本申请提供了一种变化趋势图的显示方法、装置和设备，其中，该方法包括：根据多个测试项在多个批次产品的失效率，从多个测试项中确定对应批次产品的多个目标测试项，对多个批次产品的多个目标测试项进行求并集操作，得到多个目标并集测试项，根据多个目标并集测试项在多个批次产品的失效率，绘制并显示失效率变化趋势图。通过目标并集测试项，绘制出的失效率变化趋势图能够直观发现失效率有突变的测试项、测试项增加或减少的情况，并且还容易对比同一测试项在不同批次间的变化趋势。测试项在不同批次间的变化趋势。测试项在不同批次间的变化趋势。
【技术实现步骤摘要】
变化趋势图的显示方法、装置和设备
[0001]本申请涉及计算机
，具体而言，涉及一种变化趋势图的显示方法、装置和设备。
技术介绍
[0002]半导体芯片在流片完成后，往往需要进行测试，一般包括晶圆出厂测试（Wafer Acceptance Test， WAT）、晶圆探针测试（Chip Probing，CP）和封装成品的最终测试（Final Test，FT）。其中，用于测试芯片的测试程序通常是由一系列的测试项组成，从各个方面对芯片进行充分检测，确认每颗芯片功能和性能是否符合标准。
[0003]目前，一种是将每批次芯片的所有测试项按失效率从高到低排列，截取前N（例如N=5）个测试项，另一种是绘制帕累托(Pareto)图，截取累计失效率N（例如N=90%）内所包含的测试项，然后将所有批次的Top
‑
N失效项按批次的时间先后排列，查看失效项变化趋势。
[0004]然而，上述方式均需要人工比对每个批次的失效项和失效率，非常不直观，并且随着批次数量的增加，人工比对将会变得更加困难，也容易遗漏关键信息。
技术实现思路
[0005]有鉴于此，本申请实施例提供了一种变化趋势图的显示方法、装置和设备，以解决人工比对每个批次的失效项和失效率，非常不直观，并且随着批次数量的增加，人工比对将会变得更加困难，也容易遗漏关键信息的问题。
[0006]第一方面，本申请实施例提供了一种变化趋势图的显示方法，包括：根据多个测试项在多个批次产品的失效率，从所述多个测试项中确定对应批次产品的多个目标测试项；对所述多个批次产品的多个目标测试项进行求并集操作，得到多个目标并集测试项；根据所述多个目标并集测试项在所述多个批次产品的失效率，绘制并显示失效率变化趋势图。
[0007]在一可选的实施方式中，所述根据所述多个目标并集测试项在所述多个批次产品的失效率，绘制并显示失效率变化趋势图之前，所述方法还包括：根据所述多个测试项在所述多个批次产品的失效率，对所述多个测试项进行排序，得到多个测试项的第一排序结果；根据所述多个测试项的第一排序结果，确定所述多个目标并集测试项的显示顺序；所述根据所述多个目标并集测试项在所述多个批次产品的失效率，绘制并显示失效率变化趋势图，包括：按照所述显示顺序，根据所述多个目标并集测试项在所述多个批次产品的失效率，绘制并显示所述失效率变化趋势图。
[0008]在一可选的实施方式中，所述根据所述多个测试项在所述多个批次产品的失效率，对所述多个测试项进行排序，得到多个测试项的第一排序结果，包括：获取各测试项在所述多个批次产品的失效率的中位数；根据所述中位数，对所述多个测试项进行排序，得到所述多个测试项的第一排序结果。
[0009]在一可选的实施方式中，所述根据所述中位数，对所述多个测试项进行排序，得到所述多个测试项的第一排序结果，包括：若所述多个测试项中存在中位数相等的至少两个测试项，则分别获取所述至少两个测试项在所述多个批次产品的平均失效率；根据所述平均失效率，确定所述至少两个测试项的排序；根据所述中位数和所述至少两个测试项的排序，对所述多个测试项进行排序，得到第一排序结果。
[0010]在一可选的实施方式中，所述方法还包括：根据所述多个目标测试项在对应批次产品的失效率，对所述多个目标测试项进行排序，得到所述多个目标测试项的第二排序结果；根据所述多个测试项的第一排序结果和所述多个目标测试项的第二排序结果，确定所述多个目标测试项的排序相对变化结果；根据所述显示顺序，根据所述多个目标测试项的排序相对变化结果，绘制并显示失效率排序变化趋势图。
[0011]在一可选的实施方式中，所述第一排序结果包括：第一排序号，所述第二排序结果包括：第二排序号；所述根据所述多个测试项的第一排序结果和所述多个目标测试项的第二排序结果，确定所述多个目标测试项的排序相对变化结果，包括：根据所述多个测试项中对应各目标测试项的第一排序号，和所述对应各目标测试项的第二排序号的差值，确定所述对应各目标测试项的排序相对变化结果。
[0012]在一可选的实施方式中，所述失效率变化趋势图为失效率变化趋势柱状图，各目标并集测试项对应一个柱体，所述各目标并集测试项的失效率对应一个柱体高度，所述方法还包括：若所述失效率变化趋势柱状图中存在柱体高度低于预设高度阈值的柱体，则根据所述失效率变化趋势柱状图中的最大柱体高度，重新确定所述柱体的柱体高度，并重新绘制所述柱体。
[0013]在一可选的实施方式中，所述方法还包括：按照预设排列结构，根据所述失效率变化趋势图和所述失效率排序变化趋势图，生成失效率整体趋势图。
[0014]第二方面，本申请实施例还提供了一种变化趋势图的显示装置，包括：确定模块，用于根据多个测试项在多个批次产品的失效率，从所述多个测试项中确定对应批次产品的多个目标测试项；处理模块，用于对所述多个批次产品的多个目标测试项进行求并集操作，得到多个目标并集测试项；
显示模块，用于根据所述多个目标并集测试项在所述多个批次产品的失效率，绘制并显示所述失效率变化趋势图。
[0015]在一可选的实施方式中，所述处理模块，还用于：根据所述多个测试项在所述多个批次产品的失效率，对所述多个测试项进行排序，得到多个测试项的第一排序结果；所述确定模块，还用于根据所述多个测试项的第一排序结果，确定所述多个目标并集测试项的显示顺序；所述显示模块，具体用于按照所述显示顺序，根据所述多个目标并集测试项在所述多个批次产品的失效率，绘制并显示所述失效率变化趋势图。
[0016]在一可选的实施方式中，所述处理模块，具体用于：获取各测试项在所述多个批次产品的失效率的中位数；根据所述中位数，对所述多个测试项进行排序，得到所述多个测试项的第一排序结果。
[0017]在一可选的实施方式中，所述处理模块，具体用于：若所述多个测试项中存在中位数相等的至少两个测试项，则分别获取所述至少两个测试项在所述多个批次产品的平均失效率；根据所述平均失效率，确定所述至少两个测试项的排序；根据所述中位数和所述至少两个测试项的排序，对所述多个测试项进行排序，得到第一排序结果。
[0018]在一可选的实施方式中，所述处理模块，还用于：根据所述多个目标测试项在对应批次产品的失效率，对所述多个目标测试项进行排序，得到所述多个目标测试项的第二排序结果；根据所述多个测试项的第一排序结果和所述多个目标测试项的第二排序结果，确定所述多个目标测试项的排序相对变化结果；根据所述显示顺序，根据所述多个目标测试项的排序相对变化结果，绘制并显示失效率排序变化趋势图。
[0019]在一可选的实施方式中，所述第一排序结果包括：第一排序号，所述第二排序结果包括：第二排序号；所述确定模块，具体用于：根据所述多个测试项中对应各目标测试项的第一排序号，和所述对应各目标测试项的第二排序号的差值，确定所述对应各目标测试项的排序相对变化结果。
[0020]在一可选的实施方式中，所述失效率变化趋势图为失效率变化趋势柱状图，各目标并集测试项对应本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种变化趋势图的显示方法，其特征在于，包括：根据多个测试项在多个批次产品的失效率，从所述多个测试项中确定对应批次产品的多个目标测试项；对所述多个批次产品的多个目标测试项进行求并集操作，得到多个目标并集测试项；根据所述多个目标并集测试项在所述多个批次产品的失效率，绘制并显示失效率变化趋势图。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述多个目标并集测试项在所述多个批次产品的失效率，绘制并显示失效率变化趋势图之前，所述方法还包括：根据所述多个测试项在所述多个批次产品的失效率，对所述多个测试项进行排序，得到多个测试项的第一排序结果；根据所述多个测试项的第一排序结果，确定所述多个目标并集测试项的显示顺序；所述根据所述多个目标并集测试项在所述多个批次产品的失效率，绘制并显示失效率变化趋势图，包括：按照所述显示顺序，根据所述多个目标并集测试项在所述多个批次产品的失效率，绘制并显示所述失效率变化趋势图。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述多个测试项在所述多个批次产品的失效率，对所述多个测试项进行排序，得到多个测试项的第一排序结果，包括：获取各测试项在所述多个批次产品的失效率的中位数；根据所述中位数，对所述多个测试项进行排序，得到所述多个测试项的第一排序结果。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述中位数，对所述多个测试项进行排序，得到所述多个测试项的第一排序结果，包括：若所述多个测试项中存在中位数相等的至少两个测试项，则分别获取所述至少两个测试项在所述多个批次产品的平均失效率；根据所述平均失效率，确定所述至少两个测试项的排序；根据所述中位数和所述至少两个测试项的排序，对所述多个测试项进行排序，得到第一排序结果。5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：根据所述多个目标测试项在对应批次产品的失效率，对所述多个目标测试项进行排序，得到所述多个目标测试项的第二排序结果；根据所述多个测试项的...
【专利技术属性】
技术研发人员：蒋宏业，郑尊标，
申请(专利权)人：杭州芯翼科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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