一种激光平面度测量仪及其工作方法技术

本发明专利技术涉及一种激光平面度测量仪及其工作方法，测量仪包括：一对对称相间固定在基架上的激光组件：工作时各激光组件生成一平面激光，各平面激光与被测平面的夹角相同，各激光组件输出的平面激光分别投射在被测平面上并形成两条光线；若被测平面是理想基准平面，则两条光线重合；光电识别及运算装置获取所述两条光线的中央段的图像，以识别该两条光线的间距；根据所述间距和夹角得出被测平面上凹坑或凸起的参数。当两激光线分开，且激光线与该激光线的光源在同侧，则是凸起。当两激光线分开，且激光线与该激光线的光源在异侧，则是凹坑。本发明专利技术解决了现有技术中无法检测凹坑或凸起的参数，无法区分凹坑或凸起的难题。无法区分凹坑或凸起的难题。无法区分凹坑或凸起的难题。

【技术实现步骤摘要】
一种激光平面度测量仪及其工作方法


[0001]本专利技术涉及一种激光平面度测量仪及其工作方法。

技术介绍

[0002]现有建筑行业中，在测量建筑物(墙面、顶棚或地面) 的平整度时，都是使用直尺靠紧被测表面，用不同厚度的塞尺测量凹坑的深度，从而获得平面度数据。
[0003]中国专利文献CN102278958A公开了一种铝板平面度视觉检测系统，包括摄像机和激光光源，摄像机的镜头光轴与铝板传输线的运动平面呈夹角，激光光源与摄像机设置在铝板传输线运动平面的同侧，激光光源的投射方向与铝板传输线的运动平面呈夹角，激光光源向铝板传输线上的铝板投射直线激光，摄像机拍摄铝板上的激光投射线条，根据摄像机中激光投射线条的弯曲程度，判断铝板平面的高度变化。激光在铝板平面上从倾斜角度投射直线，检测拍摄到的图像中的线条各个点的弯曲程度。
[0004]上述现有技术的不足之处在于，无法准确获取平面凹坑或凸起的具体参数，也无法自动记录平面上各凹坑或凸起的准确位置，无法应用于建筑的墙面、顶棚或地面的平整度测量要求。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的是提供一种能获取被测平面（建筑墙面、楼面、顶棚或地面）上的凹坑或凸起的参数，或判断是凹坑或凸起的激光平面度测量仪及其工作方法。
[0006]为了获取被测平面上的凹坑或凸起的参数，本专利技术提供了一种激光平面度测量仪，包括：基架：用于在工作时置于上一被测平面上；一对激光组件：固定在所述基架上且对称相间分布，工作时各激光组件生成一平面激光，各平面激光与所述被测平面的夹角α相同，所述的一对激光组件输出的平面激光分别投射在被测平面上并形成两条光线；若所述被测平面是理想基准平面（也即绝对平面，此时基架与该理想基准平面平行分布，所述一对激光组件的中心点的连线与该理想基准平面平行），则所述两条光线重合；光电识别及运算装置：用于获取所述两条光线的中央段的图像，以识别该两条光线的中央段是否重合，并在发现非重合时记录两条光线的间距；根据所述间距和所述夹角，得出被测平面上凹坑的深度或凸起的高度。
[0007]优选的方案是，所述基架底部设有多个万向轮，各万向轮上设有传感器，以记录各万向轮的位移量和/或位移方向；将所述基架相对被测平面平行移动，实时记录基架的路线、被测平面上的各凹坑或凸起在所述被测平面上的位置及相应的参数。
[0008]优选的方案是，所述基架底部设有三个或三组中心对称的万向轮；所述的两条光线的中央段在所述基架内侧或外侧。中心对称的万向轮数量越多，检测精度越高。
[0009]优选的方案是，所述的一对平面激光的颜色不同，所述非重合的两条光线分别为第一色、第二色激光线，根据所述第一色激光线的位置，判断当前被测平面上存在凹坑或凸起的方法：若第一色激光线与发出该第一色激光线的激光组件分布在所述非重合的两条光
线的中心线的同侧，则判断当前被测平面上的两条光线的中央段的相应位置为凸起；反之（也即：若第一色激光线与发出该第一色激光线的激光组件分布在所述非重合的两条光线的中心线的异侧），则判断当前被测平面上的两条光线的中央段的相应位置为凹坑。
[0010]作为单独判断凹坑或凸起的方案，本专利技术提供一种激光平面度测量仪的工作方法，包括：采用一对激光组件固定在该基架上，且该对激光组件对称相间分布；工作时，各激光组件生成一平面激光，各平面激光与被测平面的夹角相同，所述的一对激光组件输出的平面激光分别投射在被测平面上并形成两条光线；若被测平面是理想基准平面，则所述两条光线重合；该两条光线的颜色不同，分别为第一色、第二色激光线；光电识别及运算装置获取所述两条光线的中央段的图像，并识别出所述第一色激光线的分布位置，然后根据该分布位置判断当前被测平面上存在凹坑或凸起：若第一色激光线与发出该第一色激光线的激光组件分布在所述非重合的两条光线的中心线的同侧，则判断当前被测平面上的两条光线的中央段的相应位置为凸起；反之，则判断当前被测平面上的两条光线的中央段的相应位置为凹坑。所述基架底部设有多个万向轮，各万向轮上设有传感器，以记录各万向轮的位移量和位移方向，进而记录各凹坑或凸起在所述被测平面上的位置；将所述基架相对被测平面平行移动，实时记录被测平面上的凹坑或凸起的位置及相应的参数，并输送至显示屏显示。所述基架底部设有三个或三组中心对称的万向轮。中心对称的万向轮数量越多，检测精度越高。
[0011]除了采用不同颜色的激光线，还可采用不同调制方式的激光组件，以生成不同的、光电识别及运算装置可识别的激光，来判断当前被测平面上为凹坑或凸起。为此，提供一种激光平面度测量仪的工作方法，包括：采用一对激光组件固定在该基架上，且该对激光组件对称相间分布；工作时，各激光组件生成一平面激光，各平面激光与被测平面的夹角相同，所述的一对激光组件输出的平面激光分别投射在被测平面上并形成两条光线；若被测平面是理想基准平面，则所述两条光线重合；该两条光线采用不同调制方式，分别为第一调制、第二调制激光线；或，在所述两条光线中仅将一条光线调制为第一调制激光线，另一条光线不调制； 光电识别及运算装置获取所述两条光线的中央段的图像，以识别该两条光线的中央段是否非重合，并在发现非重合时记录该两条光线的间距；所述光电识别及运算装置识别出第一调制激光线的分布位置，然后根据该分布位置判断当前被测平面上存在凹坑或凸起：若第一调制激光线与发出该第一调制激光线的激光组件分布在所述非重合的两条光线的中心线的同侧，则判断当前被测平面上的两条光线的中央段的相应位置为凸起；反之，则判断当前被测平面上的两条光线的中央段的相应位置为凹坑。
[0012]所述调制激光线包括不同频率的调制的激光线、不同脉冲方式发射的激光线、粗细不同的激光线等。
[0013]所述基架底部设有多个万向轮，各万向轮上设有传感器，以记录各万向轮的位移量和位移方向，进而记录各凹坑或凸起在所述被测平面上的位置；将所述基架相对被测平面平行移动，实时记录被测平面上的凹坑或凸起的位置及相应的参数，并输送至显示屏显示。
[0014]本专利技术的有益效果是，本专利技术的通过检测该非重合的两条光线的中央段的间距，即可测出被测平面上的凹坑或凸起的参数；根据两种颜色（或其它区分方式）的激光线的位置，区分被测平面上的相应被测位置上为凹坑或凸起。解决了现有技术中无法检测凹坑或
凸起的大小参数，无法判断是凹坑或凸起的难题。
附图说明
[0015]下面结合附图和实施例对本专利技术进一步说明。
[0016]图1是本专利技术的激光平面度测量仪的结构示意框图；图2是本专利技术的基架的结构示意图；图3是本专利技术基架的另一种结构示意图；图4是本专利技术基架的第三种结构示意图；图5是本专利技术的激光平面度测量仪的工作示意图；图6是本专利技术的激光平面度测量仪的另一工作示意图；图7是本专利技术的激光平面度测量仪检测凸起时的工作示意图；图8是本专利技术的激光平面度测量仪检测凹坑时的工作示意图；图9是本专利技术的显示屏显示检测结果的示意图。
实施方式
[0017]现在结合附图对本专利技术作进一步详细的说明。这些附图均为简化本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种激光平面度测量仪，其特征在于，包括：基架：用于在工作时置于上一被测平面上；一对激光组件：固定在所述基架上且对称相间分布，工作时各激光组件生成一平面激光，各平面激光与所述被测平面的夹角（α）相同，所述的一对激光组件输出的平面激光分别投射在被测平面上并形成两条光线；若被测平面是理想基准平面，则所述两条光线重合；光电识别及运算装置：用于获取所述两条光线的中央段的图像，以识别该两条光线的中央段是否重合，并在发现非重合时记录两条光线的间距（L）；根据所述间距（L）和所述夹角（α），得出被测平面上凹坑的深度或凸起的高度（e）。2.根据权利要求1所述的激光平面度测量仪，其特征在于，所述基架底部设有多个万向轮，各万向轮上设有传感器，以记录各万向轮的位移量和/或位移方向；将所述基架相对被测平面平行移动，实时记录基架的路线、被测平面上的各凹坑或凸起在所述被测平面上的位置及相应的参数。3.根据权利要求2所述的激光平面度测量仪，其特征在于，所述基架底部设有三个或三组中心对称的万向轮；所述的两条光线的中央段在所述基架内侧或外侧。4.根据权利要求1或2所述的激光平面度测量仪，其特征在于，所述的一对平面激光的颜色不同，所述非重合的两条光线分别为第一色、第二色激光线，根据所述第一色激光线的位置，判断当前被测平面上存在凹坑或凸起的方法：若第一色激光线与发出该第一色激光线的激光组件分布在所述非重合的两条光线的中心线的同侧，则判断当前被测平面上的所述两条光线的中央段的相应位置为凸起；反之，则判断当前被测平面上的所述两条光线的中央段的相应位置为凹坑。5.一种激光平面度测量仪的工作方法，其特征在于，包括：采用一对激光组件固定在该基架上，且该对激光组件对称相间分布；工作时，各激光组件生成一平面激光，各平面激光与被测平面的夹角（α）相同，所述的一对激光组件输出的平面激光分别投射在被测平面上并形成两条光线；若被测平面是理想基准平面，则所述两条光线重合；该两条光线的颜色不同，分别为...

【专利技术属性】
技术研发人员：金中义，顾春景，郭成昊，
申请(专利权)人：莱赛激光科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：