【技术实现步骤摘要】
固态硬盘弯曲测试方法、装置、计算机设备及存储介质
[0001]本专利技术涉及固态硬盘,更具体地说是指固态硬盘弯曲测试方法、装置、计算机设备及存储介质。
技术介绍
[0002]SSD(固态硬盘,Solid State Disk)在电脑整机的组装过程中会受到各种弯曲应力,弯曲应力可能导致SSD上面的BGA(球栅阵列结构的封装,Ball Grid Array)芯片与PCB板上的焊点开裂,从而导致SSD功能异常,现有电脑整机的ODM厂商通常会对SSD模组提出一个抗应变的指标,而这个值通常是一个均值或最大值。
[0003]现有的弯曲测试标准有四点弯曲测试和三点弯曲测试,其中四点弯曲测试需要制作测试板,通过菊花链的电阻变化作为PASS/FAIL判据,这个测试板与实际的产品在结构和功能上有偏差,四点弯曲测试的样本量要求至少23pcs;三点弯曲测试限定测试对象为塑料等,且需要加工成特定的尺寸,样本量为4
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5个,样品测试后只是得到了一组均值及标准差,没有对样品的可靠性进行量化评估。现有的SSD弯曲测试,测试强度或者 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.固态硬盘弯曲测试方法,其特征在于,包括:设定SSD抗弯曲应力的可靠度目标;统计SSD在电脑整机组装工序中受到的最大应变均值及标准差,以得到应力;通过分级加载测出SSD最大弯曲弹性形变的扰度;对SSD施加最大弯曲弹性形变并收集应变数据,以得到产品强度;将所述应力以及产品强度用应力强度干涉模型验证计算可靠度;对测试后的产品进行外观和功能测试。2.根据权利要求1所述的固态硬盘弯曲测试方法,其特征在于,所述通过分级加载测出SSD最大弯曲弹性形变的扰度,包括:从设定扰度起始,以设定差值的级差分级加载,直至负载撤去后SSD不能完全恢复至初始状态为试验截止,对应的扰度为最小弯曲塑性形变扰度,倒推一个级差,以得到SSD最大弯曲弹性形变的扰度。3.根据权利要求2所述的固态硬盘弯曲测试方法,其特征在于,所述设定扰度为0.3mm扰度;所述设定差值为0.3mm。4.根据权利要求1所述的固态硬盘弯曲测试方法,其特征在于,所述对SSD施加最大弯曲弹性形变并收集应变数据,以得到产品强度,包括:在弯曲试验机上设置目标扰度为SSD最大弯曲弹性形变的扰度;设置压头运动速度;取SSD盘片固定到弯曲试验机两个支座上,记录压头运动至目标扰度时的最大应变值,以得到产品强度。5.根据权利要求1所述的固态硬盘弯曲测试方法,其特征在于,所述可靠度是所述产品强度大于所述应力的概率。6.固态硬盘弯曲测试装置,其特征在于,包括:设定单元,用于设定SSD抗弯曲应力的可靠度目标;统计...
【专利技术属性】
技术研发人员:谢奉洋,孙克庆,付荣耀,
申请(专利权)人:东莞忆联信息系统有限公司,
类型:发明
国别省市:
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