样本分析系统、运送的控制方法、设备及介质技术方案

本申请公开了一种样本分析系统、运送的控制方法、设备及介质。该样本分析系统包括进样装置、第一样本分析仪、第二样本分析仪以及控制设备，控制设备用于控制进样装置对第一试管进行扫码；在第一样本分析仪对第一个第一试管完成采样或者抓取后，控制进给轨道回退预设值，以装载第二试管架；控制进样装置对第二试管进行扫码；在第一样本分析仪对第一试管架的第二个第一试管进行采样或者抓取的情况下，控制第二样本分析仪对第二试管架的第一个第二试管进行采样或者抓取。装载第二试管架时控制回退距离，使两台样本分析仪能同时对两排试管架上的样本进行采样或者抓取，避免进给轨道需要在两台样本分析仪间来回移动，减轻了进给轨道的损耗度。道的损耗度。道的损耗度。

【技术实现步骤摘要】
样本分析系统、运送的控制方法、设备及介质


[0001]本申请涉及医疗器械
，特别是涉及一种样本分析系统、运送的控制方法、设备及介质。

技术介绍

[0002]现有的双机样本分析系统中，轨道上通常装载两排试管架以使一台样本分析仪对应有一排试管架，为提高两台样本分析仪的利用率，轨道需要在两台样本分析仪中来回移动，以将第一个试管架上的试管及时运送至第二个样本分析仪、将第二个试管架上的试管及时运送至第二个样本分析仪。
[0003]轨道在两台样本分析仪之间不断的来回移动，使得轨道的磨损大，进而影响了轨道在装载、运送试管架时停留位置的准确度。

技术实现思路

[0004]本申请提供一种样本分析系统、样本运送的控制方法、控制设备及介质，以解决上述技术问题。
[0005]为解决上述问题，本申请第一方面提供一种样本分析系统，包括进样装置、第一样本分析仪、第二样本分析仪以及控制设备，进样装置包括用于运送试管架的进给轨道，进给轨道上设置有装载位、扫描位、第一位置和第二位置；第一样本分析仪和第二样本分析仪设置于进给轨道的同一侧，第一样本分析仪和第二样本分析仪对样本进行的检测项目相同，第一样本分析仪用于对位于第一位置的样本进行检测，第二样本分析仪用于对位于第二位置的样本进行检测，第一样本分析仪相对于第二样本分析仪远离装载位设置，第一位置相对于第二位置远离装载位设置，扫描位位于装载位和第二位置之间；控制设备分别与进样装置、第一样本分析仪、第二样本分析仪连接，其中控制设备用于：控制进样装置将第一试管架移至扫描位，以对第一试管架的第一试管进行扫码；控制进样装置将第一试管架从扫描位移至第一位置，以使第一样本分析仪对第一试管架的第一个第一试管进行采样或者抓取；当第一样本分析仪对第一试管架的第一个第一试管完成采样或者抓取后，控制进给轨道回退预设值，以在装载位装载第二试管架；控制进样装置将第二试管架移至扫描位，以对第二试管架的第二试管进行扫码；控制进样装置将第二试管架从扫描位移至第二位置，以在第一样本分析仪对第一试管架的第二个第一试管进行采样或者抓取的情况下，控制第二样本分析仪对第二试管架的第一个第二试管进行采样或者抓取。
[0006]进一步地，样本分析系统还包括复检初始位，复检初始位包括第一复检初始位和第二复检初始位，其中第一复检初始位可以是第一位置，第二复检初始位可以是第二位置或者第一复检初始位可以在第一位置和第二位置之间，第二复检初始位可以在第二位置和装载位之间。
[0007]为解决上述问题，本申请第二方面提供一种样本运送的控制方法，应用于上述的样本分析系统，控制方法包括：控制进样装置将第一试管架移至扫描位，以对第一试管架的
第一试管进行扫码；控制进样装置将第一试管架从扫描位移至第一位置，以使第一样本分析仪对第一试管架的第一个第一试管进行采样或者抓取；当第一样本分析仪对第一试管架的第一个第一试管完成采样或者抓取后，控制进给轨道回退预设值，以在装载位装载第二试管架；控制进样装置将第二试管架移至扫描位，以对第二试管架的第二试管进行扫码；控制进样装置将第二试管架从扫描位移至第二位置，以在第一样本分析仪对第一试管架的第二个第一试管进行采样或者抓取的情况下，控制第二样本分析仪对第二试管架的第一个第二试管进行采样或者抓取。
[0008]进一步地，控制进样装置将第一试管架移至扫描位，以对第一试管架的第一试管进行扫码的步骤之后，控制进样装置将第一试管架从扫描位移至第一位置的步骤之前，控制方法还包括：检测第一样本分析仪是否处于忙碌状态；响应于第一样本分析仪处于忙碌状态，则控制进样装置将第一试管架从扫描位移至第二位置，以使第二样本分析仪对第一试管架的第一个第一试管进行采样或者抓取。
[0009]进一步地，控制方法还包括：在所有的第一试管架上的第一样本和所有的第二试管架上的第二样本都完成初检后，判断在所有的第一样本和所有的第二样本中是否存在复检样本；响应于在所有的第一样本和/或所有的第二样本中存在复检样本，则控制进给轨道回退，将复检样本对应的试管架移至复检初始位；控制进给轨道前进，将与复检样本对应的试管架从复检初始位移至与复检样本对应的初检分析仪，以对复检样本进行复检。
[0010]进一步地，响应于在所有的第一样本和/或所有的第二样本中存在复检样本，则控制进给轨道回退，将复检样本对应的试管架移至复检初始位；控制进给轨道前进，将与复检样本对应的试管架从复检初始位移至与复检样本对应的初检分析仪，以对复检样本进行复检的步骤包括：响应于在所有的第一样本和所有的第二样本中存在复检样本，则控制进给轨道回退，将第一试管架移至第一复检初始位，以及将第二试管架移至第二复检初始位；控制进给轨道前进，将第一试管架从第一复检初始位移至第一样本分析仪，以及将第二试管架从第二复检初始位移至第二样本分析仪，以对复检样本进行复检。
[0011]进一步地，响应于在所有的第一样本和/或所有的第二样本中存在复检样本，则控制进给轨道回退，将复检样本对应的试管架移至复检初始位；控制进给轨道前进，将与复检样本对应的试管架从复检初始位移至与复检样本对应的初检分析仪，以对复检样本进行复检的步骤包括：响应于在所有的第一样本中存在复检样本，在所有的第二样本中不存在复检样本，则控制进给轨道回退，将第一试管架移至第一复检初始位；控制进给轨道前进，将第一试管架从第一复检初始位移至第一样本分析仪，以对复检样本进行复检。
[0012]进一步地，响应于在所有的第一样本和/或所有的第二样本中存在复检样本，则控制进给轨道回退，将复检样本对应的试管架移至复检初始位；控制进给轨道前进，将与复检样本对应的试管架从复检初始位移至与复检样本对应的初检分析仪，以对复检样本进行复检的步骤包括：响应于在所有的第一样本中不存在复检样本，在所有的第二样本中存在复检样本，则控制进给轨道回退，将第二试管架移至第二复检初始位；控制进给轨道前进，将第二试管架从第二复检初始位移至第二样本分析仪，以对复检样本进行复检。
[0013]为解决上述问题，本申请第三方面提供一种控制设备，包括存储器和处理器，存储器用于存储计算机程序，处理器用于执行计算机程序以实现上述的控制方法。
[0014]为解决上述问题，本申请第四方面提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存
储介质上存储有计算机程序，计算机程序在被处理器执行时用于实现上述的控制方法。
[0015]本申请的有益效果在于：区别于现有技术，本申请的样本运送的控制方法应用于样本分析系统，控制进样装置将第一试管架移至扫描位，以对第一试管架的第一试管进行扫码；控制进样装置将第一试管架从扫描位移至第一位置，以使第一样本分析仪对第一试管架的第一试管进行抓取，并对第一试管存储的第一样本进行初检；控制进给轨道回退至装载位，以装载第二试管架；控制进样装置将第二试管架移至扫描位，以对第二试管架的第二试管进行扫码；控制进样装置将第二试管架从扫描位移至第二采样位，以使第二样本分析仪对第二试管架的第二试管进行抓取，并对第二试管存储的第二样本进行初检。通过进给本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种样本分析系统，其特征在于，包括进样装置、第一样本分析仪、第二样本分析仪以及控制设备，所述进样装置包括用于运送试管架的进给轨道，所述进给轨道上设置有装载位、扫描位、第一位置和第二位置；所述第一样本分析仪和所述第二样本分析仪设置于所述进给轨道的同一侧，所述第一样本分析仪和所述第二样本分析仪对样本进行的检测项目相同，所述第一样本分析仪用于对位于所述第一位置的样本进行检测，所述第二样本分析仪用于对位于所述第二位置的样本进行检测，所述第一样本分析仪相对于所述第二样本分析仪远离所述装载位设置，所述第一位置相对于所述第二位置远离所述装载位设置，所述扫描位位于所述装载位和所述第二位置之间；所述控制设备分别与所述进样装置、所述第一样本分析仪、所述第二样本分析仪连接，其中所述控制设备用于：控制所述进样装置将所述第一试管架移至所述扫描位，以对所述第一试管架的第一试管进行扫码；控制所述进样装置将所述第一试管架从所述扫描位移至所述第一位置，以使所述第一样本分析仪对所述第一试管架的第一个第一试管进行采样或者抓取；当所述第一样本分析仪对所述第一试管架的第一个第一试管完成采样或者抓取后，控制所述进给轨道回退预设值，以在所述装载位装载第二试管架；控制所述进样装置将所述第二试管架移至所述扫描位，以对所述第二试管架的第二试管进行扫码；控制所述进样装置将所述第二试管架从所述扫描位移至所述第二位置，以在所述第一样本分析仪对所述第一试管架的第二个第一试管进行采样或者抓取的情况下，控制所述第二样本分析仪对所述第二试管架的第一个第二试管进行采样或者抓取。2.根据权利要求1所述的样本分析系统，其特征在于，所述样本分析系统还包括复检初始位，所述复检初始位包括第一复检初始位和第二复检初始位，其中所述第一复检初始位可以是所述第一位置，所述第二复检初始位可以是所述第二位置或者所述第一复检初始位可以在所述第一位置和所述第二位置之间，所述第二复检初始位可以在所述第二位置和所述装载位之间。3.一种样本运送的控制方法，其特征在于，应用于如权利要求1或2所述的样本分析系统，所述控制方法包括：控制所述进样装置将所述第一试管架移至所述扫描位，以对所述第一试管架的第一试管进行扫码；控制所述进样装置将所述第一试管架从所述扫描位移至所述第一位置，以使所述第一样本分析仪对所述第一试管架的第一个第一试管进行采样或者抓取；当所述第一样本分析仪对所述第一试管架的第一个第一试管完成采样或者抓取后，控制所述进给轨道回退预设值，以在所述装载位装载第二试管架；控制所述进样装置将所述第二试管架移至所述扫描位，以对所述第二试管架的第二试管进行扫码；控制所述进样装置将所述第二试管架从所述扫描位移至所述第二位置，以在所述第一样本分析仪对所述第一试管架的第二个第一试管进行采样或者抓取的情况下，控制所述第二样本分析仪对所述第二试管架的第一个第二试管进行采样或者抓取。
4.根据权利要求3所述的控制方法，其特征在于，控制所述进样装置将所述第一试管架移至所述扫描位，以对所述第一试管架的第一试管进行扫码的步骤之后，控制所述进样装置将所述第一试管架从所述扫描位移至所述第一位置的步骤之前，所述控制方法还包括：检测所述第一样本分析仪是否处于忙碌状态；响应于所述第一样本分析仪处于所述忙碌状态，则控制所述进样装置将所述第一试管架从所述第...

【专利技术属性】
技术研发人员：龙晚，
申请(专利权)人：深圳市帝迈生物技术有限公司，
类型：发明
国别省市：