氮化镓器件的测试电路及方法技术

本发明专利技术提供一种氮化镓器件的测试电路，包括：高压支路，与氮化镓器件串联连接，用于当所述高压支路处于导通状态时向所述氮化镓器件提供第一电压；低压支路，与氮化镓器件串联连接，用于当所述低压支路处于导通状态时向所述氮化镓器件提供第二电压；测量支路，与所述低压支路连接，用于测量低压支路中的节点电压；其中，所述测试电路用于根据所述节点电压获取氮化镓器件的第一端电压，所述高压支路和低压支路复用同一开关管与氮化镓器件连接。本发明专利技术还提供一种氮化镓器件的测试方法，无延时，可以提高采样精度。以提高采样精度。以提高采样精度。

【技术实现步骤摘要】
氮化镓器件的测试电路及方法


[0001]本专利技术涉及电性能测试
，具体涉及一种氮化镓器件的测试电路及方法。

技术介绍

[0002]作为第三代半导体器件的代表，氮化镓(GaN)器件凭借着禁带宽度大、导热率高、耐高温、抗辐射、耐酸碱、高强度和高硬度等优势，使其在高频、高温、高效率的应用场合中很受欢迎。随着氮化镓功率器件的应用越来越广泛，对于氮化镓功率器件的测量也变得越来越重要。
[0003]由于氮化镓功率器件在关断状态时漏极电压较高，而在导通状态时漏极电压急剧下降，因此需要准确地测试导通电压的变化。通常情况下节点电压常采用高精度示波器，但是由于功率器件在关断时电压高，导通时电压低，示波器要捕捉导通电压需要较大的测量范围，否则示波器内部的放大器会失真，这被称作示波器过驱动，会无法准确测量导通电压。一般功率器件在关断时承受几百伏的电压，而导通电压在几伏到几十毫伏之间，此时示波器的分辨率无法满足导通电压测量，示波器无法准确测量导通电压。
[0004]现有技术中通过限幅电路来消除氮化镓功率器件在关断时的漏源电压以实现氮化镓功率器件导通电阻的精确测量。然而限幅电路的引入可能会给测量带来延迟和采用精度问题，从而无法满足高频高压状态下的测量要求。

技术实现思路

[0005]因此，本专利技术所要解决的技术问题为如何精确地测量氮化镓器件的动态导通阻抗。
[0006]为达到上述目的，本专利技术提供如下技术方案：根据本专利技术的一方面，提供一种氮化镓器件的测试电路，包括：高压支路，与氮化镓器件串联连接，用于当所述高压支路处于导通状态时向所述氮化镓器件提供第一电压；低压支路，与氮化镓器件串联连接，用于当所述低压支路处于导通状态时向所述氮化镓器件提供第二电压；测量支路，与所述低压支路连接，用于测量导通状态时低压支路中的节点电压；其中，所述测试电路用于根据所述节点电压获取氮化镓器件的第一端电压，所述高压支路和低压支路复用同一开关管与氮化镓器件连接。
[0007]优选地，所述高压支路包括第一电压源、第一电阻和开关管；其中，所述第一电压源的正端经由第一电阻与所述氮化镓器件的第一端连接，第一电压源的负端经由开关管与所述氮化镓器件的第二端连接，第一电压源的负端接地；所述氮化镓器件的控制端接地，开关管的控制端接收驱动信号，所述驱动信号控制所述开关管的导通与关断。
[0008]优选地，所述低压支路包括第二电压源、第二电阻、二极管和开关管；其中，第二电压源经由第二电阻和二极管与氮化镓器件的第一端连接；氮化镓器件的第二端与开关管的第一端连接，开关管的第二端接地。
[0009]优选地，所述测量支路包括电压表，所述电压表与第二电阻和二极管之间的节点
连接以测量节点电压。
[0010]优选地，所述测试电路还用于根据所述节点电压获取低压支路的电流，以及根据氮化镓器件的第一端电压以及低压支路的电流确定氮化镓器件的导通阻抗。
[0011]优选地，所述测试电路还用于当高压支路和低压支路从关断状态切换至导通状态时，根据氮化镓器件的第一端电压的电压变化判断氮化镓器件是否故障。
[0012]优选地，当所述氮化镓器件的第一端电压缓慢下降至预设电压以下或者不能下降至预设电压以下时，判定所述氮化镓器件故障。
[0013]优选地，所述测试电路还包括：驱动支路，与开关管的控制端连接，用于产生驱动信号以控制开关管的导通与关断。
[0014]根据本专利技术的另一方面，提供一种氮化镓器件的测试方法，包括：驱动支路产生驱动信号以控制高压支路和低压支路的导通与关断；在高压支路和低压支路处于导通状态时，高压支路和低压支路分别向氮化镓器件提供第一电压和第二电压；测量支路测量导通状态时低压支路中的节点电压；根据所述节点电压获取氮化镓器件的第一端电压和低压支路的电流，以及根据氮化镓器件的第一端电压以及低压支路的电流确定氮化镓器件的导通阻抗；其中，所述高压支路和所述低压支路复用同一开关管与氮化镓器件连接。
[0015]优选地，所测试方法还包括：当高压支路和低压支路从关断状态切换至导通状态时，根据氮化镓器件的第一端电压的电压变化判断氮化镓器件是否故障。
[0016]优选地，当所述氮化镓器件的第一端电压缓慢下降至预设电压以下或者不能下降至预设电压以下时，判定所述氮化镓器件故障。
[0017]本专利技术的有益效果在于：本专利技术实施例提供的氮化镓器件的测试电路及测试方法，测试电路中的高压支路和低压支路复用同一开关管与氮化镓器件连接，开关管同时控制高压支路和低压支路的导通与关断，当高压支路和低压支路导通时通过测量低压电路中某一节点的电压以得到氮化镓器件的第一端电压，根据氮化镓器件的第一端电压以及低压支路的电流获取氮化镓器件的导通阻抗，无延时，提高采样精度，可以精确地测量氮化镓器件的导通阻抗。
[0018]进一步地，低压支路仅包括电阻和二极管，电路结构简单，降低成本。
[0019]进一步地，当高压支路和低压支路从关断状态切换至导通状态时，根据氮化镓器件的第一端电压的电压变化判断氮化镓器件是否故障，有利于检测出氮化镓功率器件的故障，从而能够有效保证氮化镓功率器件的性能。
[0020]上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本专利技术的较佳实施例并配合附图详细说明如后。
附图说明
[0021]图1示出现有技术中氮化镓器件的测试电路的电路示意图；图2示出本专利技术实施例提供的氮化镓器件的测试电路的电路示意图；图3示出本专利技术实施例提供的氮化镓器件的测试方法的流程图。
具体实施方式
[0022]下面结合附图和实施例，对本专利技术的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施
例用于说明本专利技术，但不用来限制本专利技术的范围。
[0023]图1示出现有技术中氮化镓器件的测试电路的电路示意图。现有技术中的氮化镓器件的测试电路100包括主电路110、限幅电路120以及驱动电路130。
[0024]其中，主电路110包括氮化镓器件Q1和第一电源V1，其中氮化镓器件Q1连接在高压电源HV两端。高压电源HV的幅值大于400V。氮化镓器件Q1的第一端与高压电源HV的正端连接，第二端与接地端连接，控制端接收驱动信号VG。高压电源HV的负端也与接地端连接。氮化镓器件Q1的第一端例如为漏极，第二端例如为源极，控制端例如为栅极。
[0025]限幅电路120包括限流电阻R、二极管D和稳压管Z，其中，限流电阻R、二极管D和稳压管Z串联连接在氮化镓器件Q1的第一端和第二端之间，其中，限流电阻R连接在氮化镓器件Q1的第一端和二极管D的正极之间，二极管的负极与稳压管Z的负极连接，稳压管Z的正极与氮化镓器件Q1的第二端连接。
[0026]驱动电路130与所述氮化镓器件Q1的控制端连接，用于产生驱动信号VG。驱动信号VG为脉冲信号。所述驱动信号VG用于控制氮化镓器件Q1的导通与关断。
[0027]现有技术中的测量电路100通过对二极管D和限流本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种氮化镓器件的测试电路，其特征在于，包括：高压支路，与氮化镓器件串联连接，用于当所述高压支路处于导通状态时向所述氮化镓器件提供第一电压；低压支路，与氮化镓器件串联连接，用于当所述低压支路处于导通状态时向所述氮化镓器件提供第二电压；测量支路，与所述低压支路连接，用于测量导通状态时低压支路中的节点电压；其中，所述测试电路用于根据所述节点电压获取氮化镓器件的第一端电压，所述高压支路和低压支路复用同一开关管与氮化镓器件连接。2.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述高压支路包括第一电压源、第一电阻和开关管；其中，所述第一电压源的正端经由第一电阻与所述氮化镓器件的第一端连接，第一电压源的负端经由开关管与所述氮化镓器件的第二端连接，第一电压源的负端接地；所述氮化镓器件的控制端接地，开关管的控制端接收驱动信号，所述驱动信号控制所述开关管的导通与关断。3.根据权利要求2所述的测试电路，其特征在于，所述低压支路包括第二电压源、第二电阻、二极管和开关管；其中，第二电压源经由第二电阻和二极管与氮化镓器件的第一端连接；氮化镓器件的第二端与开关管的第一端连接，开关管的第二端接地。4.根据权利要求3所述的测试电路，其特征在于，所述测量支路包括电压表，所述电压表与第二电阻和二极管之间的节点连接以测量节点电压。5.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述测试电路还用于根据所述节点电压获取低压支路的电流，以及根据氮化镓器件的第一端电压以及低压支路的电流确定氮化...

【专利技术属性】
技术研发人员：王福龙，邱诚玉，王叶梅，张杰，
申请(专利权)人：苏州力生美半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：