一种共轴双光源和双探测器阵列同步采集的激光粒度仪制造技术

一种共轴双光源和双探测器阵列同步采集的激光粒度仪，由激光器1和激光器2发出两种不同波长的光，分别经扩束镜组3或扩束镜组4后到达二向色元件5，并分别被反射或透射后合成为一个平行光束。该平行光束照射颗粒样品区11，被颗粒散射，经接收透镜7、二向色元件6后分成两束不同波长的光。其中短波长的光被二向色元件6反射后由位于接收透镜组7焦平面上的光电探测器9接收信号；长波长的光被二向色元件6透射后经过接收镜组8，由位于接收透镜组7、接收透镜组8组合焦平面上的光电探测器10接收信号。接收透镜组7和接收透镜组8的组合焦距大于接收透镜组7的焦距；且由于采用了两种波长的光束作为入射光源，因此扩大了同步测量粒度的量程。量程。量程。

【技术实现步骤摘要】
一种共轴双光源和双探测器阵列同步采集的激光粒度仪


[0001]本专利技术涉及激光粒度测量领域，提供了一种具有两个光源沿同一个光轴同时入射，在两个探测面同步采集信号的激光粒度仪，用于测量颗粒的粒度分布。

技术介绍

[0002]激光粒度仪是常用的颗粒粒度测量仪器，具有非接触测量、测量范围宽、速度快等特点，可以用于多个领域的颗粒粒度检测。
[0003]激光粒度仪根据光散射原理对颗粒进行测量。由于自然界或人工合成的颗粒系的粒度分布范围较宽，因此采用单一接收透镜和单一光电探测器阵列难以满足宽分布粒度测量要求。为了扩大粒度测量范围，目前激光粒度仪常采用多光源或多类型探测器阵列组合实现。但由于激光粒度仪需要采用相干光照明，因此多个不同波长的光源难以同时照射样品区进行测量；不同类型的光电探测器接收信号方式不同，信号整合困难。因此，上述技术实现宽分布粒度的同步测量困难。
[0004]本专利技术采用两个不同波长的激光光源同时照射同一待测样品区域。由于在焦距和光电探测器尺寸相同的情况下，光波波长与颗粒粒径成正相关，波长越大的光束可测粒度越大，反之可测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种共轴双光源和双探测器阵列同步采集的激光粒度仪。由激光器1和激光器2、扩束镜组3和扩束镜组4、二向色元件5和二向色元件6、接收透镜组7和接收透镜组8、光电探测器阵列9和光电探测器阵列10组成。其中，激光器1和激光器2同时发射不同波长的激光；分别由扩束镜组3和扩束镜组4扩束后成为平行光，然后由二向色元件5合束后沿同一个光轴发射激光；两束不同波长的激光照射在颗粒样品区11。接收透镜组7接收待测颗粒物的散射光，经二向色元件6分成两种波长的两束光。其中由激光器1发出的短波长的激光沿90
°
反射后由位于接收透镜组7焦平面的光电探测器阵列9采集信号；由激光器2发出的长波长的激光沿...

【专利技术属性】
技术研发人员：魏永杰，王清，张树日，
申请(专利权)人：河北工业大学，
类型：发明
国别省市：