主辊测量装置制造方法及图纸

本公开涉及一种主辊测量装置，包括：工作台，具有用于定位主辊的放置工位；和测量机构，包括沿第一方向延伸并沿第二方向可移动地设于所述工作台的第一检测件，以及沿所述第一方向滑动设于第一检测件的至少两个第二检测件，第一方向垂直于第二方向；第一检测件用于测量主辊的主轴在第一方向上的长度参数，第二检测件用于第一检测件在所述第一方向上的测量定位以及用于检测主辊的盘片的凹槽参数。该主辊测量装置能够对待测量的主辊进行定位，降低测量误差，提高测量效率，满足主辊参数全面测量的需求。的需求。的需求。

【技术实现步骤摘要】
主辊测量装置


[0001]本公开涉及测量
，具体地，涉及一种主辊测量装置。

技术介绍

[0002]切方机是用于将零件切成方形的装置，常用于太阳能单晶硅棒的切方。切方机的主辊通常包括主轴以及设置于该主轴的两个盘片，每个盘片上均设置有多个凹槽，两个盘片对应凹槽之间的间距直接影响单晶硅棒的切方精度，因此，在进行切方之前需对其主辊上两个盘片之间的对应槽间距进行测量；
[0003]相关技术中，测量方式主要是针对主轴长度和两个盘片之间的对应槽间距进行测量，无法便捷对盘片参数(例如，盘片上的凹槽的槽型、槽深及角度)进行测量，测量效率底下且测量误差较大，不能很好地满足主辊参数全面测量的需求。

技术实现思路

[0004]本公开的目的是提供一种主辊测量装置，用于至少部分解决相关技术中的问题。
[0005]为了实现上述目的，本公开提供一种主辊测量装置，包括：
[0006]工作台，具有用于定位主辊的放置工位；和
[0007]测量机构，包括沿第一方向延伸并沿第二方向可移动地设于所述工作台的第一检测件，以及沿所述第一方向滑动设于所述第一检测件的至少两个第二检测件，所述第一方向垂直于所述第二方向；
[0008]所述第一检测件用于测量所述主辊的主轴在所述第一方向上的长度参数，所述第二检测件用于所述第一检测件在所述第一方向上的测量定位以及用于检测所述主辊的盘片的凹槽参数。
[0009]可选地，所述第一检测件构造为测量尺。
[0010]可选地，所述第二检测件包括沿所述第一方向滑动连接在所述第一检测件上的框架，以及可拆卸连接在所述框架上的探针，所述探针用于检测所述盘片的凹槽参数。
[0011]可选地，所述框架上设置有用于读取所述测量尺数值的通孔。
[0012]可选地，所述工作台包括底座、沿所述第一方向间隔设于所述底座的两个挡板以及设于所述底座且位于两个所挡板之间的定位结构；
[0013]所述第一检测件的两端分别沿所述第二方向滑动连接于两个所述挡板；
[0014]所述定位结构形成有所述放置工位。
[0015]可选地，所述定位结构包括沿所述第一方向延伸且沿第三方向间隔设置的两个支撑杆，每个所述支撑杆的两端分别通过一支撑座连接于所述底座，两个所述支撑杆之间形成所述放置工位；
[0016]所述第一方向、所述第二方向和所述第三方向相互垂直。
[0017]可选地，所述挡板与所述第一检测件之间设有引导机构，所述引导机构用于引导所述第一检测件沿所述第二方向移动；
[0018]所述主辊测量装置还包括锁止机构，所述锁止机构能够将所述第一检测件与所述挡板可解锁地锁止。
[0019]可选地，所述引导机构包括设置在所述挡板上的引导块，以及设置在所述第一检测件端部的滑块；
[0020]所述引导块上设有沿所述第二方向延伸的滑槽，所述滑块滑动连接于所述滑槽；
[0021]所述锁止机构包括螺栓；
[0022]所述挡板上设有连通所述挡板外侧壁和所述滑槽的螺纹孔，所述螺栓通过所述螺纹孔伸至所述滑槽内，且与所述第一检测件抵接，用以限定所述滑块的位置。
[0023]可选地，所述滑块构造为燕尾块；
[0024]所述滑槽构造为与所述燕尾块相适配的燕尾槽。
[0025]可选地，至少一个所述挡板的内侧壁与所述第一检测件的零刻度线对齐。
[0026]通过上述技术方案，即本公开的主轴测量装置，当需要对切方机主辊的各种参数进行测量时，可以将主辊放置在工作台的放置工位上，通过第一检测件对主辊的主轴在第一方向上的长度参数进行测量，并且在测量时第二检测件可以起到测量定位的作用，同时第二检测件还可以对主辊的盘片的凹槽进行参数测量。由此，本公开的主辊测量装置能够对待测量的主辊进行定位，降低测量误差，提高测量效率，满足主辊参数全面测量的需求。
[0027]本公开的其他特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。
附图说明
[0028]附图是用来提供对本公开的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本公开，但并不构成对本公开的限制。在附图中：
[0029]图1是本公开示例性实施方式中提供的底座上放置有待测量主辊的结构示意图；
[0030]图2是本公开示例性实施方式中提供的工作台的结构示意图；
[0031]图3是本公开示例性实施方式中提供的滑块滑动连接在滑槽内时的剖视结构示意图。
[0032]附图标记说明
[0033]1‑
主辊；101
‑
主轴；102
‑
盘片；2
‑
工作台；201
‑
底座；202
‑
挡板；3
‑
测量机构；301
‑
第一检测件；302
‑
第二检测件；3021
‑
框架；3022
‑
探针；3023
‑
通孔；4
‑
定位结构；401
‑
支撑座；402
‑
支撑杆；5
‑
引导机构；501
‑
引导块；502
‑
滑块；503
‑
滑槽；6
‑
锁止机构；601
‑
螺栓。
具体实施方式
[0034]以下结合附图对本公开的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本公开，并不用于限制本公开。
[0035]在本公开中，在未作相反说明的情况下，“内、外”是指相应零部件的本身轮廓而言的，此外，本公开中使用的术语“第一”、“第二”等是为了区别一个要素和另一个要素，不具有顺序性和重要性。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。
[0036]在本公开提供的具体实施方式中，提供一种主辊测量装置，参考图1至图3所示，该主辊测量装置包括：工作台2，具有用于定位主辊1的放置工位；和测量机构3，包括沿第一方
向延伸并沿第二方向可移动地设于工作台2的第一检测件301，以及沿第一方向滑动设于第一检测件301的至少两个第二检测件302，第一方向垂直于第二方向；第一检测件301用于测量主辊1的主轴101在第一方向上的长度参数，第二检测件302用于第一检测件301在第一方向上的测量定位以及用于检测主辊1的盘片102的凹槽参数。
[0037]当需要对主辊1进行参数测量时，可以将待测量的主辊1放置在工作台2上的放置工位上，通过放置工位对待测量的主辊1进行定位，放置工位可以避免在测量时，待测量的主辊1发生移动，导致测量出的参数不准确的问题，起到提高测量效率且可以降低测量误差的效果，本公开中可以通过第一检测件301对主辊1的各项参数进行测量，包括但不限于，主辊1的主轴101长度、主轴101的其中一个端面与其相靠近的盘片本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种主辊测量装置，其特征在于，包括：工作台，具有用于定位主辊的放置工位；和测量机构，包括沿第一方向延伸并沿第二方向可移动地设于所述工作台的第一检测件，以及沿所述第一方向滑动设于所述第一检测件的至少两个第二检测件，所述第一方向垂直于所述第二方向；所述第一检测件用于测量所述主辊的主轴在所述第一方向上的长度参数，所述第二检测件用于所述第一检测件在所述第一方向上的测量定位以及用于检测所述主辊的盘片的凹槽参数。2.根据权利要求1所述的主辊测量装置，其特征在于，所述第一检测件构造为测量尺。3.根据权利要求2所述的主辊测量装置，其特征在于，所述第二检测件包括沿所述第一方向滑动连接在所述第一检测件上的框架，以及可拆卸连接在所述框架上的探针，所述探针用于检测所述盘片的凹槽参数。4.根据权利要求3所述的主辊测量装置，其特征在于，所述框架上设置有用于读取所述测量尺数值的通孔。5.根据权利要求1所述的主辊测量装置，其特征在于，所述工作台包括底座、沿所述第一方向间隔设于所述底座的两个挡板以及设于所述底座且位于两个所挡板之间的定位结构；所述第一检测件的两端分别沿所述第二方向滑动连接于两个所述挡板；所述定位结构形成有所述放置工位。6.根据权利要求5所述的主辊测量装置，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：代以艳，段刚甲，张朝俊，李杰，杨依蓉，詹宏娟，
申请(专利权)人：腾冲隆基硅材料有限公司，
类型：新型
国别省市：