一种基于可控震源的提高地震数据静校正成像精度的方法技术

本发明专利技术公开了一种基于可控震源的提高地震数据静校正成像精度的方法，包括以下步骤，1、首先对可控震源数据进行最小相位化处理工作；2、人工精细拾取单炮数据第一个初至起跳点，获得近地表地质信息；3、对数据进行初至波折射静校正计算；4、原始单跑数据应用步骤3基准面静校正；5、对步骤2拾取的数据初至道头修改，保证和步骤4数据一致；6、对数据进行初至波剩余静校正计算，联合初至波折射静校正共同提高成像质量的聚焦性；7、对基准面静校正高低频分离，静校正低频分量保证地下构造形态的真实性；基准面静校正高频分量联合初至波剩余静校正作为静校正高频分量。本发明专利技术能够消除低降速带厚度、速度变化造成的同相轴成像抖动问题。速度变化造成的同相轴成像抖动问题。速度变化造成的同相轴成像抖动问题。

【技术实现步骤摘要】
一种基于可控震源的提高地震数据静校正成像精度的方法


[0001]本专利技术涉及城市地质地震勘探成像
，具体是指一种基于可控震源的提高地震数据静校正成像精度的方法。

技术介绍

[0002]城市地质地震勘探工作区常常被第四系覆盖，地层松散，且在第四系地层内部，沉积有不同颗粒的砂层、粘土层及亚粘土层等不同岩性的地层，会产生若干波阻抗界面。同时由于近地表沉积条件存在较大的差异，低降速带厚度几米到上百米不等，表层速度横向、纵向变化剧烈，由低降速带引起的静校正问题影响到地震数据的成像质量，甚至会产生假构造，严重干扰了地下地层展布、断裂特征及特殊地质岩性体的落实。同时城市地质地震勘探缺少微测井、小折射数据，应用微测井、小折射生成野外静校正成本高，仅仅应用高程静校正又难以解决城市地质地震勘探成像的精度。
[0003]以某区地震为例进行技术创新工作，本项目采用了2m道距、6米炮距、600m排列长度观测系统进行1ms数据采集，空间面元采样密度高，时间面元采样密度间隔小，能够获取第四系不同颗粒的砂层、粘土层、亚粘土层及砾石等速度丰富信息，具有计算初至折射波静校正和初至剩余静校正的条件。在正确定义观测系统的基础上，进行可控震源最小相位化处理，使可控震源的混合相位经相位处理后变为最小相位后，再精确拾取第一个初至起跳点，能够获取准确丰富的近地表直达波信息，如图1所示。
[0004]初至静校正一类先由初至旅行时求取近地表低速层的厚度和速度，即建立近地表模型，再根据地表一致性原理，计算出各个炮点和检波点处的基准面静校正的方法，但计算出的短波长静校正的精度不高。
[0005]另一类不需要确定近地表的厚度和速度，而是直接对初至波旅行时进行统计处理，求取炮点和检波点的剩余静校正值，优点是可以适应复杂的地表条件，缺点是不能解决构造成像的真实性问题。
[0006]因此，一种基于可控震源的提高地震数据静校正成像精度的方法成为整个社会亟待解决的问题。

技术实现思路

[0007]为解决上述技术问题，本专利技术提供的技术方案为：一种基于可控震源的提高地震数据静校正成像精度的方法，包括以下方法步骤，
[0008](1)首先对可控震源数据进行最小相位化处理工作；
[0009](2)人工精细拾取单炮数据第一个初至起跳点，获得近地表地质信息；
[0010](3)对数据进行初至波折射静校正计算，提高基准面静校正精度；
[0011](4)原始单跑数据应用步骤(3)基准面静校正，提高初至波平滑度；
[0012](5)对步骤(2)拾取的数据初至道头修改，保证和步骤(4)数据一致；
[0013](6)对数据进行初至波剩余静校正计算，联合初至波折射静校正共同提高成像质
量的聚焦性。
[0014]进一步地，所述步骤(3)中对数据进行初至波折射静校正计算，求取炮点、检波点基准面静校正量。
[0015]进一步地，所述步骤(5)中保证和步骤(4)的炮集数据道头匹配。
[0016]专利技术与现有技术相比的优点在于：
[0017]本专利技术采用上述技术方案，能够消除低降速带厚度、速度变化造成的同相轴成像抖动问题，也同时提高了城市地质浅层工程地震成像准确性、聚焦性，产生了较好的社会经济效益。
附图说明
[0018]图1是炮集数据第一个初至起跳点拾取图；
[0019]图2是城市地震地质数据静校正技术流程示意图；
[0020]图3是初至波联合静校正应单炮效果图；
[0021]图4是初至波联合静校正应用叠加效果图；
[0022]图5是初至波联合高频静校正应用前后对比图。
具体实施方式
[0023]下面结合附图对本专利技术做进一步的详细说明。
[0024]结合附图，对本专利技术进行详细介绍。
[0025]本专利技术在具体实施时提供了一种基于可控震源的提高地震数据静校正成像精度的方法，
[0026](1)首先对数据进行观测系统定义、小相位化处理工作；
[0027](2)对地震数据第一个初至起跳点精细拾取，获得近地表地质信息；
[0028](3)进行初至波折射静校正计算，求取炮点、检波点基准面静校正量；
[0029](4)对炮集数据应用初至波折射基准面静校正，提高初至波的平滑度；
[0030](5)对步骤2拾取的初至道头修改，和步骤4的炮集数据道头匹配；
[0031](6)进行初至波剩余静校正计算，提高静校正的高频精度，改善成像质量；
[0032](7)对基准面静校正高低频分离，静校正低频分量保证地下构造形态的真实性；基准面静校正高频分量联合初至波剩余静校正作为静校正高频分量，联合应用共同提高成像同相轴的聚焦性，为后续速度分析等工作提供技术支撑。
[0033]实施例：
[0034]以某地区为例，工区采集参数可见表1，技术流程示意图可见图2。
[0035]如图3所示，从应用高程静校正的单炮和应用初至波联合静校正的单炮监控可以看出，初至波联合静校正应用后初至波抖动现象消失，初至平滑，符合地表速度变化规律；通过图4叠加对比表明，初至波联合静校正叠加剖面成像效果改善，同相轴聚焦性更强；图5为高频静校正联合应用后的效果，较好的解决了静校正高频成像问题，双曲线特征规律明显，为后续城市地质地震成像奠定了坚实的基础。
[0036]某区某地断裂地质调查浅层(二维)地震采集观测系统参数表表1
[0037]名称参数名称参数
观测系统二维测线排列方式300
‑0‑2‑0‑
300道距(m)2接收道数(道)300cmp(m)1覆盖次数50激发点距(m)6激发方式可控震源记录长度(s)2项目编号11000022210200001649
‑
XM002
‑2[0038]以上对本专利技术及其实施方式进行了描述，这种描述没有限制性，附图中所示的也只是本专利技术的实施方式之一，实际的结构并不局限于此。总而言之如果本领域的普通技术人员受其启示，在不脱离本专利技术创造宗旨的情况下，不经创造性的设计出与该技术方案相似的结构方式及实施例，均应属于本专利技术的保护范围。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于可控震源的提高地震数据静校正成像精度的方法，其特征在于，包括以下方法步骤，(1)首先对可控震源数据进行最小相位化处理工作；(2)人工精细拾取单炮数据第一个初至起跳点，获得近地表地质信息；(3)对数据进行初至波折射静校正计算，提高基准面静校正精度；(4)原始单跑数据应用步骤(3)基准面静校正，提高初至波平滑度；(5)对步骤(2)拾取的数据初至道头修改，保证和步骤(4)数据一致；(6)对数据进行初至波剩余静校正计算，联合初至波折射静校正共同提高成像质量的聚焦性；(7)对...

【专利技术属性】
技术研发人员：王安国，秦元萍，张悦泽，
申请(专利权)人：北京市地质调查研究所，
类型：发明
国别省市：