一种集成电路总线接口功能测试用板卡及测试方法技术

本发明专利技术涉及集成电路总线接口功能测试领域，具体公开一种集成电路总线接口功能测试用板卡及测试方法，板卡上设置有集成电路总线对接接口、地址配置模块和电源模块；集成电路总线对接接口与地址配置模块连接，用于在测试时与待测集成电路总线接口连接，供测试节点通过待测集成电路总线接口读取板卡地址；地址配置模块用于给板卡设置板卡地址；电源模块分别与集成电路总线对接接口、地址配置模块连接，给集成电路总线对接接口、地址配置模块供电。本发明专利技术提供可设置地址的板卡，测试节点直接读取板卡地址来检测集成电路总线接口的功能是否正常，测试效率高，节省时间，且板卡结构简单，成本低。成本低。成本低。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路总线接口功能测试用板卡及测试方法


[0001]本专利技术涉及集成电路总线接口功能测试领域，具体涉及一种集成电路总线接口功能测试用板卡及测试方法。

技术介绍

[0002]集成电路总线（I2C）是一种简单、双向二线制同步串行总线，它只需要两根线即可在连接于总线上的器件之间传送信息。集成电路总线包括串行数据线（SDA）与串行时钟线（SCL）两根数据传输线，并通过串行数据线与串行时钟线在器件之间传输信息。作为服务器使用范围最广的总线，基板管理控制器主要通过集成电路总线对集成电路总线设备进行管理。而集成电路总线接口的功能是否正常，直接影响着器件之间的数据能否正常传输，因此需要对集成电路总线接口的功能进行测试，以保障服务器正常运行。
[0003]目前，测试服务器集成电路总线接口时，需要接上功能扩展卡或硬盘背板等，利用基板管理控制器工具读取功能扩展卡或硬盘背板的现场可更换单元（FRU）信息，判断现场可更换单元信息能否正常获取来对集成电路总线接口的集成电路总线信号进行测试。这种方法需要将待测服务器主板开机，进入操作系统（OS）成功识别功能扩本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路总线接口功能测试用板卡，其特征在于，板卡上设置有集成电路总线对接接口、地址配置模块和电源模块；所述集成电路总线对接接口：与地址配置模块连接，用于在测试时与待测集成电路总线接口连接，供测试节点通过待测集成电路总线接口读取板卡地址；所述地址配置模块：用于给板卡设置板卡地址；所述电源模块：分别与集成电路总线对接接口、地址配置模块连接，给集成电路总线对接接口、地址配置模块供电。2.根据权利要求1所述的集成电路总线接口功能测试用板卡，其特征在于，集成电路总线对接接口包括串行数据线引脚、串行时钟线引脚和接地引脚，在测试时分别与待测集成电路总线接口的串行数据线引脚、串行时钟线引脚、接地引脚连接。3.根据权利要求2所述的集成电路总线接口功能测试用板卡，其特征在于，集成电路总线对接接口还包括电压输入引脚，在测试时可与待测集成电路总线接口的供电引脚连接。4.根据权利要求3所述的集成电路总线接口功能测试用板卡，其特征在于，集成电路总线对接接口包括线对板连接器J1、MOS管Q5、电阻R4、电阻R11和电阻R12；线对板连接器J1的第1引脚与MOS管Q5的漏极连接，MOS管Q5的源极连接板卡的供电电压，MOS管Q5的栅极经电阻R12接地；线对板连接器J1的第1引脚还可与待测集成电路总线接口的供电引脚连接；线接板连接器J1的第2引脚接地，第3引脚通过电阻R4与待测集成电路总线接口的串行时钟线引脚连接，第4引脚通过电阻R11与待测集成电路总线接口的串行数据线引脚连接。5.根据权利要求4所述的集成电路总线接口功能测试用板卡，其特征在于，电源模块包括供电电池PV1、MOS管Q1、MOS管Q2、电阻R2、电阻R6、电阻R8、电阻R15和拨动开关K1；供电电池PV1的第2端连接，第1端与MOS管Q1的漏极连接，MOS管Q1的源极与MOS管Q2的源极连接，MOS管Q2的漏极输出板卡的供电电压；MOS管Q1的栅极经电阻R8接地；电阻R15的第一端接入待测集成电路总线接口输送的供电电源，第二端与MOS管Q1的栅极连接；MOS管Q2的栅极经电阻R6连接拨动开关K1的第2引脚连接，电阻R2一端连接MOS管Q2的源极，一端连接MOS管Q2的栅极；拨动开关K1的第1引脚连接拨动键，第3引脚接地。6.根据权利要求5所述的集成电路总线接口功能测试用板卡，其特征在于，电源模块还包括电阻R1、电阻R3、电阻R7、MOS管Q3和发光二极管D1；电阻R1的第一端与MOS管Q2的漏极连接，第二端连接发光二极管D1的正极，发光二极管D...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵肖，俞钢，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：