【技术实现步骤摘要】
一种被测量信号叠加直流偏置信号的数据修正系统及方法
[0001]本专利技术属于模拟信号测量
，具体涉及一种被测量信号叠加直流偏置信号的数据修正系统及方法。
技术介绍
[0002]模拟信号
‑
数字信号转换芯片（ADC芯片）是一种重要的模拟信号测量芯片。ADC芯片的作用在于将输入的电压或电流等模拟信号转换为输出的数字信号。ADC芯片具有测量精度高、使用方便、便于传输数字信号、接口简单等优点，在电子技术中得到大量应用。由于数字信号本身不具有实际意义，仅表示输入信号的相对大小，任何的ADC芯片都需要一个参考模拟信号作为转换的标准。ADC芯片将输入的模拟信号值与参考模拟信号值相比较，输出的数字信号则表示了输入模拟信号相对于参考模拟信号的大小。
[0003]在实际应用环境中，ADC芯片将需要测量的电压、电流等物理量信号转换为对应数字信号，以信号电缆或印制电路板作为传输介质，传输数字信号到信号处理电路。信号处理电路中的中央处理器或现场可编程门阵列芯片（FPGA）采集数字信号，按照设定程序对数字信号进行进一步
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种被测量信号叠加直流偏置信号的数据修正系统，其特征在于，包括：基准信号产生模块，用于产生基准信号驱动各模块按时序工作；数据簇心计算模块，用于根据数据重心计算模块计算的重心，确定测量数据中正常测量数据和异常测量数据的簇心，并在确定好对应最终簇心后启动数据偏差计算与修正模块；数据
‑
簇心距离计算模块，进行多状态机调用，用于计算数据簇心计算模块中确定的簇心到各测量数据的距离；数据分类模块，用于根据数据
‑
簇心距离计算模块计算的距离将测量数据分类为正常测量数据和异常测量数据；数据重心计算模块，进行多状态机调用，用于计算正常测量数据和异常测量数据的重心，并将其反馈至数据簇心计算模块；数据偏差计算与修正模块，用于根据数据簇心计算模块的启动指令，计算正常测量数据和异常测量数据的有效值，并根据有效值确定异常测量数据的修正参数值，得到修正后的测量数据；其中，测量数据为被测量信号对应的数据值，测量数据包括正常测量数据和异常测量数据，正常测量数据对应正常被测量信号的数据值，异常测量数据对应被测量信号叠加直流偏置信号后的数据值；所述数据重心计算模块计算的重心为测量数据的算术平均值。2.根据权利要求1所述的被测量信号叠加直流偏置信号的数据修正系统，其特征在于，在所述数据簇心计算模块中，当其计算的正常测量数据的当前簇心与数据重心计算模块反馈的正常测量数据重心一致，异常测量数据的当前簇心与数据重心计算模块反馈的异常测量数据重心一致时，将正常测量数据和异常测量数据的当前簇心作为对应的最终簇心。3.一种基于权利要求1~2任一项所述的被测量信号叠加直流偏置信号的数据修正系统的数据修正方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、产生基准信号驱动数据修正过程按时序启动；S2、计算测量数据的簇心与重心，将测量数据自适应分类为正常测量数据和异常测量数据；S3、分别计算正常测量数据和异常测量数据的有效值，将其差值作为修正参数值对异常测量数据修正，得到修正后的测量数据。4.根据权利要求...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄超，李果村，胡青云，张竹，聂坤宏，郭朋飞，岳裕旭，林萍，张啟明，胡雨婷，
申请(专利权)人：成都凯天电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。