一种信号冲突验证方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本申请公开了一种信号冲突验证方法、装置、设备及存储介质，涉及芯片验证领域，包括：获取写/读请求端同时访问待测SRAM模块时产生的内部冲突信号；并从中筛选出优先级低的目标信号；判断当前与目标信号对应的目标操作是否被反压，如果是则累积统计被反压次数并监测得到的第一反压计数值是否达到预设阈值，如果是则在预设信号处于上升沿时触发对初始映射关系的预设调整流程，并对是否已将预设信号拉高并保持预设拍数进行断言测试；若断言测试结果为否则进行相应的断言报错。本申请通过实时监测内部信号冲突情况，避免一直对优先级高的信号执行对应操作，并通过断言方式对预设控制信号进行测试，及时反馈异常信息，提高信号冲突验证的排错率。验证的排错率。验证的排错率。

【技术实现步骤摘要】
一种信号冲突验证方法、装置、设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及芯片验证领域，特别涉及一种信号冲突验证方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]芯片验证中，主要的工作是对验证的模块进行数据比对和功能验证。常见的check机制是对待测模块SRAM(Static Random Access Memory，静态随机存储器)输出端进行数据收集，并将收集的数据与功能一致的参考模型的输出数据进行比对。这种check机制虽然可以满足大部分功能模块的验证需求，但是，对于控制复杂型模块，当关注的测试点出现功能异常时容易出现反馈不及时、甚至假过的情况，同时，待测SRAM模块的逻辑排错效率也有待提高。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种信号冲突验证方法、装置、设备及存储介质，能够通过实时监测内部信号冲突情况，避免一直对优先级高的信号执行对应操作，并通过断言方式对预设控制信号进行测试，及时反馈异常信息，提高信号冲突验证的排错率。其具体方案如下：
[0004]第一方面，本申请提供了一种信号冲突验证方法，包括：
[0005]获取写请求端和读请求端同时访问待测SRAM模块时产生的内部冲突信号；
[0006]利用初始映射关系以及信号对应的访问模式，确定所述内部冲突信号中每个信号的优先级并筛选出优先级低的目标信号；
[0007]判断当前与所述目标信号对应的目标操作是否被反压，如果是则对被反压次数进行累积统计，以得到第一反压计数值；
[0008]监测所述第一反压计数值是否达到预设被反压次数阈值，如果是则在预设控制信号处于上升沿时触发针对所述初始映射关系的预设调整流程，并对是否已将所述预设控制信号拉高并保持预设拍数进行断言测试；
[0009]若断言测试结果为是，则表征所述预设调整流程已执行完毕；若断言测试结果为否，则进行相应的断言报错。
[0010]可选的，所述判断当前与所述目标信号对应的目标操作是否被反压，包括：
[0011]在所述目标信号为高电平时，判断当前目标关联信号是否为高电平；所述目标关联信号与所述目标信号对应相同的访问模式；
[0012]如果当前所述目标关联信号为高电平，则判定当前与所述目标信号对应的目标操作被反压。
[0013]可选的，所述对被反压次数进行累积统计，以得到第一反压计数值，包括：
[0014]通过验证环境内预设的第一计数器对被反压次数进行累积统计，以得到第一反压计数值；所述验证环境为用于对所述待测SRAM模块进行验证的环境。
[0015]可选的，所述判断当前与所述目标信号对应的目标操作是否被反压之后，还包括：
[0016]如果未被反压，则对所述第一计数器进行清零操作，并重新跳转至所述判断当前与所述目标信号对应的目标操作是否被反压的步骤。
[0017]可选的，所述对被反压次数进行累积统计，以得到第一反压计数值之后，还包括：
[0018]监测通过所述第一计数器统计的所述第一反压计数值与通过所述待测SRAM模块内的第二计数器统计的第二反压计数值是否一致；所述第二计数器用于对所述被反压次数进行累积统计以得到所述第二反压计数值；
[0019]如果不一致，则通过所述验证环境进行断言报错；
[0020]如果一致，则禁止触发所述通过所述验证环境进行断言报错的步骤。
[0021]可选的，所述监测所述第一反压计数值是否达到预设被反压次数阈值之后，还包括：
[0022]如果未达到，则重新跳转至所述判断当前与所述目标信号对应的目标操作是否被反压的步骤。
[0023]可选的，所述预设调整流程，包括：
[0024]将所述初始映射关系进行第一次翻转操作，以得到翻转后映射关系，并在所述预设拍数对应的时间段内进行相应的所述目标操作，然后在所述预设控制信号处于下降沿时触发第二次翻转操作，以将所述翻转后映射关系还原为所述初始映射关系。
[0025]第二方面，本申请提供了一种信号冲突验证装置，包括：
[0026]冲突信号获取模块，用于获取写请求端和读请求端同时访问待测SRAM模块时产生的内部冲突信号；
[0027]目标信号筛选模块，用于利用初始映射关系以及信号对应的访问模式，确定所述内部冲突信号中每个信号的优先级并筛选出优先级低的目标信号；
[0028]次数统计模块，用于判断当前与所述目标信号对应的目标操作是否被反压，如果是则对被反压次数进行累积统计，以得到第一反压计数值；
[0029]断言测试模块，用于监测所述第一反压计数值是否达到预设被反压次数阈值，如果是则在预设控制信号处于上升沿时触发针对所述初始映射关系的预设调整流程，并对是否已将所述预设控制信号拉高并保持预设拍数进行断言测试；
[0030]断言报错模块，用于若断言测试结果为是，则表征所述预设调整流程已执行完毕；若断言测试结果为否，则进行相应的断言报错。
[0031]第三方面，本申请提供了一种电子设备，包括：
[0032]存储器，用于保存计算机程序；
[0033]处理器，用于执行所述计算机程序以实现前述的信号冲突验证方法。
[0034]第四方面，本申请提供了一种计算机可读存储介质，用于保存计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现前述的信号冲突验证方法。
[0035]本申请中，获取写请求端和读请求端同时访问待测SRAM模块时产生的内部冲突信号；利用初始映射关系以及信号对应的访问模式，确定所述内部冲突信号中每个信号的优先级并筛选出优先级低的目标信号；判断当前与所述目标信号对应的目标操作是否被反压，如果是则对被反压次数进行累积统计，以得到第一反压计数值；监测所述第一反压计数值是否达到预设被反压次数阈值，如果是则在预设控制信号处于上升沿时触发针对所述初
始映射关系的预设调整流程，并对是否已将所述预设控制信号拉高并保持预设拍数进行断言测试；若断言测试结果为是，则表征所述预设调整流程已执行完毕；若断言测试结果为否，则进行相应的断言报错。由此可见，本申请通过对写请求端和读请求端同时访问待测SRAM模块时产生的内部冲突信号进行实时监测，对优先级低的目标信号对应的被反压次数进行累积统计，以在被反压次数达到预设被反压次数阈值时，通过调整预设控制信号以对目标信号的优先级进行相应的调整，从而避免一直对初始映射关系中优先级高的信号执行对应的功能操作；另外，本申请通过断言方式对预设控制信号进行测试，在断言测试结果为否时，则表明当前没有按照预期对预设控制信号拉高并保持预设拍数，也即当前没有按照预期对目标信号的优先级进行相应的调整，从而容易出现当前执行的功能操作与预期的功能操作不一致的情况，而通过断言报错可以实时反馈异常信息，提高信号冲突验证的准确率以及排错率。
附图说明
[0036]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种信号冲突验证方法，其特征在于，包括：获取写请求端和读请求端同时访问待测SRAM模块时产生的内部冲突信号；利用初始映射关系以及信号对应的访问模式，确定所述内部冲突信号中每个信号的优先级并筛选出优先级低的目标信号；判断当前与所述目标信号对应的目标操作是否被反压，如果是则对被反压次数进行累积统计，以得到第一反压计数值；监测所述第一反压计数值是否达到预设被反压次数阈值，如果是则在预设控制信号处于上升沿时触发针对所述初始映射关系的预设调整流程，并对是否已将所述预设控制信号拉高并保持预设拍数进行断言测试；若断言测试结果为是，则表征所述预设调整流程已执行完毕；若断言测试结果为否，则进行相应的断言报错。2.根据权利要求1所述的信号冲突验证方法，其特征在于，所述判断当前与所述目标信号对应的目标操作是否被反压，包括：在所述目标信号为高电平时，判断当前目标关联信号是否为高电平；所述目标关联信号与所述目标信号对应相同的访问模式；如果当前所述目标关联信号为高电平，则判定当前与所述目标信号对应的目标操作被反压。3.根据权利要求1所述的信号冲突验证方法，其特征在于，所述对被反压次数进行累积统计，以得到第一反压计数值，包括：通过验证环境内预设的第一计数器对被反压次数进行累积统计，以得到第一反压计数值；所述验证环境为用于对所述待测SRAM模块进行验证的环境。4.根据权利要求3所述的信号冲突验证方法，其特征在于，所述判断当前与所述目标信号对应的目标操作是否被反压之后，还包括：如果未被反压，则对所述第一计数器进行清零操作，并重新跳转至所述判断当前与所述目标信号对应的目标操作是否被反压的步骤。5.根据权利要求3所述的信号冲突验证方法，其特征在于，所述对被反压次数进行累积统计，以得到第一反压计数值之后，还包括：监测通过所述第一计数器统计的所述第一反压计数值与通过所述待测SRAM模块内的第二计数器统计的第二反压计数值是否一致；所述第二计数器用于对所述被反压次数进行...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾香熔，张芳妮，程思远，禹治祥，
申请(专利权)人：湖南国科微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：