一种检测系统及方法技术方案

本发明专利技术提供一种检测系统及方法，该系统包括第一模块和第二模块：第一模块，用于向数据校验模块发送读取预设数据的请求；第二模块，用于接收预设数据和预设数据对应的校验信息；根据预设数据和预设数据对应的校验信息确定第一数据和第一校验信息；向数据校验模块发送第一数据和第一校验信息；第一模块，还用于接收数据校验模块发送的校验结果；在校验结果指示第一数据和第一校验信息匹配时，确定数据校验模块功能异常；在校验结果指示第一数据和第一校验信息不匹配时，确定数据校验模块功能正常。该检测系统用以检测数据校验模块的功能是否精确，解决了当前缺少对数据校验模块功能的检测的问题。检测的问题。检测的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种检测系统及方法


[0001]本专利技术涉及数据安全
，尤其涉及一种检测系统及方法。

技术介绍

[0002]当前，一种数据处理系统包括主设备与从设备，主设备与从设备之间会进行数据的交互。数据的读写请求是由主设备中与外界交互的模块直接与从设备的静态随机存取存储器（Static Random
‑
Access Memory，SRAM）进行交互，但是该方式对于主设备写入的数据和读取的数据均未添加校验信息，缺乏数据的安全保证。
[0003]因此，考虑到数据读写的安全性，可以在主设备中加入数据校验模块。当主设备中与外界交互的模块发送数据的写请求时，该请求会先到达数据校验模块，然后数据校验模块给所要写的数据生成相应的校验信息，并将该数据和其相应的校验信息共同写入到SRAM中。当主设备中与外界交互的模块发送数据的读请求时，SRAM同样会先将所要读取的数据及其相应的校验信息发送到数据校验模块，数据校验模块检验该读取数据及其相应的校验信息是否匹配，并将检验结果和该数据均返给主设备中与外界交互的模块。
[0004]但是，当SRAM受到破坏时，有概率导致其存储的数据或数据相应的校验信息发生反转导致数据不再安全。此时，若数据校验模块检验功能不精确，有概率无法发现读取的SRAM中的数据不匹配，数据存在错误，并直接将错误的数据发送给主设备中与外界交互的模块，致使主设备所在的系统混乱。因此，亟需对数据校验模块的功能进行检测，确定数据校验模块的检验功能是否精确。

技术实现思路

[0005]本专利技术提供一种检测系统及方法，用以检测数据校验模块的功能是否精确，解决了当前缺少对数据校验模块功能的检测的问题。
[0006]第一方面，本专利技术实施例提供一种检测系统，包括第一模块和第二模块：所述第一模块，用于向数据校验模块发送读取预设数据的请求；所述第二模块，用于接收所述预设数据和所述预设数据对应的校验信息；根据所述预设数据和所述预设数据对应的校验信息确定第一数据和第一校验信息；其中，所述第一校验信息为所述预设数据对应的校验信息，所述第一数据是根据第一转换数据转换所述预设数据生成的；或者，所述第一数据为所述预设数据，所述第一校验信息是根据第二转换数据转换所述预设数据对应的校验信息生成的；向所述数据校验模块发送所述第一数据和所述第一校验信息；所述第一模块，用于接收所述数据校验模块发送的校验结果；在所述校验结果指示第一数据和第一校验信息匹配时，确定所述数据校验模块功能异常；在所述校验结果指示所述第一数据和所述第一校验信息不匹配时，确定所述数据校验模块功能正常。
[0007]通过上述系统，在读取预设数据时，接收到数据校验模块对于该数据和其对应的校验信息的校验结果。由于该数据或该数据对应的校验信息在第二模块中进行过转换，因
此所要读取的数据与校验信息不匹配，从而在接收数据校验模块发送的校验结果时，如果数据校验模块判断数据与校验信息匹配，则确定数据校验模块的功能异常。采用上述系统可以实现对数据校验模块功能是否正常进行判断，在确定数据校验模块功能异常后，就可以对数据校验模块及时修复，可以避免将数据校验模块将错误的数据发送给主设备中与外界交互的模块，进而避免主设备所在的系统混乱。
[0008]可选地，在所述第一校验信息为所述预设数据对应的校验信息时，所述第一数据与所述预设数据为不同的数据。
[0009]通过上述系统，第一数据与预设数据为不同的数据可以确保第一数据与第一校验信息不匹配。
[0010]可选地，在所述第一数据为所述预设数据时，所述第一校验信息与所述预设数据对应的校验信息为不同的校验信息。
[0011]通过上述系统，第一校验信息与预设数据对应的校验信息为不同的校验信息可以确保第一数据与第一校验信息不匹配。
[0012]可选地，所述第一模块，还用于在所述第一数据是根据第一转换数据转换所述预设数据生成时，向所述第二模块发送所述第一转换数据，以使所述第二模块根据所述第一转换数据转换所述预设数据生成所述第一数据。
[0013]可选地，所述第一模块，还用于向所述第二模块发送第一使能信号，所述第一使能信号用于控制所述第二模块转换所述预设数据。
[0014]可选地，所述第一模块，还用于在所述第一校验信息是根据第二转换数据转换所述预设数据对应的校验信息生成时，向所述第二模块发送所述第二转换数据，以使所述第二模块根据所述第二转换数据转换所述预设数据对应的校验信息生成所述第一校验信息。
[0015]可选地，所述第一模块，还用于向所述第二模块发送第二使能信号，所述第二使能信号用于控制所述第二模块转换所述预设数据对应的校验信息。
[0016]可选地，在向所述数据校验模块发送读取预设数据的请求之前，所述第一模块，还用于向所述数据校验模块发送写入所述预设数据的请求，以使所述数据校验模块生成所述预设数据对应的校验信息，并将所述预设数据和所述预设数据对应的校验信息写入第一设备。
[0017]第二方面，本专利技术实施例提供一种检测方法，包括：向数据校验模块发送读取预设数据的请求；接收所述预设数据和所述预设数据对应的校验信息；根据所述预设数据和所述预设数据对应的校验信息确定第一数据和第一校验信息；其中，所述第一校验信息为所述预设数据对应的校验信息，所述第一数据是根据第一转换数据转换所述预设数据生成的；或者，所述第一数据为所述预设数据，所述第一校验信息是根据第二转换数据转换所述预设数据对应的校验信息生成的；向所述数据校验模块发送所述第一数据和所述第一校验信息；接收所述数据校验模块发送的校验结果；在所述校验结果指示第一数据和第一校验信息匹配时，确定所述数据校验模块功能异常；在所述校验结果指示所述第一数据和所述第一校验信息不匹配时，确定所述数据校验模块功能正常。
[0018]可选地，还包括：在向所述数据校验模块发送读取预设数据的请求之前，还向所述
数据校验模块发送写入所述预设数据的请求，以使所述数据校验模块生成所述预设数据对应的校验信息，并将所述预设数据和所述预设数据对应的校验信息写入第一设备。
[0019]另外，第二方面中任一种实现方式所带来的技术效果可参见第一方面中不同实现方式所带来的技术效果，此处不再赘述。
附图说明
[0020]图1为本专利技术中现有的主设备与从设备之间进行数据读写的示意图；图2为本专利技术实施例提供的一种检测系统的系统架构图；图3为本专利技术实施例提供的一种检测方法的流程示意图；图4为本专利技术实施例提供的一种检测方法的示意图。
具体实施方式
[0021]为了使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本专利技术作进一步地详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部份实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0022]本专利技术实施例描述的应用场景是为了更加清楚的说明本专利技术实施例的技术方案，并不构成对于本专利技术实施本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测系统，其特征在于，所述系统包括第一模块和第二模块：所述第一模块，用于向数据校验模块发送读取预设数据的请求；所述第二模块，用于接收所述预设数据和所述预设数据对应的校验信息；根据所述预设数据和所述预设数据对应的校验信息确定第一数据和第一校验信息；其中，所述第一校验信息为所述预设数据对应的校验信息，所述第一数据是根据第一转换数据转换所述预设数据生成的；或者，所述第一数据为所述预设数据，所述第一校验信息是根据第二转换数据转换所述预设数据对应的校验信息生成的；向所述数据校验模块发送所述第一数据和所述第一校验信息；所述第一模块，用于接收所述数据校验模块发送的校验结果；在所述校验结果指示第一数据和第一校验信息匹配时，确定所述数据校验模块功能异常；在所述校验结果指示所述第一数据和所述第一校验信息不匹配时，确定所述数据校验模块功能正常。2.如权利要求1所述的系统，其特征在于，在所述第一校验信息为所述预设数据对应的校验信息时，所述第一数据与所述预设数据为不同的数据。3.如权利要求1所述的系统，其特征在于，在所述第一数据为所述预设数据时，所述第一校验信息与所述预设数据对应的校验信息为不同的校验信息。4.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述第一模块，还用于在所述第一数据是根据第一转换数据转换所述预设数据生成时，向所述第二模块发送所述第一转换数据，以使所述第二模块根据所述第一转换数据转换所述预设数据生成所述第一数据。5.如权利要求4所述的系统，其特征在于，所述第一模块，还用于向所述第二模块发送第一使能信号，所述第一使能信号用于控制所述第二模块转换所述预设数据。6.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述第一模块，还用于在所述第一校验信息是根据第二转换数据转换所述预设数据对应的校验信息生成...

【专利技术属性】
技术研发人员：葛云飞，葛蕾，
申请(专利权)人：上海芯联芯智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：