配件在位测试方法及相关设备技术

本申请提供一种配件在位测试方法及相关设备。该方法应用于测试设备，包括：获取配件测试信息，并根据配件测试信息生成控制指令，配件测试信息用于指示待测试设备中各个端口对应的待测试配件；向待测试设备发送控制指令，控制指令用于指示待测试设备启用各个端口对应的待测试配件，停用各个端口对应的非待测试配件；获取待测试设备检测到的在位信息；在位信息用于指示待测试设备检测到的启用中的配件；根据在位信息与配件测试信息，确定配件测试信息对应的测试结果。该方法通过遍历测试待测试设备，可以确定待测试设备启用不同排列组合的配件时，待测试设备的通信是否受干扰，有效节省时间和人力的投入。效节省时间和人力的投入。效节省时间和人力的投入。

【技术实现步骤摘要】
配件在位测试方法及相关设备


[0001]本申请涉及新能源
，具体涉及一种配件在位测试方法、电子设备、测试系统及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]在相关技术中，当多个配件同时接入同一电子设备时，不同配件发送给电子设备的在位信号可能会产生通信干扰，导致测试设备不能够正常工作。因此，为了使电子设备能够正常工作，达到出厂标准，需要提前对电子设备进行配件在位测试，以检测电子设备是否存在上述缺陷。
[0003]在配件在位测试中，电子设备上的不同端口需要接入不同的配件，以测试对应的配件组合是否会发生通信干扰，电子设备能否正常检测各个配件的在位信号。进行该测试时，通常需要测试人员反复拔插配件和遍历所有的配件排列组合，操作繁琐且耗时长。

技术实现思路

[0004]鉴于此，本申请提供一种配件在位测试方法、电子设备、测试系统和计算机可读储存介质，能够检测电子设备启用不同排列组合的配件时，电子设备的通信情况，节省时间和人力的投入。
[0005]本申请实施例第一方面提供一种配件在位测试方法，应用于测试设备，包括：测试设备获取配件测试信息，并根据配件测试信息生成控制指令；配件测试信息用于指示待测试设备中各个端口对应的待测试配件；向待测试设备发送控制指令，控制指令用于指示待测试设备启用各个端口对应的待测试配件，停用各个端口对应的非待测试配件；获取待测试设备检测到的在位信息；在位信息用于指示待测试设备检测到的启用中的配件；根据在位信息与配件测试信息，确定配件测试信息对应的测试结果。
[0006]如此，测试设备获取配件测试信息后，可以根据配件测试信息生成控制指令，并向待测试设备发送控制指令，以使待测试设备可以根据控制指令启用各个端口对应的待测试配件，停用各个端口对应的非待测试配件。其中，待测试配件生产在位信息，非待测试配件不产生在位信息。接着，测试设备从待测试设备获取在位信息，比较在位信息指示的启用的配件与配件测试信息指示的待测试配件是否匹配，以确定测试结果，根据测试结果可以确定开启待测试配件的待测试设备是否存在通信干扰。同时，将待测试设备所有配件的排列组合依次设定为配件测试信息后，以此类推，测试设备遍历不同的排列组合测试待测试设备，可以确定待测试设备启用不同排列组合的配件时，待测试设备的通信是否受干扰。通过上述方法，测试设备可以通过控制指令控制待测试设备自行启用待测试配件，停用非待测试配件，不需要测试人员手动插拔相应的配件，极大地减少了测试人员的工作量，节省时间和人力的投入。
[0007]在一些实施例中，测试设备根据在位信息与配件测试信息，确定配件测试信息对应的测试结果，包括：当在位信息与配件测试信息相匹配时，确定配件测试信息对应的测试
结果为测试通过；当在位信息与配件测试信息不匹配时，确定配件测试信息对应的测试结果为测试失败。
[0008]在一些实施例中，测试设备获取待测试设备检测到的在位信息，向服务器发送信息获取请求，信息获取请求用于请求服务器返回待测试设备上传至服务器的在位信息；接收服务器发送的在位信息。
[0009]本申请实施例第二方面提供一种配件在位测试方法，应用于待测试设备，方法包括：待测试设备接收测试设备发送的控制指令，控制指令携带有配件测试信息，配件测试信息用于指示待测试设备的各个端口对应的待测试配件；启用各个端口对应的待测试配件，停用各个端口对应的非待测试配件；检测各个端口对应的在位信号，并根据各个端口对应的在位信号生成在位信息；向测试设备发送在位信息，以使测试设备根据在位信息与配件测试信息，确定配件测试信息对应的测试结果。
[0010]如此，待测试设备接收测试设备发送的控制指令后，可以根据控制指令启用各个端口对应的待测试配件，停用各个端口对应的非待测试配件。接着，待测试设备再检测各个端口对应的在位信号，并根据各个端口对应的在位信号生成在位信息。最后，待测试设备将在位信息发送给测试设备，以使测试设备可以根据在位信息指示的启用的配件，和配件测试信息中指示的待测试配件是否匹配，确定测试结果，根据测试结果可以确定启用待测试配件的待测试设备是否存在通信干扰。将待测试设备所有配件的排列组合依次设定为配件测试信息后，以此类推，测试设备遍历不同的排列组合测试待测试设备，可以确定待测试设备启用不同排列组合的配件时，待测试设备的通信是否受干扰。通过上述方法，测试设备可以待测试设备可以在接收到控制指令后，自行启用待测试配件，停用非待测试配件，不需要测试人员手动插拔相应的配件，极大地减少了测试人员的工作量，节省时间和人力的投入。
[0011]在一些实施例中，待测试设备启用各个端口对应的待测试配件，停用各个端口对应的非待测试配件，包括：向各个端口对应的待测试配件发送启用指令，以及，向各个端口对应的非待测试配件发送静默指令；启用指令用于指示待测试配件向待测试设备发送在位信号，静默指令用于指示非待测配件停止向待测试设备发送在位信号。
[0012]在一些实施例中，待测试设备启用各个端口对应的待测试配件，停用各个端口对应的非待测试配件，包括：控制各个端口对应连接的开关电路闭合与待测试配件连接的开关，以及，断开与非待测试配件连接开关。
[0013]本申请实施例第三方面提供一种电子设备，包括处理器及存储器，存储器用于存储指令，处理器用于调用存储器中的指令，使得电子设备执行上述第一方面涉及的方法。
[0014]本申请实施例第四方面提供一种电子设备，包括处理器及存储器，电子设备包括多个端口，各个端口用于连接不同类型的配件，存储器用于存储指令，处理器用于调用存储器中的指令，使得电子设备执行上述第二方面涉及的方法。
[0015]本申请实施例第五方面提供一种测试系统，包括如第三方面涉及的电子设备和如第四方面涉及的电子设备。
[0016]本申请实施例第六方面提供一种计算机可读存储介质，其上存储有至少一条计算机指令，计算机指令由处理器加载并用于执行如第一方面涉及的方法和第二方面涉及的方法。
附图说明
[0017]图1是本申请实施例的待测试设备的结构示意图。
[0018]图2是本申请实施例的待测试设备的另一结构示意图。
[0019]图3是本申请实施例的配件在位测试方法的应用场景图。
[0020]图4是本申请实施例的配件在位测试方法的流程示意图。
[0021]图5是本申请实施例的配件在位测试方法的流程示意图。
[0022]图6是本申请实施例的配件在位测试方法的流程示意图。
[0023]图7是本申请实施例的配件在位测试方法的另一应用场景图。
[0024]图8是本申请实施例的配件在位测试方法的流程示意图。
[0025]图9是本申请实施例的配件在位测试方法的又一应用场景图。
[0026]图10是本申请实施例的电子设备的结构示意图。
[0027]图11是本申请实施例的另一电子设备的结构示意图。
[0028]图12是本申请实施例的测试系统的结构示意图。
[0029]图13是本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种配件在位测试方法，其特征在于，应用于测试设备，所述方法包括：获取配件测试信息，并根据所述配件测试信息生成控制指令，所述配件测试信息用于指示待测试设备中各个端口对应的待测试配件；向所述待测试设备发送所述控制指令，所述控制指令用于，指示所述待测试设备启用各个所述端口对应的待测试配件，及停用各个所述端口对应的非待测试配件；获取所述待测试设备检测到的在位信息，所述在位信息用于指示所述待测试设备检测到的启用中的配件；根据所述在位信息与所述配件测试信息，确定所述配件测试信息对应的测试结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述在位信息与所述配件测试信息，确定所述配件测试信息对应的测试结果，包括：当所述在位信息与所述配件测试信息相匹配时，确定所述配件测试信息对应的测试结果为测试通过；当所述在位信息与所述配件测试信息不匹配时，确定所述配件测试信息对应的测试结果为测试失败。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取所述待测试设备检测到的在位信息，包括：向服务器发送信息获取请求，所述信息获取请求用于请求所述服务器返回所述待测试设备上传至所述服务器的在位信息；接收所述服务器发送的在位信息。4.一种配件在位测试方法，其特征在于，应用于待测试设备，所述方法包括：接收测试设备发送的控制指令，所述控制指令携带有配件测试信息，所述配件测试信息用于指示所述待测试设备的各个端口对应的待测试配件；启用各个所述端口对应的待测试配件，停用各个所述端口对应的非待测试配件；检测各个所述端口对应的在位信号，并根据各个所述端口对应的在位信号生成在位信息；向所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈熙，王雷，吴东，安业宏，
申请(专利权)人：深圳市正浩创新科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：