DCS通道的测试方法、测试装置以及测试系统制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种DCS通道的测试方法、测试装置以及测试系统，包括：向DCS系统中的待检测通道发送测试指令；其中，所述测试指令用于指示所述待检测通道发出符合预设要求的期望响应信号；若接收到所述待检测通道响应于所述测试指令发出的实际响应信号，则根据所述预设要求以及所述实际响应信号，确定所述待检测通道是否通过测试。通过本发明专利技术中的方法，能够自动地对DCS系统中的待检测通道是否通过检测，提升了检测效率。提升了检测效率。提升了检测效率。

【技术实现步骤摘要】
DCS通道的测试方法、测试装置以及测试系统


[0001]本专利技术涉及DCS自动化测试领域，具体涉及一种DCS通道的测试方法、测试装置以及测试系统。

技术介绍

[0002]当前仪控行业对DCS系统(distributed control system，分散控制系统，简称为DCS；也可叫做distributed control information system，简称为DCIS)进行工程应用阶段测试任务主要集中在以下环节，硬接线点通道及功能测试，通讯点通讯及功能测试等，现有市场相关自动化测试装置功能和效率有限，仪控行业急需一种功能齐全、精度高、操作便捷的DCS自动规划测试方案，研制一种自动化测试方法。

技术实现思路

[0003]本专利技术要解决的技术问题是为了克服现有技术中自动化测试装置功能和效率有限的缺陷，提供一种DCS通道的测试方法、测试装置以及测试系统。
[0004]本专利技术是通过下述技术方案来解决上述技术问题：
[0005]本专利技术提供一种DCS通道的测试方法，所述方法包括：
[0006]向DCS系统中的待检测通道发送测试指令；其中，所述测试指令用于指示所述待检测通道发出符合预设要求的期望响应信号；
[0007]若接收到所述待检测通道响应于所述测试指令发出的实际响应信号，则根据所述预设要求以及所述实际响应信号，确定所述待检测通道是否通过测试。
[0008]优选地，所述预设要求为所述期望响应信号的输出值为预设值；
[0009]其中，所述根据所述预设要求以及所述实际响应信号确定所述待检测通道是否通过测试的步骤包括：
[0010]判断所述预设值与及所述实际响应信号的输出值之间的差值是否符合预设精度；
[0011]若是，则确定所述待检测通道通过精度测试；
[0012]若否，则确定所述待检测通道未通过精度测试。
[0013]优选地，所述DCS通道的测试方法还包括以下步骤：
[0014]若确定所述待检测通道未通过精度测试，则根据误差精度向所述待检测通道发送补偿信号。
[0015]优选地，所述预设要求为所述期望响应信号的电压值小于预设阈值；
[0016]其中，所述根据所述预设要求以及所述实际响应信号确定所述待检测通道是否通过测试的步骤包括：
[0017]判断所述实际响应信号的电压值是否小于预设阈值；
[0018]若是，则确定所述待检测通道通过钳位测试；
[0019]若否，则确定所述待检测通道未通过钳位测试。
[0020]优选地，所述预设要求为所述期望响应信号的输出值位于预设死区区间内；
[0021]其中，所述根据所述预设要求以及所述实际响应信号确定所述待检测通道是否通过测试的步骤包括：
[0022]判断所述实际响应信号的输出值是否位于所述预设死区区间内；
[0023]若是，则确定所述待检测通道通过死区测试；
[0024]若否，则确定所述待检测通道未通过死区测试。
[0025]优选地，所述DCS系统的测试方法还包括以下步骤：
[0026]若未接收到所述待检测通道响应于所述测试指令发出的实际响应信号，则确定与所述待检测通道之间的通道断开。
[0027]优选地，所述向DCS系统中的待检测通道发送测试指令的步骤包括：
[0028]响应于输入的登录信息，确定对应的测试权限；
[0029]根据所述测试权限向DCS系统中的待检测通道发出对应的测试指令。
[0030]作为本专利技术的第二个方面，本专利技术提供一种DCS通道的测试装置，包括发送模块，用于向DCS系统中的待检测通道发送测试指令；其中，所述测试指令用于指示所述待检测通道发出符合预设要求的期望响应信号；
[0031]测试模块，用于在接收到所述待检测通道响应于所述测试指令发出的实际响应信号的情况下，根据所述预设要求以及所述实际响应信号，确定所述待检测通道是否通过测试。
[0032]优选地，所述DCS通道的测试装置通过继电器与所述待检测通道连接。
[0033]作为本专利技术第三方面，本专利技术提供一种DCS通道的测试系统，包括DCS系统以及本专利技术第二方面中的DCS通道的测试装置。
[0034]本专利技术的积极进步效果在于：向DCS系统中的待检测通道发送测试指令；并接收到所述待检测通道响应于所述测试指令发出的实际响应信号，根据实际响应信号确定待检测通道是否通过测试。功能齐全，精度高，操作便捷地使DCS系统能够得到快速的检测。
附图说明
[0035]图1为本专利技术实施例1中DCS通道的测试方法的流程示意图。
[0036]图2为本专利技术实施例1中使用DCS通道的测试方法的示意图。
[0037]图3为本专利技术实施例1中使用DCS通道的测试方法的设备的第一结构示意图。
[0038]图4为本专利技术实施例1中使用DCS通道的测试方法的设备的第二结构示意图。
[0039]图5为本专利技术实施例1中使用DCS通道的测试方法的设备的第三结构示意图。
[0040]图6为本专利技术实施例2中DCS通道的测试装置的结构示意图。
具体实施方式
[0041]下面通过实施例的方式进一步说明本专利技术，但并不因此将本专利技术限制在所述的实施例范围之中。
[0042]实施例1
[0043]请参见图1，本实施例提供一种DCS通道的测试方法，DCS通道的测试方法包括：
[0044]S1、向DCS系统中的待检测通道发送测试指令；其中，测试指令用于指示待检测通道发出符合预设要求的期望响应信号；
[0045]S2、若接收到待检测通道响应于测试指令发出的实际响应信号，则根据预设要求以及实际响应信号，确定待检测通道是否通过测试。
[0046]在本实施例中，DCS系统的待检测通道，根据预设要求与实际响应信号，就能够快速地对各个待检测通道是否通过测试，从而提升了检测效率。在本实施例中，待检测通道可以在DCS机柜中，在DCS机柜中的各待检测通道与本方法执行主体进行通信连接，通信连接可以通过网络读取、网络输出等回路建立。在本实施例中，还可以根据不同的待检测通道建立对应的回路，待检测通道包括模拟量输入(Analog Input，也可简称AI)、模拟量输出(Analog Output，也可简称AO)、数字输入(Digital Input，也可简称DI)、数字输出(Digital Output，也可简称DO)、热电阻(也可称为RTD)以及热电偶(可以称为TC)等类型的待检测通道。在本实施例中，模拟量输出、数字输出、热电阻以及热电偶类型的待检测通道，从测试设备端到待检测通道端的通信路径为读取链路，从待检测通道到测试装置的路径为输出路径。但是对于模拟量输出、模拟量输出的待检测通道，从待检测通道到测试装置的路径为输出路径，从测试装置到待检测通道的路径为读取路径。
[0047]请参见图2，在本实施例中，待检测通道还可以是某个设备的各个模块，例如AI模块、AO模块、本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种DCS通道的测试方法，其特征在于，所述DCS通道的测试方法包括：向DCS系统中的待检测通道发送测试指令；其中，所述测试指令用于指示所述待检测通道发出符合预设要求的期望响应信号；若接收到所述待检测通道响应于所述测试指令发出的实际响应信号，则根据所述预设要求以及所述实际响应信号，确定所述待检测通道是否通过测试。2.如权利要求1所述的DCS通道的测试方法，其特征在于，所述预设要求为所述期望响应信号的输出值为预设值；其中，所述根据所述预设要求以及所述实际响应信号，确定所述待检测通道是否通过测试的步骤包括：判断所述预设值与及所述实际响应信号的输出值间的差值是否符合预设精度；若是，则确定所述待检测通道通过精度测试；若否，则确定所述待检测通道未通过精度测试。3.如权利要求2所述的DCS通道的测试方法，其特征在于，所述DCS通道的测试方法还包括以下步骤：若确定所述待检测通道未通过精度测试，则根据误差精度向所述待检测通道发送补偿信号。4.如权利要求1所述的DCS通道的测试方法，其特征在于，所述预设要求为所述期望响应信号的电压值小于预设阈值；其中，所述根据所述预设要求以及所述实际响应信号确定所述待检测通道是否通过测试的步骤包括：判断所述实际响应信号的电压值是否小于预设阈值；若是，则确定所述待检测通道通过钳位测试；若否，则确定所述待检测通道未通过钳位测试。5.如权利要求1所述的DCS通道的测试方法，其特征在于，所述预设要求为所述期望响应信号的输出值位于预...

【专利技术属性】
技术研发人员：崔纪永，刘承宇，代博，曹爱东，李侦，王志军，李灏，万君，臧嘉祥，
申请(专利权)人：国核自仪系统工程有限公司，
类型：发明
国别省市：