一种检测超细银粉色差的方法技术

本发明专利技术公开了银粉检测技术领域的一种检测超细银粉色差的方法，包括如下步骤：将超细银粉平铺到载玻片上，通过刮板刮平，再通过载玻片对刮平的超细银粉进行压平，将装有超细银粉的载玻片放置到玻璃培养皿中进行密封，使用校准白板作为校准板，对色差检测仪和图像采集装置进行校准，将玻璃培养皿放置到色差检测仪和图像采集装置的底部分别进行检测，然后使用色差检测仪和图像采集装置分别测定待测样和参照样，形成标准样品数据，记录色差检测仪和图像采集装置的测量结果，该检测超细银粉色差的方法，结构设计合理，该方法便于操作，用时较短，同时多重特定环境检测得到的数据更加的精准，误差值更小。误差值更小。

【技术实现步骤摘要】
一种检测超细银粉色差的方法


[0001]本专利技术涉及银粉检测
，具体为一种检测超细银粉色差的方法。

技术介绍

[0002]超细银粉作为导电浆料制备的重要原料之一，其批次稳定性极大程度影响浆料成品质量，是电子工业中应用相当广泛的一种贵金属粉末，纳米银粒因其特殊的结构，使之产生小尺寸效应、量子尺寸效应、表面效应和宏观量子隧道效应，从而具有传统材料所不具备的物理、化学性质。
[0003]现有的超细银粉色差的检测通过人工手持检测仪直接对超细银粉进行检测，根据检测的数据判定产品的合格，这种方法要么操作繁琐、时间长，并且检测的数据过于笼统，误差值较大，没有在特定的环境下检测，导致检测的数据不够精准，为此我们提出了一种检测超细银粉色差的方法。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种检测超细银粉色差的方法，以解决上述
技术介绍
中提出了现有的超细银粉色差的检测通过人工手持检测仪直接对超细银粉进行检测，根据检测的数据判定产品的合格，这种方法要么操作繁琐、时间长，并且检测的数据过于笼统，误差值较大的问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种检测超细银粉色差的方法，包括如下步骤：
[0006]将超细银粉平铺到载玻片上，通过刮板刮平，再通过载玻片对刮平的超细银粉进行压平；
[0007]将装有超细银粉的载玻片放置到玻璃培养皿中进行密封；
[0008]使用校准白板作为校准板，对色差检测仪和图像采集装置进行校准，将玻璃培养皿放置到色差检测仪和图像采集装置的底部分别进行检测；
[0009]然后使用色差检测仪和图像采集装置分别测定待测样和参照样，形成标准样品数据，记录色差检测仪和图像采集装置的测量结果。
[0010]优选的，步骤一所述的超细银粉以1mm平铺到载玻片之间。
[0011]优选的，步骤二所述的玻璃培养皿采用超白玻璃支撑。
[0012]优选的，步骤三所述的将玻璃培养皿放置到色差检测仪和图像采集装置分别进行检测，检测高度为10cm～15mm。
[0013]优选的，步骤三所述的图像采集装置检测时在遮光箱体内部进行检测，同时提供恒定光源，控制光源亮度与光源色温保持一致，恒定光源为LED灯。
[0014]优选的，图像采集装置为CD或CMOS工业相机。
[0015]优选的，步骤四所述的样品数据和参照样进行比对需要处于同一光线、湿度、温度环境下。
[0016]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：本专利技术提供的检测超细银粉色差的方法，在对不同厚度的超细银粉进行检测，同时通过图像对超细银粉进行定位检测，同时在特定一致的环境下进行检测和对比，该方法便于操作，用时较短，同时多重特定环境检测得到的数据更加的精准，误差值更小。
具体实施方式
[0017]下面将结合本专利技术实施例中，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0018]实施例一：
[0019]本专利技术提供一种技术方案：一种检测超细银粉色差的方法，包括如下步骤：
[0020]将超细银粉平铺到载玻片上，通过刮板刮平，再通过载玻片对刮平的超细银粉进行压平；
[0021]将装有超细银粉的载玻片放置到玻璃培养皿中进行密封；
[0022]使用校准白板作为校准板，对色差检测仪和图像采集装置进行校准，将玻璃培养皿放置到色差检测仪和图像采集装置的底部分别进行检测；
[0023]然后使用色差检测仪和图像采集装置分别测定待测样和参照样，形成标准样品数据，记录色差检测仪和图像采集装置的测量结果。
[0024]步骤一所述的超细银粉以1mm平铺到载玻片之间。
[0025]步骤二所述的玻璃培养皿采用超白玻璃支撑。
[0026]步骤三所述的将玻璃培养皿放置到色差检测仪和图像采集装置分别进行检测，检测高度为10cm。
[0027]步骤三所述的图像采集装置检测时在遮光箱体内部进行检测，同时提供恒定光源，控制光源亮度与光源色温保持一致，恒定光源为LED灯。
[0028]图像采集装置为CD或CMOS工业相机。
[0029]步骤四所述的样品数据和参照样进行比对需要处于同一光线、湿度、温度环境下。
[0030]实施例二：
[0031]本专利技术提供一种技术方案：一种检测超细银粉色差的方法，包括如下步骤：
[0032]将超细银粉平铺到载玻片上，通过刮板刮平，再通过载玻片对刮平的超细银粉进行压平；
[0033]将装有超细银粉的载玻片放置到玻璃培养皿中进行密封；
[0034]使用校准白板作为校准板，对色差检测仪和图像采集装置进行校准，将玻璃培养皿放置到色差检测仪和图像采集装置的底部分别进行检测；
[0035]然后使用色差检测仪和图像采集装置分别测定待测样和参照样，形成标准样品数据，记录色差检测仪和图像采集装置的测量结果。
[0036]步骤一所述的超细银粉以2mm平铺到载玻片之间。
[0037]步骤二所述的玻璃培养皿采用超白玻璃支撑。
[0038]步骤三所述的将玻璃培养皿放置到色差检测仪和图像采集装置分别进行检测，检
测高度为11mm。
[0039]步骤三所述的图像采集装置检测时在遮光箱体内部进行检测，同时提供恒定光源，控制光源亮度与光源色温保持一致，恒定光源为LED灯。
[0040]图像采集装置为CD或CMOS工业相机。
[0041]步骤四所述的样品数据和参照样进行比对需要处于同一光线、湿度、温度环境下。
[0042]实施例三：
[0043]本专利技术提供一种技术方案：一种检测超细银粉色差的方法，包括如下步骤：
[0044]将超细银粉平铺到载玻片上，通过刮板刮平，再通过载玻片对刮平的超细银粉进行压平；
[0045]将装有超细银粉的载玻片放置到玻璃培养皿中进行密封；
[0046]使用校准白板作为校准板，对色差检测仪和图像采集装置进行校准，将玻璃培养皿放置到色差检测仪和图像采集装置的底部分别进行检测；
[0047]然后使用色差检测仪和图像采集装置分别测定待测样和参照样，形成标准样品数据，记录色差检测仪和图像采集装置的测量结果。
[0048]步骤一所述的超细银粉以3mm平铺到载玻片之间。
[0049]步骤二所述的玻璃培养皿采用超白玻璃支撑。
[0050]步骤三所述的将玻璃培养皿放置到色差检测仪和图像采集装置分别进行检测，检测高度为12mm。
[0051]步骤三所述的图像采集装置检测时在遮光箱体内部进行检测，同时提供恒定光源，控制光源亮度与光源色温保持一致，恒定光源为LED灯。
[0052]图像采集装置为CD或CMOS工业相机。
[0053]步骤四所述的样品数据本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测超细银粉色差的方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤一：将超细银粉平铺到载玻片上，通过刮板刮平，再通过载玻片对刮平的超细银粉进行压平；步骤二：将装有超细银粉的载玻片放置到玻璃培养皿中进行密封；步骤三：使用校准白板作为校准板，对色差检测仪和图像采集装置进行校准，将玻璃培养皿放置到色差检测仪和图像采集装置的底部分别进行检测；步骤四：然后使用色差检测仪和图像采集装置分别测定待测样和参照样，形成标准样品数据，记录色差检测仪和图像采集装置的测量结果。2.根据权利要求1所述的一种检测超细银粉色差的方法，其特征在于：步骤一所述的超细银粉以1mm～5mm平铺到载玻片之间。3.根据权利要求1所述的一种检测超细银粉色差的方法，其特征在于：...

【专利技术属性】
技术研发人员：王凭慧，韩勇，刘光煊，钱昆，
申请(专利权)人：南科创园新材料科技深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：