基于反卷积方法的穿透散射介质量子成像系统技术方案

基于反卷积方法的穿透散射介质量子成像系统，属于光学成像领域，本发明专利技术为解决量子成像受到散射介质干扰而发生图像畸变的问题。本发明专利技术包括光束发射部、光束接收部和散射介质；光束发射部发射的光束经散射介质到达成像目标表面，再从成像目标表面反射穿透散射介质，回波光束被接收光学部接收并成像；首先，光束发射部利用空间光调制器调制产生点源光束，光束接收部获得穿透散射介质量子成像系统的点扩散函数；然后，光束发射部利用空间光调制器调制产生轨道角动量光束，光束接收部获得穿透散射介质量子成像系统的畸变图像；将点扩散函数和畸变图像一起输入到反卷积模块中解算，重建出隐藏在散射介质后面的目标图像。建出隐藏在散射介质后面的目标图像。建出隐藏在散射介质后面的目标图像。

【技术实现步骤摘要】
基于反卷积方法的穿透散射介质量子成像系统


[0001]本专利技术涉及穿透散射介质量子成像技术，属于光学成像领域。

技术介绍

[0002]穿透散射介质量子成像是现代光学的基本问题之一，对科学和
都具有重要的意义，特别是在生物组织内成像、浑浊水体探测成像、穿透大气成像等方面。在强散射条件下，通过传统的光学成像系统进行观测时会得到发生严重畸变的图像。例如透过毛玻璃或者浑浊水体来观察事物的时候只能看到一片模糊的东西；穿透云层成像探测时光束散射严重会有大量的信息缺失。在这类发生严重畸变成像场景下依靠传统的成像处理手段很难清晰地对目标物体进行成像。

技术实现思路

[0003]针对量子成像受到散射介质干扰而发生图像畸变的问题，本专利技术提供一种基于反卷积方法的穿透散射介质量子成像系统。
[0004]本专利技术所述基于反卷积方法的穿透散射介质量子成像系统，包括光束发射部、光束接收部和散射介质6；光束发射部发射的光束经散射介质6到达成像目标7表面，再从成像目标7表面反射穿透散射介质6，回波光束被接收光学部接收并成像；
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.基于反卷积方法的穿透散射介质量子成像系统，其特征在于，包括光束发射部、光束接收部和散射介质(6)；光束发射部发射的光束经散射介质(6)到达成像目标(7)表面，再从成像目标(7)表面反射穿透散射介质(6)，回波光束被接收光学部接收并成像；首先，光束发射部利用空间光调制器(4)调制产生点源光束，光束接收部获得穿透散射介质量子成像系统的点扩散函数；然后，光束发射部利用空间光调制器(4)调制产生轨道角动量光束，光束接收部获得穿透散射介质量子成像系统的畸变图像；将点扩散函数和畸变图像一起输入到反卷积模块中解算，重建出隐藏在散射介质后面的目标图像。2.根据权利要求1所述基于反卷积方法的穿透散射介质量子成像系统，其特征在于，反卷积模块采用维纳反卷积模块，嵌入光束接收部中。3.根据权利要求2所述基于反卷积方法的穿透散射介质量子成像系统，其特征在于，将点扩散函数和畸变图像一起输入到反卷积模块中解算，重建出隐藏在散射介质后面的目标图像，按下式进行解算：重建目标图像式中：F{
·
}表示傅里叶变换，F{
·
}
*
表示取共轭，F
‑1{
·
}表示傅里叶逆变换，γ为常数，取值为0.0001。4.根据权利要求3所述基于反卷积方法的穿透散射介...

【专利技术属性】
技术研发人员：张子静，李家欢，赵远，宋杰，
申请(专利权)人：哈尔滨工业大学，
类型：发明
国别省市：