一种粉末材料复介电常数测试系统及其校准方法技术方案

本发明专利技术公开了一种粉末材料复介电常数测试系统及其校准方法：包括矢量网络分析仪、第一波同转换器、第二波同转换器、第一波导、第二波导、波导夹具、垫片，波导夹具由一组不同长度的波导片构成；测试时，两个垫片分别嵌置于波导夹具相背侧的两端口内，将待测粉末材料密封于波导夹具内；第一波导和第二波导之间连接直通校准件，进行Thru校准；第一波导或第二波导连接反射校准件，反射校准件内嵌垫片和金属片，进行Reflect校准；第一波导和第二波导之间连接传输线校准件，进行Line校准。本发明专利技术同时配置了不同长度的波导夹具，保证粉末材料复介电常数的测量精度，校准测试过程中去除了垫片影响，测试过程简单、准确度高。准确度高。准确度高。

【技术实现步骤摘要】
一种粉末材料复介电常数测试系统及其校准方法


[0001]本专利技术涉及粉末材料介电特性测试技术，更具体的说，是涉及一种粉末材料复介电常数测试系统及其校准方法。

技术介绍

[0002]随着材料科学的发展，粉末材料以其特有的微波性能，被广泛用作隐身材料、电子器件材料、仿生体材料等，粉末材料的介电特性成为各类复合材料和新材料特性分析的基本需求。
[0003]为了获取粉末材料在微波段的复介电常数，目前存在的测量方法有单端反射法、谐振腔方法、传输反射法三类。现有的各种测量方法中，都有各自特有的使用场景和优缺点。
[0004]单端反射法具有在线、无损、非破坏、便捷的特性，将单端探头插入粉末材料中获取到材料的反射系数即可计算出材料的复介电常数。但单端反射法进行粉末材料复介电常数测量的准确度不高，同时由于单端反射法需要将单端探头插入粉末中，因此需要将粉末材料至于一定体积的容器中并且保持一定的容量，对于制样成本较高的粉末材料，或者量稀有粉末材料很不适合。
[0005]谐振腔方法是将粉末材料放置于谐振装置的电场最强处，然后通过测量材料放置前本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种粉末材料复介电常数测试系统，包括矢量网络分析仪(1)、第一波同转换器(2)、第二波同转换器(3)、第一波导(4)、第二波导(5)、波导夹具(6)、垫片(7)，所述第一波导(4)一端与第一波同转换器(2)连接，另一端与波导夹具(6)连接，所述第二波导(5)一端与第二波同转换器(3)连接，另一端与波导夹具(6)连接，所述第一波同转换器(2)和第二波同转换器(3)分别经线缆(8)连接至矢量网络分析仪(1)的端口A和端口B，其特征在于，所述波导夹具(6)由一组不同长度的波导片构成，测试时，根据不同待测粉末材料的需要选用对应长度的波导夹具(6)；所述垫片(7)设置为两个，测试时，待测粉末材料填充于波导夹具(6)内部，两个垫片(7)分别嵌置于波导夹具(6)相背侧的两端口内，两个垫片(7)的外露端面分别与其所在侧的波导夹具(6)端面齐平，将待测粉末材料密封于波导夹具(6)内。2.根据权利要求1所述的粉末材料复介电常数测试系统，其特征在于，所述波导夹具(6)由五个长度分别为4mm、6mm、8mm、10mm、12mm的波导片构成；其中，4mm、8mm、12mm的波导片还可分别作为校准时的直通校准件、反射校准件、传输线校准件。3.根据权利要求1所述的粉末材料复介电常数测试系统，其特征在于，所述第一波导(4)、第二波导(5)、波导夹具(6)均设置为中空结构，内、外径尺寸相同，沿同轴线设置；所述第一波导(4)、第二波导(5)、波导夹具(6)的两端均设置有法兰结构，彼此之间通过法兰和螺栓形式固定连接；所述第一波导(4)和第二波导(5)的尺寸相同，所述波导夹具(6)的径向尺寸与第一波导(4)、第二波导(5)的径向尺寸相同。4.根据权利要求1所述的粉末材料复介电常数测试系统，其特征在于，所述垫片(7)采用2mm厚的Teflon、PVC或者透明的玻璃，两个所述垫片(7)均与第一波导(4)、第二波导(5)、波导夹具(6)同轴线。5.一种上述权利要求1至5任一项所述的粉末材料复介电常数测试系统的校准方法，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄辉，刘楚彤，杨贵锋，周建，
申请(专利权)人：北京芯宸科技有限公司，
类型：发明
国别省市：