本实用新型专利技术提供一种用于10KV模压瓷介电容器老化试验的治具，瓷介电容器包括本体和设置在本体上的两引出端，引出端包括间隔的多个引脚，包括盒体、盖体、放置槽、两连接槽组、多个连接片，盖体可封闭盒体地设置在盒体上，放置槽设置在盒体内以放置本体，两连接槽组分别设置在放置槽两侧以对应于两引出端，连接槽组包括多个沿放置槽长度方向间隔布置的连接槽，各连接片分别设置在各连接槽内，连接片一端延伸至放置槽内以与对应的引脚接触，连接片另一端伸出盒体，各连接槽组对应的连接片另一端导电连接，盖体封闭盒体时与盒体扣紧并向下压住本体，使得连接片与引脚牢固接触，避免出现打火现象，以使老化试验顺利进行。以使老化试验顺利进行。以使老化试验顺利进行。
【技术实现步骤摘要】
一种用于10KV模压瓷介电容器老化试验的治具
[0001]本技术涉及一种用于10KV模压瓷介电容器老化试验的治具。
技术介绍
[0002]电子元器件在出厂前，需要对其进行老化试验，以将具有缺陷的个体筛选出来。但对于10KV高压模压瓷介电容器而言，现有技术中没有专门针对其的试验夹具，若采用现有技术中的夹具装夹进行老化试验，由于夹具与瓷介电容器的接触面存在缝隙，而该电容器的在额定电压在10KV左右，在如此高压下存在的缝隙会使得表面电阻增大，从而导致瓷介电容器的引出端容易出现大伙现象，最终导致10KV高压模压瓷介电容器无法进行老化试验。
技术实现思路
[0003]本技术提出一种用于10KV模压瓷介电容器老化试验的治具，盖体与盒体扣紧并向下压住本体，使得连接片与引脚牢固接触，避免出现打火现象，以使老化试验顺利进行。
[0004]本技术通过以下技术方案实现：
[0005]一种用于10KV模压瓷介电容器老化试验的治具，瓷介电容器包括本体和设置在本体上的两引出端，引出端包括间隔的多个引脚，包括盒体、盖体、放置槽、两连接槽组、多个连接片，盖体可封闭盒体地设置在盒体上，放置槽设置在盒体内以放置本体，两连接槽组分别设置在放置槽两侧以对应于两引出端，连接槽组包括多个沿放置槽长度方向间隔布置的连接槽，各连接片分别设置在各连接槽内，连接片一端延伸至放置槽内以与对应的引脚接触，连接片另一端伸出盒体，各连接槽组对应的连接片另一端导电连接，试验时，瓷介电容器置于放置槽内，盖体封闭与盒体扣紧封闭盒体，此时盖体向下压住本体，使各个引脚与对应的连接片均可靠连接，再将盒体置于电容器高温老化系统的烘箱内加热，并选择相应的老化区，按照要求施加电压即可进行电压老化试验，该过程中不会出现接触面打火的现象，试验能够可靠稳定地进行，从而满足高压瓷介电容器的老化需求。
[0006]进一步的，所述连接片包括第一水平部、设置在第一水平部两端的第一竖直部和第二竖直部、以及设置在第一竖直部下端的第二水平部，第二水平部伸入放置槽内，第二竖直部伸出盒体，所述引脚呈L字形并位于本体侧面和底面，所述本体置于放置槽内时，第二水平部与本体底面的引脚接触，该结构能够使引脚与连接片的接触更好。
[0007]进一步的，还包括连接板，所述第二竖直部端部设置有连接孔，同一连接槽组对应的第二竖直部通过穿过连接孔的螺栓锁紧在连接板上，以实现导电连接。
[0008]进一步的，所述连接槽底部设置有供连接片穿过的通孔。
[0009]进一步的，所述盖体一端与盒体铰接连接，另一端通过卡扣与盒体扣紧。
[0010]进一步的，所述连接片的第一水平部、第一竖直部、第二竖直部和第二水平部一体成型。
附图说明
[0011]下面结合附图对本技术做进一步详细说明。
[0012]图1为本技术的结构示意图。
[0013]图2为本技术的另一结构示意图。
[0014]图3为本技术的瓷介电容器置于放置槽时的状态图。
[0015]图4为本技术盖体关闭后的结构示意图。
[0016]图5为本技术盒体的结构示意图。
[0017]图6为本技术连接片的结构示意图。
[0018]图7为本技术瓷介电容器的结构示意图。
[0019]其中，1、瓷介电容器；11、本体；12、引脚；2、盒体；3、盖体；4、放置槽；5、连接槽；51、通孔；6、连接片；61、第一水平部；62、第一竖直部；63、第二竖直部；64、第二水平部；65、连接孔。
具体实施方式
[0020]如图1至图7所示，10KV模压瓷介电容器1包括呈长方体的本体11和设置在本体11上的两引出端，引出端包括间隔的四个引脚12，各引脚12呈L字形并位于本体11的侧面和底面。用于10KV模压瓷介电容器老化试验的治具包括盒体2、盖体3、放置槽4、两连接槽5组、八个连接片6和连接板。盒体2和盖体3由尼龙材料制成，盖体3可封闭盒体2地设置在盒体2上，放置槽4设置在盒体2内以放置本体11，两连接槽5组分别设置在放置槽4两侧以对应于两引出端，连接槽5组包括四个沿放置槽4长度方向间隔布置的连接槽5，连接槽5底部设置有通孔51，各连接片6分别设置在各连接槽5内，连接片6一端延伸至放置槽4内以与对应的引脚12接触，连接片6另一端穿过通孔51后伸出盒体2，各连接槽5组的四个连接片6另一端通过连接板导电连接，盖体3封闭盒体2时与盒体2扣紧并向下压住本体11。
[0021]连接片6包括第一水平部61、设置在第一水平部61两端的第一竖直部62和第二竖直部63、以及设置在第一竖直部62下端的第二水平部64，第二水平部64伸入放置槽4内，第二竖直部63伸出盒体2，第二竖直部63端部设置有连接孔65，同一连接槽5组对应的四个第二竖直部63通过穿过连接孔65的螺栓锁紧在连接板上，以实现导电连接。在本实施例中，连接片6的第一水平部61、第一竖直部62、第二竖直部63和第二水平部64一体成型。
[0022]盖体3一端与盒体2一端铰接连接、另一端通过卡扣与盒体2扣紧，其中，卡扣具体结构为现有技术。本体11置于放置槽4内时，连接片6的第二水平部64与本体11底面的引脚12接触，盖体3扣紧时，向下压住本体11，使引脚12与连接片6的连接更为牢固。
[0023]以上所述，仅为本技术的较佳实施例而已，故不能以此限定本技术实施的范围，即依本技术申请专利范围及说明书内容所作的等效变化与修饰，皆应仍属本技术专利涵盖的范围内。
本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于10KV模压瓷介电容器老化试验的治具，瓷介电容器包括本体和设置在本体上的两引出端，引出端包括间隔的多个引脚，其特征在于：包括盒体、盖体、放置槽、两连接槽组、多个连接片，盖体可封闭盒体地设置在盒体上，放置槽设置在盒体内以放置本体，两连接槽组分别设置在放置槽两侧以对应于两引出端，连接槽组包括多个沿放置槽长度方向间隔布置的连接槽，各连接片分别设置在各连接槽内，连接片一端延伸至放置槽内以与对应的引脚接触，连接片另一端伸出盒体，各连接槽组对应的连接片另一端导电连接，盖体封闭盒体时与盒体扣紧并向下压住本体。2.根据权利要求1所述的一种用于10KV模压瓷介电容器老化试验的治具，其特征在于：所述连接片包括第一水平部、设置在第一水平部两端的第一竖直部和第二竖直部、以及设置在第一竖直部下端的第二水平部，第二水平部伸入放置槽内，第二竖直部伸出盒体...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈骑昆，王延凯，黄志恒，陈国滨，陈昌灯，
申请(专利权)人：福建火炬电子科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。