一种参考信号切换电路、测试电路及测试仪表制造技术

技术编号:38129297 阅读:11 留言:0更新日期:2023-07-08 09:35
本发明专利技术公开了一种参考信号切换电路、测试电路及测试仪表,切换电路包括输入端,包括接收输入信号的通道,输入信号包括内部参考信号和外部参考信号,且每次以择一的方式将内部参考信号或外部参考信号输入至通道中;锁相环,其设置于通道的输出端口,锁相环包括环路滤波器;输出端,内部参考信号或外部参考信号经过锁相环后,从输出端输出内部基准信号;环路滤波器的输出端设置有第一恒温晶振;当通道有内部参考信号或外部参考信号输入时,经过环路滤波器后,使得第一恒温晶振产生内部基准信号。本发明专利技术既保证了使用可变外部参考信号的同步问题,又解决了使用外部参考信号时相位噪声恶化的问题。化的问题。化的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种参考信号切换电路、测试电路及测试仪表


[0001]本专利技术涉及信号测量
,具体涉及一种参考信号切换电路、测试电路及测试仪表。

技术介绍

[0002]随着通信行业的不断发展,信号的测试测量变得尤为重要,如何提高测试测量仪器的性能被日益关注,同时对仪器仪表的要求也更为多元化。频率源作为仪表核心部件,其功能、性能直接决定仪表质量,其中如何处理好外部参考信号和内部参考信号是其关键一环。内部参考信号由内部高稳晶振产生,外部参考信号由外部信源统一提供。目前实现内部参考信号和外部参考信号切换的方法主要有以下两种:一种是直接进行内外参考信号的开关切换,另一种是通过输入锁相的方式实现内外参考信号切换。其中第一种方法适用于频率固定的外部参考信号,第二种方法虽然扩展了外部参考信号的频率范围,但是由于外部参考信号较内部参考信号的相位噪声水平相差很大,因此仪表内部时钟的整体稳定度会被外部参考信号恶化。

技术实现思路

[0003]为此,本专利技术所要解决的技术问题在于克服现有技术中的不足,提供一种参考信号切换电路、测试电路及测试仪表,其既保证了使用可变外部参考信号的同步问题,又解决了使用外部参考信号时相位噪声恶化的问题。
[0004]为了解决上述技术问题,本专利技术提供了一种参考信号切换电路,包括:
[0005]输入端,包括接收输入信号的通道,其中所述输入信号包括内部参考信号和外部参考信号,且每次以择一的方式将内部参考信号或外部参考信号输入至所述通道中;
[0006]锁相环,其设置于所述通道的输出端口,所述锁相环包括环路滤波器;
[0007]输出端,所述内部参考信号或外部参考信号经过所述锁相环后,从所述输出端输出内部基准信号;
[0008]其中,所述环路滤波器的输出端设置有第一恒温晶振;
[0009]当通道有内部参考信号或外部参考信号输入时,所述内部参考信号或外部参考信号经过所述环路滤波器后,使得所述第一恒温晶振产生内部基准信号。
[0010]在本专利技术的一个实施例中,所述锁相环包括鉴相器,所述鉴相器设置于所述通道的输出端口,所述鉴相器连接所述环路滤波器。
[0011]在本专利技术的一个实施例中,所述鉴相器为集成R分频器、N分频器和电荷泵的鉴相器,所述鉴相器的鉴相频率设置为1MHz,N分频值为100。
[0012]在本专利技术的一个实施例中,所述环路滤波器的带宽为10Hz,相位裕度为60
°

[0013]在本专利技术的一个实施例中,还包括第二恒温晶振,所述第二恒温晶振设置于所述通道的输入端口,所述第二恒温晶振用于产生内部参考信号。
[0014]在本专利技术的一个实施例中,所述外部参考信号的频率为1MHz~100MHz+,频率步进
1Hz。
[0015]在本专利技术的一个实施例中,所述输入端包括第一开关、第二开关和第三开关,所述第二开关设置于所述通道的输入端口,所述第二开关的一触点连接所述第二恒温晶振,另一触点连接所述第一开关,所述第一开关的一触点连接所述外部参考信号的低频输入端口,另一触点连接所述外部参考信号的高频输入端口,所述第三开关设置于所述通道的输出端口,所述第三开关连接所述外部参考信号的高频输出端口。
[0016]在本专利技术的一个实施例中,还包括低频整形电路,所述低频整形电路设置于所述通道上。
[0017]此外,本专利技术还提供一种测试电路,包括上述所述的一种参考信号切换电路和测试模块,所述测试模块连接所述参考信号切换电路。
[0018]并且,本专利技术还提供一种测试仪表,包括上述所述的一种测试电路。
[0019]本专利技术的上述技术方案相比现有技术具有以下优点:
[0020]本专利技术结合了开关切换和锁相环路的设计,通过设计锁相环路参数,使得内部基准信号与外部参考信号同步,同时其100Hz及更远端相位噪声不受外部参考信号影响,始终保证内部基准信号的低相位噪声特性,因此本专利技术既保证了使用可变外部参考信号的同步问题,又解决了使用外部参考信号时相位噪声恶化的问题,尤其适用于对使用外部参考信号且相位噪声要求较高的场合。
附图说明
[0021]图1是本专利技术实施例一提供的一种参考信号切换电路的电路结构示意图。
[0022]图2是本专利技术实施例一提供的环路滤波器的电路结构示意图。
[0023]图3是本专利技术实施例一提供的环路滤波器闭环增益曲线图。
[0024]图4是本专利技术实施例一提供的外部参考信号相噪仿真曲线图。
[0025]图5是本专利技术实施例二提供的一种参考信号切换电路的电路结构示意图。
[0026]图中标号说明:11、通道;12、第一开关;13、第二开关;14、第三开关;2、低频整形电路;31、鉴相器;32、环路滤波器;33、第一恒温晶振;4、第二恒温晶振。
具体实施方式
[0027]下面结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步说明,以使本领域的技术人员可以更好地理解本专利技术并能予以实施,但所举实施例不作为对本专利技术的限定。
[0028]实施例一
[0029]本专利技术实施例提供了一种参考信号切换电路,包括:
[0030]输入端,包括接收输入信号的通道11,其中所述输入信号包括内部参考信号和外部参考信号,且每次以择一的方式将内部参考信号或外部参考信号输入至所述通道11中;
[0031]锁相环,其设置于所述通道11的输出端口,所述锁相环包括环路滤波器32;
[0032]输出端,所述内部参考信号或外部参考信号经过所述锁相环后,从所述输出端输出内部基准信号;
[0033]其中,所述环路滤波器32的输出端设置有第一恒温晶振33;
[0034]当通道11有内部参考信号或外部参考信号输入时,所述内部参考信号或外部参考
信号经过所述环路滤波器32后,使得所述第一恒温晶振33产生内部基准信号。
[0035]本专利技术结合了开关切换和锁相环路的设计,通过设计锁相环路参数,使得内部基准信号与外部参考信号同步,同时其100Hz及更远端相位噪声不受外部参考信号影响,始终保证内部基准信号的低相位噪声特性,因此本专利技术既保证了使用可变外部参考信号的同步问题,又解决了使用外部参考信号时相位噪声恶化的问题,尤其适用于对使用外部参考信号且相位噪声要求较高的场合。
[0036]其中,所述输入端包括第一开关12、第二开关13和第三开关14,所述第二开关13设置于所述通道11的输入端口,所述第二开关13的一触点连接所述第二恒温晶振4,另一触点连接所述第一开关12,所述第一开关12的一触点连接所述外部参考信号的低频输入端口,另一触点连接所述外部参考信号的高频输入端口,所述第三开关14设置于所述通道11的输出端口,所述第三开关14连接所述外部参考信号的高频输出端口。
[0037]具体地,请参照图1所示,OC2为10MHz的第二恒温晶振4,其型号为O22B

A320

10MHz,短期稳定度阿伦方差为0.01p本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种参考信号切换电路,其特征在于:包括:输入端,包括接收输入信号的通道,其中所述输入信号包括内部参考信号和外部参考信号,且每次以择一的方式将内部参考信号或外部参考信号输入至所述通道中;锁相环,其设置于所述通道的输出端口,所述锁相环包括环路滤波器;输出端,所述内部参考信号或外部参考信号经过所述锁相环后,从所述输出端输出内部基准信号;其中,所述环路滤波器的输出端设置有第一恒温晶振;当通道有内部参考信号或外部参考信号输入时,所述内部参考信号或外部参考信号经过所述环路滤波器后,使得所述第一恒温晶振产生内部基准信号。2.如权利要求1所述的一种参考信号切换电路,其特征在于:所述锁相环包括鉴相器,所述鉴相器设置于所述通道的输出端口,所述鉴相器连接所述环路滤波器。3.如权利要求2所述的一种参考信号切换电路,其特征在于:所述鉴相器为集成R分频器、N分频器和电荷泵的鉴相器,所述鉴相器的鉴相频率设置为1MHz,N分频值为100。4.如权利要求1或2或3所述的一种参考信号切换电路,其特征在于:所述环路滤波器的带宽为10Hz,相位裕度为60
°
。5.如权利要求4...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈春雷黄建林
申请(专利权)人:昆山普尚电子科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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