一种复相干系数相位的相对测量方法技术

本发明专利技术提出一种复相干系数相位的相对测量方法，该方法首先对两次测量干涉包络内的极值进行提取；其次，在第一次测量数据包络一侧极值变化相对稳定区内，选取两个相邻极值和再次，在第二次测量数据中，选取与第一次测量数据包络同侧且介于两个相邻极值和之间的极值进而比较计算得到两次测量的相位差该方法原理简单、不受仪器外部环境影响，适用范围广。适用范围广。适用范围广。

【技术实现步骤摘要】
一种复相干系数相位的相对测量方法


[0001]本专利技术属于光电成像领域，为光学干涉瞳面计算成像技术提供一种复相干系数相位的相对测量方法。

技术介绍

[0002]光学瞳面干涉计算成像技术在高分辨成像领域具有明显技术优势，其等效口径的扩展能力强。光学瞳面干涉计算成像理论是范西特
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泽尼克定律，光学系统等效瞳面处的物光复相干系数μ(u，v)是非相干扩展光源分布I(ξ，η)的归一化傅里叶变换，其中，(u，v)是空间频谱坐标，(ξ，η)是扩展光源空间坐标。如果能够测得光源的复相干系数μ(u，v)，即获得了光源的傅里叶频谱，通过傅里叶逆变换就能求得光源强度分布I(ξ，η)。复相干系数μ(u，v)包括模|μ|和相位φ(又称幅角)，可以表达为μ＝|μ|e
jφ
，理论上，可以通过基线孔径对间的干涉可见度和零光程处的相位差来测定。
[0003]基于该成像理论，国际先后建设和规划了多台大型干涉仪。现今在运行的地基大型光学干涉仪有最长基线可达200m的欧洲南方天文台的甚大望远镜(Very Large Telescope，V本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种复相干系数相位的相对测量方法，其特征在于方法如下：首先，对两次测量干涉包络内的极值进行提取；其次，在第一次测量数据包络一侧极值变化相对稳定区内...

【专利技术属性】
技术研发人员：于清华，
申请(专利权)人：中国科学院上海技术物理研究所，
类型：发明
国别省市：