一种光纤插拔检测模块及检测方法技术

本发明专利技术涉及一种光纤插拔检测模块，包括壳体，所述壳体的内部设有延伸至壳体外部的检测组件，所述壳体的外部插入有延伸至检测组件内的光纤插头；所述检测组件包括安装在壳体左侧内壁的插拔检测器，所述插拔检测器的两侧设有通电组件，所述壳体的内壁固定安装有与通电组件连接的电路板，所述电路板的一侧固定安装有延伸至壳体外部的PIN脚针，所述壳体的外部固定安装有安装机壳，所述安装机壳的固定安装有与PIN脚针连接的电表。该光纤插拔检测模块及检测方法，采用电流的方式检测插拔就可以有效避免了检测偏差的问题，电流检测的寿命问题可以得到保证，不需要考虑元器件的损伤问题，降低了系统维护成本，增加了系统可靠性及检测的精准性。精准性。精准性。

【技术实现步骤摘要】
一种光纤插拔检测模块及检测方法


[0001]本专利技术涉及光纤耦合半导体激光器
，具体为一种光纤插拔检测模块及检测方法。

技术介绍

[0002]半导体激光器具备体积小、效率高、易集成等优点，广泛用于通讯、医疗、军事等领域。但是半导体激光器在使用的时候无法避免的需要考虑光纤的插拔，由于技术限制，目前光纤耦合半导体激光器所使用的耦合镜有固定焦点，焦点平面需准确与光纤平面重合才能够保证功率以及使用安全。但考虑到用户对于光纤芯径的不同需求，需不断更换400/200/105甚至更小芯径或大芯径的光纤，这对于光纤耦合半导体激光器的使用来说提供了很大的挑战。当插芯头没有插到位时，激光功率会有所下降且会增加光纤烧毁的风险，严重可能还会影响激光器的寿命。
[0003]目前市面上大多数插拔检测功能由一个LED和一个光敏二极管相结合组成。当LED等通电发光后，光敏二极管检测到光亮头可通过万用表检测其电压，此时插入光纤插芯后，光线插芯会将光源的光线阻挡，此时光敏二极管检测的数值会发生变化，当值变化道接近0时，就能判断出插入到位。
[0004]这种方法有几个缺点，其一，当激光器密封性较差时，整个系统存在漏光的风险，当存在环境光时，光敏二极管的检测值会与实际情况存在偏差，无法做到判断插拔是否到位。其二，系统密封性做的好的情况下，由于零件存在一定偏差，大小精度都不相同，更换不同插芯头后，电表检测的电压可能也会发生变化。此插拔检测方法还有一个问题，LED与光敏二极管的寿命需要考虑，后续更换零件难度较大，故此本申请提出了一种光纤插拔检测模块及检测方法。

技术实现思路

[0005]针对现有技术的不足，本专利技术提供了一种光纤插拔检测模块及检测方法，具备可靠性高，精准性高，使用寿命长，维护成本低等优点。
[0006]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种光纤插拔检测模块，包括壳体，所述壳体的内部设有延伸至壳体外部的检测组件，所述壳体的外部插入有延伸至检测组件内的光纤插头；
[0007]所述检测组件包括安装在壳体左侧内壁的插拔检测器，所述插拔检测器的两侧设有通电组件，所述壳体的内壁固定安装有与通电组件连接的电路板，所述电路板的一侧固定安装有延伸至壳体外部的PIN脚针，所述壳体的外部固定安装有安装机壳，所述安装机壳的固定安装有与PIN脚针连接的电表。
[0008]进一步，所述光纤插头包括插头主体，插头主体的一端活动安装有光纤，插头主体的另一端固定安装有插芯，插头主体靠近插芯的一端且位于插芯的表面固定安装有缓冲环，插芯的表面固定安装有通电包层。
[0009]进一步，所述光纤与插头主体卡接，插芯为圆柱形陶瓷插头，通电包层为铜制圆环，通电包层的厚度为0.1mm。
[0010]进一步，所述壳体的左侧开设有直径与通电包层外径相等的插孔，壳体为塑胶壳。
[0011]进一步，所述插拔检测器包括安装在壳体左侧内侧壁并与壳体内壁固定连接的基座，基座靠近插孔的一端开设有插槽，基座的两侧均开设有与插槽连通的缺口。
[0012]进一步，所述通电组件包括固定安装在两侧缺口内壁上的安装环，两侧的安装环的内部均固定安装有探针，探针延伸至插拔检测器外部并在远离插拔检测器的一端固定安装有转接头，转接头的表面固定安装有与电路板固定连接的导线。
[0013]进一步，两个所述探针相对的一端与插槽的内侧壁平齐并与光纤插头相接触。
[0014]本专利技术所需要解决的另一个问题时提供一种光纤插拔检测的检测方法，包括以下步骤：
[0015]1)将需将检测的光纤插入插头主体上，随后将插芯穿过插孔并插入插槽中，此时插芯表面的通电包层刚好与探针相接触；
[0016]2)探针接触到通电包层后，即可形成一个完整的电流通路，随即将信号传递给电路板；
[0017]3)电路板接触到信号后，通过PIN脚针将信号传递出去，让电表接收，让电表随即给出相应的反应，从而完成检测。
[0018]与现有技术相比，本专利技术提供了一种光纤插拔检测模块及检测方法，具备以下有益效果：
[0019]该光纤插拔检测模块及检测方法，通过设计一款能够与光纤插头连接的插拔检测器，插拔检测器上面有用于插拔检测的插槽，在插槽两侧安置2枚探针并且在探针两端通过导线连接电路板，探针材质采用软性金属材质，可有效减少摩擦碰撞损耗，当光纤插头进入插拔检测器时，通电包层连通2条探针和电路板两头形成通路，以此完成插拔检测功能，采用电流的方式检测插拔就可以有效避免了检测偏差等一系列问题，同时电流检测的寿命问题可以得到保证，不需要考虑元器件的损伤问题。这样的方法事实提高了用户使用时的便捷性，降低了系统维护成本，增加了系统可靠性及检测的精准性，另外，可通过将插拔检测器集成入光纤耦合半导体插拔检测器中，以实现多种不同插拔检测器的插拔检测，通过简单的电路组件完成了插拔检测，降低了综合成本。
附图说明
[0020]图1为本专利技术结构示意图；
[0021]图2为本专利技术光纤插头剖视放大图；
[0022]图3为本专利技术检测组件图；
[0023]图4为本专利技术插拔检测器侧视图。
[0024]图中：1、光纤插头；11、插头主体；12、光纤；13、缓冲环；14、插芯；15、通电包层；2、壳体；21、插孔；3、插拔检测器；31、基座；32、插槽；4、通电组件；41、安装环；42、探针；43、转接头；44、导线；5、电路板；6、PIN脚针；7、安装机壳；8、电表。
具体实施方式
[0025]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0026]请参阅图1
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4，一种光纤插拔检测模块，包括壳体2，壳体2为塑胶壳，壳体2的内部设有延伸至壳体2外部的检测组件，壳体2的外部插入有延伸至检测组件内的光纤插头1。
[0027]检测组件包括安装在壳体2左侧内壁的插拔检测器3，插拔检测器3的两侧设有通电组件4，壳体2的内壁固定安装有与通电组件4连接的电路板5，电路板5的一侧固定安装有延伸至壳体2外部的PIN脚针6，壳体2的外部固定安装有安装机壳7，安装机壳7的固定安装有与PIN脚针6连接的电表8。
[0028]光纤插头1包括插头主体11，插头主体11的一端卡接有光纤12，插头主体11的另一端固定安装有插芯14，插头主体11靠近插芯14的一端且位于插芯14的表面固定安装有缓冲环13，插芯14的表面固定安装有通电包层15。
[0029]与普通插芯头不同的是，插芯14为圆柱形陶瓷插头，同时，通电包层15为铜制圆环，并且通电包层15的厚度为0.1mm，通电包层15的位置需要与插芯14的端面相隔一定距离，以达到最佳的检测效果。且此插芯14必须使用陶瓷材质，由于系统需要通过电流检测，使用金属材质本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光纤插拔检测模块，包括壳体(2)，其特征在于：所述壳体(2)的内部设有延伸至壳体(2)外部的检测组件，所述壳体(2)的外部插入有延伸至检测组件内的光纤插头(1)；所述检测组件包括安装在壳体(2)左侧内壁的插拔检测器(3)，所述插拔检测器(3)的两侧设有通电组件(4)，所述壳体(2)的内壁固定安装有与通电组件(4)连接的电路板(5)，所述电路板(5)的一侧固定安装有延伸至壳体(2)外部的PIN脚针(6)，所述壳体(2)的外部固定安装有安装机壳(7)，所述安装机壳(7)的固定安装有与PIN脚针(6)连接的电表(8)。2.根据权利要求1所述的一种光纤插拔检测模块，其特征在于：所述光纤插头(1)包括插头主体(11)，插头主体(11)的一端活动安装有光纤(12)，插头主体(11)的另一端固定安装有插芯(14)，插头主体(11)靠近插芯(14)的一端且位于插芯(14)的表面固定安装有缓冲环(13)，插芯(14)的表面固定安装有通电包层(15)。3.根据权利要求2所述的一种光纤插拔检测模块，其特征在于：所述光纤(12)与插头主体(11)卡接，插芯(14)为圆柱形陶瓷插头，通电包层(15)为铜制圆环，通电包层(15)的厚度为0.1mm。4.根据权利要求2所述的一种光纤插拔检测模块，其特征在于：所述壳体(2)的左侧开设有直径与通电包层(15)外径相等的插孔(21)，壳体(2)为塑胶壳。5.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：华俊，
申请(专利权)人：西安欧益光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：