本申请涉及一种电器设备老化测试方法及装置，属于电器测试的技术领域，方法包括：基于预设供电时长、预设断电时长和测试总时长，周期性地对被测电器设备交替进行供电或断电；对所述被测电器设备供电时，判断所述被测电器设备是否供电正常；若是，则获取所述被测电器设备的运行参数和所述被测电器设备加热/制冷区的运行温度；基于所述运行参数和所述运行温度，生成测试日志、参数曲线和温度曲线；上报所述测试日志、所述参数曲线和所述温度曲线。本申请在被测电器设备供电正常时才获取被测电器设备的各项参数，从而在被测电器设备供电异常时，避免获取到异常的各项参数，在一定程度上能够减少出现测试人员将被测电器设备误判为不合格的情况。为不合格的情况。为不合格的情况。
【技术实现步骤摘要】
一种电器设备老化测试方法及装置
[0001]本申请涉及电器测试的
，特别涉及一种电器设备老化测试方法及装置。
技术介绍
[0002]电器设备在出厂之前往往需要进行开关机老化测试，以验证新生产的电器设备在经过高强度循环开机和关机后，是否会出现器件损坏、软件跑飞或存储区数据发生变化的现象，从而便于及时对产品进行改进，避免次品进入市场。
[0003]在老化测试期间，通过开关器件对被测电器设备循环的进行通电和断电操作，若被测电器设备在此期间没有烧毁，不出故障，各项参数稳定且满足设计需求，则该被测电器设备视为合格。但是，在老化测试期间，反复的开通与关断对开关器件也有着较大的损耗，开关器件损坏时，将造成被测电器设备的各项参数异常，容易出现测试人员将被测电器设备误判为不合格的情况。
技术实现思路
[0004]为了减少出现测试人员将被测电器设备误判为不合格的情况，本申请提供了一种电器设备老化测试方法及装置。
[0005]第一方面，本申请提供了一种电器设备老化测试方法，采用如下技术方案：一种电器设备老化测试方法，其包括：基于预设供电时长、预设断电时长和测试总时长，周期性地对被测电器设备交替进行供电或断电；对所述被测电器设备供电时，判断所述被测电器设备是否供电正常；若是，则获取所述被测电器设备的运行参数和所述被测电器设备加热/制冷区的运行温度；基于所述运行参数和所述运行温度，生成测试日志、参数曲线和温度曲线；上报所述测试日志、所述参数曲线和所述温度曲线。
[0006]通过采用上述技术方案，在获取被测电器设备的各项参数时，首先判断被测电器设备是否供电正常，当被测电器设备供电正常时才获取被测电器设备的各项参数，从而在被测电器设备供电异常时，避免获取到异常的各项参数，在一定程度上能够减少出现测试人员将被测电器设备误判为不合格的情况。
[0007]可选的，所述周期地性对被测电器设备交替进行供电或断电，之前还包括：获取所述被测电器设备的设备标识码；基于所述设备标识码，识别所述被测电器设备的设备型号；所述上报所述测试日志、所述参数曲线和所述温度曲线，还包括：上报所述设备型号。
[0008]通过采用上述技术方案，上报测试日志、参数曲线和温度曲线的同时还设备型号，便于生产厂家追溯被测电器设备在研发改进过程中的质量情况。
[0009]可选的，所述运行参数包括运行电压，运行电流，运行功率，运行电压频率，运行功
率因数和运行耗电量。
[0010]可选的，还包括：基于所述设备型号，调用对应的功率
‑
温度匹配表；基于所述功率
‑
温度匹配表，判断所述运行功率和所述运行温度是否有效；若无效，则对所述被测电器设备断电，结束测试并报警；若有效，则基于所述功率
‑
温度匹配表，判断所述运行功率和所述运行温度是否匹配；若不匹配，则对所述被测电器设备断电，结束测试并报警。
[0011]通过采用上述技术方案，不同的设备型号的被测电器设备具有不同的功率
‑
温度匹配表。当被测电器设备不满足设计要求时，运行功率和运行温度不在功率
‑
温度匹配表内；当被测电器设备故障时，运行功率和运行温度不匹配；从而能及时发现存在质量问题的被测电器设备，终止测试，便于后续及时改进被测电器设备。
[0012]可选的，所述对所述被测电器设备供电时，判断所述被测电器设备是否供电正常，包括：获取供电电源输出端的第一采样信息；获取所述被测电器设备供电输入端的第二采样信息；对所述被测电器设备供电时，判断所述第一采样信息和所述第二采样信息的误差是否小于预设阈值；若是，则所述被测电器设备供电正常；若否则所述被测电器设备供电异常。
[0013]可选的，所述对所述被测电器设备供电时，判断所述被测电器设备是否供电正常，之后包括：响应于所述被测电器设备供电正常，保持当前供电线路对所述被测电器设备进行供电；响应于所述被测电器设备供电异常，切换下一供电线路对所述被测电器设备进行供电。
[0014]通过采用上述技术方案，在老化测试过程中开关模块发生线路故障将直接影响老化测试的进度，从而增加电器设备的研发周期，带来经济损失。本申请通过切换供电线路，能够有效减少开关模块故障对老化测试进度的影响。
[0015]可选的，还包括：响应于所述第一采样信息丢失，保存所述测试日志、所述参数曲线和所述温度曲线。
[0016]通过采用上述技术方案，在一定程度上避免了因断电而造成的测试数据丢失。
[0017]第二方面，本申请提供了一种电器设备老化测试装置，采用如下技术方案：一种电器设备老化测试装置，包括：开关模块，用于基于预设供电时长、预设断电时长和测试总时长，周期性地对被测电器设备交替进行供电或断电；第一判断模块，用于在对所述被测电器设备供电时，判断所述被测电器设备是否供电正常；获取模块，用于所述第一判断模块判断所述被测电器设备供电正常时，获取所述被测电器设备的运行参数和所述被测电器设备加热/制冷区的运行温度；处理模块，用于基于所述运行参数和所述运行温度，生成测试日志、参数曲线和温
度曲线；通讯模块，用于上报所述测试日志、所述参数曲线和所述温度曲线。
[0018]可选的，所述第一判断模块包括：第一采样单元，用于获取供电电源输出端的第一采样信息；第二采样单元，用于获取所述被测电器设备供电输入端的第二采样信息；判断单元，用于在对所述被测电器设备供电时，判断所述第一采样信息和所述第二采样信息的误差是否小于预设阈值；若是，则所述被测电器设备供电正常；若否则所述被测电器设备供电异常；可选的，还包括：闪存模块，用于响应所述第一采样信息丢失，保存所述测试日志、所述参数曲线和所述温度曲线。
[0019]综上所述，本申请至少包括以下有益效果：在获取被测电器设备的各项参数时，首先判断被测电器设备是否供电正常，当被测电器设备供电正常时才获取被测电器设备的各项参数，从而在被测电器设备供电异常时，避免获取到异常的各项参数，在一定程度上能够减少出现测试人员将被测电器设备误判为不合格的情况。
附图说明
[0020]图1是本申请电器设备老化测试方法一种实施方式的流程示意图；图2是本申请步骤S4一种实施方式的具体流程示意图；图3是本申请步骤S4进一步的具体流程示意图；图4是本申请电器设备老化测试方法进一步实施方式的流程示意图；图5是本申请电器设备老化测试设备一种实施方式的结构框图；图6是本申请开关模块的具结构示意图。
[0021]附图标记说明：1、开关模块；101、继电器单元；102、控制单元；103、切换单元；2、第一判断模块；201、第一采样单元；202、第二采样单元；203、判断单元；3、获取模块；4、处理模块；5、通讯模块；6、扫描模块；7、译码模块；8、调用模块；9、第二判断模块；10、第三判断模块；11、执行模块；12、闪存模块。
具体实施方式
[0022]为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电器设备老化测试方法，其特征在于，包括：基于预设供电时长、预设断电时长和测试总时长，周期性地对被测电器设备交替进行供电或断电；对所述被测电器设备供电时，判断所述被测电器设备是否供电正常；若是，则获取所述被测电器设备的运行参数和所述被测电器设备加热/制冷区的运行温度；基于所述运行参数和所述运行温度，生成测试日志、参数曲线和温度曲线；上报所述测试日志、所述参数曲线和所述温度曲线。2.根据权利要求1所述的一种电器设备老化测试方法，其特征在于，所述周期性地对被测电器设备交替进行供电或断电，之前还包括：获取所述被测电器设备的设备标识码；基于所述设备标识码，识别所述被测电器设备的设备型号；所述上报所述测试日志、所述参数曲线和所述温度曲线，还包括：上报所述设备型号。3.根据权利要求2所述的一种电器设备老化测试方法，其特征在于：所述运行参数包括运行电压，运行电流，运行功率，运行电压频率，运行功率因数和运行耗电量。4.根据权利要求3所述的一种电器设备老化测试方法，其特征在于，还包括：基于所述设备型号，调用对应的功率
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温度匹配表；基于所述功率
‑
温度匹配表，判断所述运行功率和所述运行温度是否有效；若无效，则对所述被测电器设备断电，结束测试并报警；若有效，则基于所述功率
‑
温度匹配表，判断所述运行功率和所述运行温度是否匹配；若不匹配，则对所述被测电器设备断电，结束测试并报警。5.根据权利要求1
‑
4任一所述的一种电器设备老化测试方法，其特征在于，所述对所述被测电器设备供电时，判断所述被测电器设备是否供电正常，包括：获取供电电源输出端的第一采样信息；获取所述被测电器设备供电输入端的第二采样信息；对所述被测电器设备供电时，判断所述第一采样信息和所述第二采样信息的误差是否小于预设阈值；若是，则所述被测电器...
【专利技术属性】
技术研发人员：廖鹏，
申请(专利权)人：深圳市拓普瑞电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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