度分布成像点温矩阵。3.如权利要求1所述的一种显卡故障的处理方法，其特征在于，S200包括：S201，根据显卡初始预设参数，获取显卡温度分布参考点温，通过标准矩阵化构建显卡温度分布参考点温矩阵；S202，将红外温度分布成像点温矩阵与显卡温度分布参考点温矩阵进行对比分析，获取红外温度分布成像点温矩阵异常元素；S203，根据红外温度分布成像点温矩阵异常元素，进行显卡超温故障判定，获取显卡超温故障判定信息。4.如权利要求1所述的一种显卡故障的处理方法，其特征在于，S300包括：S301，根据显卡超温故障判定信息，对显卡超温分布故障点位进行超温分布故障点位多点示警，获取超温分布故障多点示警信息；S302，将超温分布故障多点示警信息，通过信息指令转换关联自动转换为超温故障点位处理控制指令；S303，根据超温故障点位处理控制指令，进行超温故障点位控制指令智能控制，获取超温故障点位智能控制信息。5.如权利要求1所述的一种显卡故障的处理方法，其特征在于，S400包括：S401，在显卡发热元件分布区域设置显卡发热半导体制冷模块；通过显卡发热半导体制冷模块进行显卡发热元件的半导体制冷；S402，根据超温故障点位智能控制信息，设置液冷循环互补制冷模块；通过液冷循环互补制冷，在显卡半导体制冷出现超温故障时，进行液冷循环互补制冷；S403，根据超温故障点位智能控制信息，控制超温分布故障通过显卡半导体制冷或液冷循环互补制冷配合互补，进行显卡发热元件的电液互补故障处理。6.一种显卡故障的处理系统，其特征在于，包括：显卡温度红外检测分系统，通过红外测温传感探测显卡发热元件分布区域，进行显卡温度分布多点采集，通过数据矩阵化处...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵桂鑫，熊永平，
申请(专利权)人：深圳市芯盈科技有限公司，
类型：发明
国别省市：