一种雷达二阶互调虚警效应建模方法及系统技术方案

本发明专利技术公开一种雷达二阶互调虚警效应建模方法及系统，涉及复杂电磁环境适应性试验评估领域，方法包括获取受试雷达工作环境电磁辐射干扰频谱；根据所述干扰频谱和二阶互调虚警敏感频偏范围确定单频干扰信号；根据所述单频干扰信号和二阶互调虚警干扰敏感频差范围确定二阶互调虚警的双频干扰组合；根据所述双频干扰组合利用普适性二阶互调虚警效应模型确定二阶互调虚警效应指数；根据所述二阶互调虚警效应指数确定受试雷达的二阶互调虚警干扰预测结果。本发明专利技术能实现对受试雷达复杂电磁环境二阶互调虚警效应的准确评估。境二阶互调虚警效应的准确评估。境二阶互调虚警效应的准确评估。

【技术实现步骤摘要】
一种雷达二阶互调虚警效应建模方法及系统


[0001]本专利技术涉及复杂电磁环境适应性试验评估领域，特别是涉及一种雷达二阶互调虚警效应建模方法及系统。

技术介绍

[0002]信息化条件下的联合作战将是基于信息系统的体系对抗，作战任务的实施通常需要运用信息系统把各种作战力量、作战单元、作战要素融合集成为整体作战能力，用频装备具有不可替代的作用。用频装备能否具备良好的电磁环境适应性，已经成为完成战场情报侦察、目标探测识别、联合指挥控制、武器精确攻击以及多军兵种协同作战任务的关键性、决定性因素之一，直接影响战争的成败。
[0003]装备的复杂电磁环境适应性必须通过试验来验证，但现有电磁兼容性试验技术和方法标准GJB 151B、GJB8848、MIL
‑
STD
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461F、MIL
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STD
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464C、STAN
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59
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411、IEC 61000
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4、CISPR
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16等仅能进行单频、单源电磁辐射抗扰度试验，难以反映受试装备的多频、多源效应耦合及互调敏感特性，导致通过电磁辐射抗扰度试验测试的装备在实际运用环境中经常出现电磁干扰现象，提高其抗电磁干扰能力缺乏设计依据，严重制约了装备战技性能的正常发挥。
[0004]多年来，国内外学者已经认识到上述问题的重要性并开展了相关研究。英国电磁兼容性资深专家KeithArmstrong分析了用于汽车功能安全的电磁兼容性测试的不足之处，认为传统电磁兼容性试验采用的单频电磁辐射没有考虑同时出现的多频干扰在互调或检波过程中产生的新频率成份对受试设备的影响，已不能满足用频设备复杂电磁环境适应性的试验要求，多频电磁辐射对用频设备的影响不容忽视。美国学者MichelMardiguian指出通过单频敏感度测试的设备对多个同时出现的干扰信号更加敏感，尽管此时各个干扰信号的幅值要低于单频敏感度阈值。Duffy等人分别研究了多源、多频电磁辐射对受试雷达的联合效应及互调问题，提出了一种混响室多源电磁干扰的测试方法，但方法的普适性未能有效验证，后续研究进展未见报道。
[0005]复杂电磁环境适应性试验与电磁兼容性标准规定的电磁辐射抗扰度试验的最大差别是辐射源的多少：多源与单源。复杂电磁环境适应性试验大多以现役大功率用频装备、电子对抗装备为主，营造试验所需的电磁环境，这类试验考核方法虽然能够准确检验被试装备与配试装备间的电磁兼容性能，但由于配试装备的辐射频率不能根据需要任意变化、辐射强度也难以连续调节，因此，这类试验方法难以确定电磁辐射对被试装备的作用规律和敏感频段，试验结果的普适性难以保证。尤其是利用各种干扰机营造复杂电磁环境，由于事先知道对方用频装备的工作频率、工作制式，电磁干扰作用明显放大。
[0006]评价受试装备的复杂电磁环境适应性，理论上可以采用多个实装或半实物模拟系统构建复杂电磁环境进行试验评估。但是，电磁环境错综复杂、模拟难以穷尽，“仿真如真”从根本上难以实现，对受试装备可能面临的任意多源辐射组合情况，不可能全部通过电磁环境模拟和效应试验的方法一一进行测试和评价，工程上不具有普适性。因此，用频装备的
复杂电磁环境适应性只能通过建模评估方法来解决。

技术实现思路

[0007]本专利技术的目的是提供一种雷达二阶互调虚警效应建模方法及系统，以实现对受试雷达复杂电磁环境二阶互调虚警效应的准确评估。
[0008]为实现上述目的，本专利技术提供了如下方案：
[0009]本专利技术提供的一种雷达二阶互调虚警效应建模方法，包括：
[0010]获取受试雷达工作环境电磁辐射干扰频谱；
[0011]根据所述干扰频谱和二阶互调虚警敏感频偏范围确定单频干扰信号；所述单频干扰信号为处于二阶互调虚警敏感频偏范围内的单频干扰信号；
[0012]根据所述单频干扰信号和二阶互调虚警干扰敏感频差范围确定二阶互调虚警的双频干扰组合；
[0013]根据所述双频干扰组合利用普适性二阶互调虚警效应模型确定二阶互调虚警效应指数；所述普适性二阶互调虚警效应模型是通过对二阶互调虚警效应模型进行普适性修正得到的；
[0014]根据所述二阶互调虚警效应指数确定受试雷达的二阶互调虚警干扰预测结果；所述受试雷达的二阶互调虚警干扰预测结果为出现二阶互调虚警干扰的电磁辐射干扰频率组合或受试雷达不会出现二阶互调虚警干扰。
[0015]本专利技术还提供一种雷达二阶互调虚警效应建模系统，包括：
[0016]获取模块，用于获取受试雷达工作环境电磁辐射干扰频谱；
[0017]单频干扰信号确定模块，用于根据所述干扰频谱和二阶互调虚警敏感频偏范围确定单频干扰信号；所述单频干扰信号为处于二阶互调虚警敏感频偏范围内的单频干扰信号；
[0018]二阶互调虚警的双频干扰组合确定模块，用于根据所述单频干扰信号和二阶互调虚警干扰敏感频差范围确定二阶互调虚警的双频干扰组合；
[0019]二阶互调虚警效应指数确定模块，用于根据所述双频干扰组合利用普适性二阶互调虚警效应模型确定二阶互调虚警效应指数；所述普适性二阶互调虚警效应模型是通过对二阶互调虚警效应模型进行普适性修正得到的；
[0020]二阶互调虚警干扰预测结果确定模块，用于根据所述二阶互调虚警效应指数确定受试雷达的二阶互调虚警干扰预测结果；所述受试雷达的二阶互调虚警干扰预测结果为出现二阶互调虚警干扰的电磁辐射干扰频率组合或受试雷达不会出现二阶互调虚警干扰。
[0021]根据本专利技术提供的具体实施例，本专利技术公开了以下技术效果：
[0022]本专利技术获取受试雷达工作环境电磁辐射干扰频谱；根据所述干扰频谱和二阶互调虚警敏感频偏范围确定单频干扰信号；所述单频干扰信号为处于二阶互调虚警敏感频偏范围内的单频干扰信号；根据所述单频干扰信号和二阶互调虚警干扰敏感频差范围确定二阶互调虚警的双频干扰组合；根据所述双频干扰组合利用普适性二阶互调虚警效应模型确定二阶互调虚警效应指数；所述普适性二阶互调虚警效应模型是通过对二阶互调虚警效应模型进行普适性修正得到的；根据所述二阶互调虚警效应指数确定受试雷达的二阶互调虚警干扰预测结果；所述受试雷达的二阶互调虚警干扰预测结果为出现二阶互调虚警干扰的电
磁辐射干扰频率组合或受试雷达不会出现二阶互调虚警干扰，从而实现对受试雷达复杂电磁环境二阶互调虚警效应的准确评估。
附图说明
[0023]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0024]图1为受试雷达单频电磁辐射临界阻塞干扰场强图；
[0025]图2为无干扰情况下雷达探测近距离目标成像图；
[0026]图3为单频电磁辐射作用下雷达探测近距离目标成像图；
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种雷达二阶互调虚警效应建模方法，其特征在于，包括：获取受试雷达工作环境电磁辐射干扰频谱；根据所述干扰频谱和二阶互调虚警敏感频偏范围确定单频干扰信号；所述单频干扰信号为处于二阶互调虚警敏感频偏范围内的单频干扰信号；根据所述单频干扰信号和二阶互调虚警干扰敏感频差范围确定二阶互调虚警的双频干扰组合；根据所述双频干扰组合利用普适性二阶互调虚警效应模型确定二阶互调虚警效应指数；所述普适性二阶互调虚警效应模型是通过对二阶互调虚警效应模型进行普适性修正得到的；根据所述二阶互调虚警效应指数确定受试雷达的二阶互调虚警干扰预测结果；所述受试雷达的二阶互调虚警干扰预测结果为出现二阶互调虚警干扰的电磁辐射干扰频率组合或受试雷达不会出现二阶互调虚警干扰。2.根据权利要求1所述的雷达二阶互调虚警效应建模方法，其特征在于，二阶互调虚警敏感频偏范围的确定过程包括：对受试雷达进行单频电磁辐射虚警效应试验，确定虚警敏感电平；根据所述虚警敏感电平，调整受试雷达的辐射干扰频偏，保持双频电磁辐射二阶互调频差不变，对所述受试雷达进行二阶互调虚警临界干扰效应试验，确定二阶互调虚警干扰因子随辐射频偏的变化规律；根据所述二阶互调虚警干扰因子随辐射频偏的变化规律确定二阶互调虚警敏感频偏范围。3.根据权利要求1所述的雷达二阶互调虚警效应建模方法，其特征在于，二阶互调虚警干扰敏感频差范围的确定过程包括：对所述受试雷达进行二阶互调虚警临界干扰效应试验，确定低频虚警干扰电平相对值随互调频差的变化规律；根据所述变化规律确定二阶互调虚警干扰敏感频差范围。4.根据权利要求1所述的雷达二阶互调虚警效应建模方法，其特征在于，所述二阶互调虚警效应模型为：其中，R
F2
(Δf)为用于二阶互调虚警干扰因子、虚警干扰电平相对值测试的二阶互调虚警干扰效应指数，β
F
(Δf1)为辐射干扰频偏Δf1对应的二阶互调虚警干扰因子，β
F
(Δf2)为辐射干扰频偏Δf2对应的二阶互调虚警干扰因子，X
r
(Δf)为虚警干扰电平相对值，E
10
(f1)为干扰信号频率f1对应的单频阻塞临界干扰场强，E
20
(f2)为干扰信号频率f2对应的单频阻塞临界干扰场强，E1(f1)为参与二阶互调虚警干扰的频率f1...

【专利技术属性】
技术研发人员：魏光辉，潘晓东，万浩江，卢新福，杜雪，
申请(专利权)人：中国人民解放军陆军工程大学，
类型：发明
国别省市：