一种兼容不同内存的测试诊断治具制造技术

本实用新型专利技术实施例公开了一种兼容不同内存的测试诊断治具，包括一电路板，电路板的上方设有用于传输DDR3内存信号的第一金手指，电路板的下方设有用于传输DDR4内存信号的第二金手指，电路板的正面设有供电电路和用于灯光指示内存信号的连接状态的第一灯光控制电路，电路板的反面设有用于灯光指示内存信号的连接状态的第二灯光控制电路；供电电路连接第一灯光控制电路和第二灯光控制电路，第一灯光控制电路连接第一金手指和第二金手指，第二灯光控制电路连接第一金手指和第二金手指，第一金手指或第二金手指插入待测主板上的内存插槽中。将不同的金手指插入内存插槽就能对相应的内存进行测试，解决了现有内存测试诊断治具不能兼容测试的问题。能兼容测试的问题。能兼容测试的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种兼容不同内存的测试诊断治具


[0001]本技术涉及电子
，尤其涉及一种兼容不同内存的测试诊断治具。

技术介绍

[0002]SO
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DIMM(Small Outline Dual In
‑
line Memory Module)内存条，即是小型双列直插式内存模块，它是一种类型的计算机内存模组。相对于DIMM内存条来说，SO
‑
DIMM内存条具有更小的外形尺寸(大概是正常DIMM内存条尺寸的一半)。因此，SO
‑
DIMM内存条主要用于笔记本电脑之类的对内存尺寸有较高要求的终端设备中。
[0003]现有SO
‑
DIMM内存条的类型包括DDR3内存(SO
‑
DIMM DDR3)和DDR4内存(SO
‑
DIMM DDR4)，两者的结构设计存在区别，例如DDR4内存接口与DDR3不同，导致DDR4内存的金手指触点达到了284个，每一个触点间距只有0.85mm；而DDR3内存的金手指触点是240个，间距1mm。DDR4内存的金手指部分设计成了中间稍突出，边缘收矮的形状，在中央的高点和两端的低点以平滑曲线过渡；导致DDR4内存是弯曲效果且DDR4内存的防呆口位置与DDR3内存比较起来更靠中间一点。
[0004]由于DDR3内存与DDR4内存的结构不同，目前市面上大多都是单一的SO
‑
DIMM内存测试诊断治具，只能对DDR3内存或DDR4内存单独进行测试，不能同时兼容DDR3内存和DDR4内存。

技术实现思路

[0005]针对上述技术问题，本技术实施例提供了一种兼容不同内存的测试诊断治具，以解决现有内存测试诊断治具不能兼容DDR3内存和DDR4内存的问题。
[0006]本技术实施例提供一种兼容不同内存的测试诊断治具，插入待测主板上的内存插槽中，其包括一电路板，所述电路板的上方设有用于传输DDR3内存信号的第一金手指，电路板的下方设有用于传输DDR4内存信号的第二金手指，电路板的正面设有供电电路和用于灯光指示内存信号的连接状态的第一灯光控制电路，电路板的反面设有用于灯光指示内存信号的连接状态的第二灯光控制电路；所述供电电路连接第一灯光控制电路和第二灯光控制电路，第一灯光控制电路连接第一金手指和第二金手指，第二灯光控制电路连接第一金手指和第二金手指，第一金手指或第二金手指插入待测主板上的内存插槽中。
[0007]可选地，所述的兼容不同内存的测试诊断治具中，所述内存插槽是DDR3内存插槽时，第一金手指插入DDR3内存插槽中，第一灯光控制电路和第二灯光控制电路通过第一金手指与主板上的处理器连接；
[0008]所述供电电路用于输出供电电压给第一灯光控制电路和第二灯光控制电路；
[0009]所述第一灯光控制电路根据对应开关操作来控制正面灯光的亮灭状态，灯光的亮度用于反馈DDR3内存插槽与处理器之间通道的通断状态；
[0010]所述第二灯光控制电路根据对应开关操作来控制反面灯光的亮灭状态，灯光的亮度用于反馈DDR3内存插槽与处理器之间通道的通断状态。
[0011]可选地，所述的兼容不同内存的测试诊断治具中，所述内存插槽是DDR4内存插槽时，第二金手指插入DDR4内存插槽中，第一灯光控制电路和第二灯光控制电路通过第二金手指与主板上的处理器连接；
[0012]所述供电电路用于输出供电电压给第一灯光控制电路和第二灯光控制电路；
[0013]所述第一灯光控制电路根据对应开关操作来控制正面灯光的亮灭状态，灯光的亮度用于反馈DDR4内存插槽与处理器之间通道的通断状态；
[0014]所述第二灯光控制电路根据对应开关操作来控制反面灯光的亮灭状态，灯光的亮度用于反馈DDR4内存插槽与处理器之间通道的通断状态。
[0015]可选地，所述的兼容不同内存的测试诊断治具中，所述供电电路包括电池、第一电阻和第一电容；所述电池的正极连接第一电阻的一端和第一电容的一端，电池的负极和第一电容的另一端接地，第一电阻的另一端是供电端。
[0016]可选地，所述的兼容不同内存的测试诊断治具中，所述第一电阻是限流电阻，阻值为1KΩ。
[0017]可选地，所述的兼容不同内存的测试诊断治具中，所述第一灯光控制电路包括第一开关和正面灯光模组，所述第一开关的第1脚连接供电端，第一开关的第2脚连接正面灯光模组的输入端，第一开关的第3脚和第4脚均接地，正面灯光模组的输出端连接第一金手指和第二金手指。
[0018]可选地，所述的兼容不同内存的测试诊断治具中，所述第二灯光控制电路包括第二开关和反面灯光模组，所述第二开关的第1脚连接供电端，第二开关的第2脚连接反面灯光模组的输入端，第二开关的第3脚和第4脚均接地，反面灯光模组的输出端连接第一金手指和第二金手指。
[0019]可选地，所述的兼容不同内存的测试诊断治具中，所述正面灯光模组包括115颗LED灯，各颗LED灯的正极均连接供电端，各颗LED灯的负极分别连接第一金手指和第二金手指。
[0020]可选地，所述的兼容不同内存的测试诊断治具中，所述反面灯光模组包括115颗LED灯，各颗LED灯的正极均连接供电端，各颗LED灯的负极分别连接第一金手指和第二金手指。
[0021]可选地，所述的兼容不同内存的测试诊断治具中，所述正面灯光模组和反面灯光模组中传输的信号相同，其中64颗LED灯用于一对一传输64个数据信号，18颗LED灯用于一对一传输18个DQS信号，17颗LED灯用于一对一传输17个地址信号，11颗LED灯用于一对一传输11个控制信号，4颗LED灯用于一对一传输4个时钟信号，1颗LED灯用于传输复位信号。
[0022]本技术实施例提供的技术方案中，兼容不同内存的测试诊断治具插入待测主板上的内存插槽中，所述测试诊断治具包括一电路板，所述电路板的上方设有用于传输DDR3内存信号的第一金手指，电路板的下方设有用于传输DDR4内存信号的第二金手指，电路板的正面设有供电电路和用于灯光指示内存信号的连接状态的第一灯光控制电路，电路板的反面设有用于灯光指示内存信号的连接状态的第二灯光控制电路；所述供电电路连接第一灯光控制电路和第二灯光控制电路，第一灯光控制电路连接第一金手指和第二金手指，第二灯光控制电路连接第一金手指和第二金手指。该测试诊断治具上方用于测试DDR3内存，下方用于测试DDR4内存，将不同的金手指插入内存插槽就能对相应的内存进行测试，
实现了一个测试诊断治具兼容DDR3内存和DDR4内存测试的功能；并且正面的第一灯光控制电路对DDR3内存和DDR4内存都能灯光指示内存信号的连接状态，反面的第二灯光控制电路也能两个内存灯光指示内存信号的连接状态；提高了治具的兼容性和可使用范围。
附图说明
[0023]图1为本技术实施例中测试诊断治具的结构框图。
[0024]图2为本技术实施例中测试诊断治具的电路板正面示意图。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种兼容不同内存的测试诊断治具，插入待测主板上的内存插槽中，其特征在于，包括一电路板，所述电路板的上方设有用于传输DDR3内存信号的第一金手指，电路板的下方设有用于传输DDR4内存信号的第二金手指，电路板的正面设有供电电路和用于灯光指示内存信号的连接状态的第一灯光控制电路，电路板的反面设有用于灯光指示内存信号的连接状态的第二灯光控制电路；所述供电电路连接第一灯光控制电路和第二灯光控制电路，第一灯光控制电路连接第一金手指和第二金手指，第二灯光控制电路连接第一金手指和第二金手指，第一金手指或第二金手指插入待测主板上的内存插槽中。2.根据权利要求1所述的兼容不同内存的测试诊断治具，其特征在于，所述内存插槽是DDR3内存插槽时，第一金手指插入DDR3内存插槽中，第一灯光控制电路和第二灯光控制电路通过第一金手指与主板上的处理器连接；所述供电电路用于输出供电电压给第一灯光控制电路和第二灯光控制电路；所述第一灯光控制电路根据对应开关操作来控制正面灯光的亮灭状态，灯光的亮度用于反馈DDR3内存插槽与处理器之间通道的通断状态；所述第二灯光控制电路根据对应开关操作来控制反面灯光的亮灭状态，灯光的亮度用于反馈DDR3内存插槽与处理器之间通道的通断状态。3.根据权利要求1所述的兼容不同内存的测试诊断治具，其特征在于，所述内存插槽是DDR4内存插槽时，第二金手指插入DDR4内存插槽中，第一灯光控制电路和第二灯光控制电路通过第二金手指与主板上的处理器连接；所述供电电路用于输出供电电压给第一灯光控制电路和第二灯光控制电路；所述第一灯光控制电路根据对应开关操作来控制正面灯光的亮灭状态，灯光的亮度用于反馈DDR4内存插槽与处理器之间通道的通断状态；所述第二灯光控制电路根据对应开关操作来控制反面灯光的亮灭状态，灯光的亮度用于反馈DDR4内存插槽与处理器之间通道的通断状态。4.根据权利要求2或3所...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁永波，李胜，姚海望，刘其海，李浩，孙红敏，
申请(专利权)人：深圳微步信息股份有限公司，
类型：新型
国别省市：