本发明专利技术涉及一种开关机械特性测试仪校验装置，包括时间行程控制器、电磁加速平台、行程滑块、光栅传感器和行程显示器，所述行程滑块和光栅传感器设置于电磁加速平台上，所述电磁加速平台用于驱动行程滑块运动，所述光栅传感器用于检测行程滑块的运动行程，所述电磁加速平台电连接时间行程控制器，所述行程滑块电连接光栅传感器，所述光栅传感器电连接行程显示器。本发明专利技术基于电磁加速原理，通过调整电磁加速装置的时间输入信号以及行程输入信号，来改变动作机构的时间值和行程值，再通过该时间值和行程值来校验开关机械测试仪的时间测试、速度测试以及行程测试的准确性，改善不同种类开关机械特性测试仪测试功能的准确性。关机械特性测试仪测试功能的准确性。关机械特性测试仪测试功能的准确性。
【技术实现步骤摘要】
一种开关机械特性测试仪校验装置
[0001]本专利技术涉及一种开关机械特性测试仪校验装置。
技术介绍
[0002]开关机械特性测试仪可以检测各类高压开关的机械特性，包括分合闸时间、弹跳时间、开关行程、分合闸速度等各类机械性能，只有通过这些机械性能测试，才能确保高压开关的机械性能稳定可靠，保证供电回路的安全性，实现电网系统的安全运行。因此，对开关机械特性测试仪校验工作就非常重要，其校验手段的功能完整性、准确性就变得尤为重要。
[0003]目前针对开关机械特性测试仪的功能性校验还只是停留在时间方面的校验，即校验和检测开关机械特性测试仪的时间基准及时间测量功能，而对于行程、速度方面的校验还未有相应方法和装置进行校验，不能对不同种类开关机械特性测试仪的行程和速度测试功能进行校验。
技术实现思路
[0004]本专利技术要解决的技术问题就是提供一种开关机械特性测试仪校验装置，可以对不同种类开关机械特性测试仪进行行程和速度校验，改善不同种类开关机械特性测试仪测试功能的准确性。
[0005]为了解决上述技术问题，本专利技术是通过以下技术方案实现的：一种开关机械特性测试仪校验装置，包括时间行程控制器、电磁加速平台、行程滑块、光栅传感器和行程显示器，所述行程滑块和光栅传感器设置于电磁加速平台上，所述电磁加速平台用于驱动行程滑块运动，所述光栅传感器用于检测行程滑块的运动行程，所述电磁加速平台电连接时间行程控制器，所述行程滑块电连接光栅传感器，所述光栅传感器电连接行程显示器。
[0006]作为优选，所述电磁加速平台上设有接近开关，所述接近开关相应于开关机械特性测试仪并与行程滑块配合工作。
[0007]作为优选，所述开关机械特性测试仪包括分合闸控制信号线、端口时间测试线和直线传感器，所述分合闸控制信号线连接时间行程控制器，所述端口时间测试线连接接近开关，所述直线传感器固定于行程滑块上。
[0008]作为优选，当接近开关与行程滑块接触时将开关机械特性测试仪的端口时间测试线导通；当接近开关与行程滑块分开时将开关机械特性测试仪的端口时间测试线断开。
[0009]作为优选，所述电磁加速平台包括U型底座，设置于U型底座两内侧壁的电磁加速线圈。
[0010]作为优选，所述行程滑块通过高速导轨设置于U型底座的底面，所述高速导轨设置于U型底座的底面中间位置并沿其长度方向分布。
[0011]作为优选，所述接近开关设置于U型底座一侧壁的顶面端部。
[0012]作为优选，所述光栅传感器包括光栅头和光栅尺，所述光栅尺设置于U型底座另一
侧壁的顶面，所述光栅头设置于行程滑块上。
[0013]作为优选，所述行程滑块和光栅头的初始位置为当行程滑块和光栅头位于与接近开关对应端时。
[0014]作为优选，所述行程滑块同时带动光栅头和开关机械特性测试仪的直线传感器动作。
[0015]综上所述，本专利技术的优点：
[0016]1.本专利技术基于电磁加速原理，通过调整电磁加速装置的时间输入信号以及行程输入信号，来改变动作机构的时间值和行程值，再通过该时间值和行程值来校验开关机械测试仪的时间测试、速度测试以及行程测试的准确性，校验不同断路器机械特性测试仪的性能特点，为断路器性能判断、科研教学培训等工作提供参考依据；
[0017]2.可实现断路器时间特性的模拟，根据设定的时间信号，模拟开关的分合闸时间，可用于开关机械特性测试仪的时间校验；
[0018]3.可实现断路器行程特性的模拟，根据设定的行程信号，模拟开关的开关动作行程，可用于开关机械特性测试仪的行程校验；
[0019]4.可实现断路器速度特性的模拟，通过调整设定的时间信号和行程信号，模拟开关不同的动作速度，可用于开关机械特性测试仪的动作校验。
附图说明
[0020]图1为本专利技术的结构示意图；
[0021]图2为本专利技术中电磁加速平台的结构示意图；
[0022]图3为本专利技术中电磁加速平台的主视图。
[0023]附图标记：
[0024]1、时间行程控制器；2、电磁加速平台；21、U型底座；22、电磁加速线圈；3、行程滑块；4、光栅传感器；41、光栅头；42、光栅尺；5、行程显示器；6、接近开关；7、高速导轨；8、直线传感器。
具体实施方式
[0025]为了更清楚的阐释本专利技术的整体构思，下面结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步说明。需要理解的是，下述的“上”、“下”、“左”、“右”、“纵向”、“横向”、“内”、“外”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”等指示方位或位置关系的词语仅基于附图所示的方位或位置关系，仅为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置/元件必须具有特定的方位或以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。
[0026]一种开关机械特性测试仪校验装置，如图1
‑
图3，包括时间行程控制器1、电磁加速平台2、行程滑块3、光栅传感器4和行程显示器5，所述行程滑块3和光栅传感器4设置于电磁加速平台2上，所述电磁加速平台2用于驱动行程滑块3运动，所述光栅传感器4用于检测行程滑块3的运动行程，所述电磁加速平台2电连接时间行程控制器1，所述行程滑块3电连接光栅传感器4，所述光栅传感器4电连接行程显示器5。
[0027]为了便于检测和同步反馈信息，所述开关机械特性测试仪包括分合闸控制信号线、端口时间测试线和直线传感器8，所述分合闸控制信号线连接时间行程控制器1，所述端
口时间测试线连接接近开关6，所述直线传感器8固定于行程滑块3上。所述电磁加速平台2上设有接近开关6，所述接近开关6相应于端口时间测试线的检测信号，并与行程滑块3配合工作。当接近开关6与行程滑块3接触时将开关机械特性测试仪的端口时间测试线导通；当接近开关6与行程滑块3分开时将开关机械特性测试仪的端口时间测试线断开。
[0028]为了便于装配及提高整体结构的紧凑性，所述电磁加速平台2包括U型底座21，设置于U型底座21两内侧壁的电磁加速线圈22。所述行程滑块3通过高速导轨7设置于U型底座21的底面，所述高速导轨7设置于U型底座21的底面中间位置并沿其长度方向分布。所述接近开关6设置于U型底座21一侧壁的顶面端部。所述光栅传感器4包括光栅头41和光栅尺42，所述光栅尺42设置于U型底座21另一侧壁的顶面，所述光栅头41设置于行程滑块3上。所述行程滑块3和光栅头41的初始位置为当行程滑块3和光栅头41位于与接近开关6对应端时。所述行程滑块3同时带动光栅头41和开关机械特性测试仪的直线传感器8动作。
[0029]操作时：
[0030]当进行开关机械特性测试仪合闸校验时，首先将开关机械特性测试仪的分合闸控制信号线连接到时间行程控制器1，接着将开关机械特性测试仪的端口时间测试线连接到接近开关6，然后将开关机械特性测试仪的直线传感器8与行程滑块3同向固定安装。另外对时间行程控制器1进行设置，比如设置合闸时间为100ms，设置行程为50mm，本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种开关机械特性测试仪校验装置，与开关机械特性测试仪连接配合检测，其特征在于：包括时间行程控制器、电磁加速平台、行程滑块、光栅传感器和行程显示器，所述行程滑块和光栅传感器设置于电磁加速平台上，所述电磁加速平台用于驱动行程滑块运动，所述光栅传感器用于检测行程滑块的运动行程，所述电磁加速平台电连接时间行程控制器，所述行程滑块电连接光栅传感器，所述光栅传感器电连接行程显示器。2.根据权利要求1所述的一种开关机械特性测试仪校验装置，其特征在于：所述电磁加速平台上设有接近开关，所述接近开关相应于开关机械特性测试仪并与行程滑块配合工作。3.根据权利要求2所述的一种开关机械特性测试仪校验装置，其特征在于：所述开关机械特性测试仪包括分合闸控制信号线、端口时间测试线和直线传感器，所述分合闸控制信号线连接时间行程控制器，所述端口时间测试线连接接近开关，所述直线传感器固定于行程滑块上。4.根据权利要求3所述的一种开关机械特性测试仪校验装置，其特征在于：当接近开关与行程滑块接触时将开关机械特性测试仪的端口时间测试线导通；当接近开关与行程滑块分开时将开关机械...
【专利技术属性】
技术研发人员：吕红峰，邵瑛，王宣，徐勇军，邓益民，郭鹏，吕朝晖，张天龙，李竹田，赵辉，刘松成，郑晓东，
申请(专利权)人：国网浙江省电力有限公司培训中心，
类型：发明
国别省市：
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