一种电路板表面零件视觉检测方法和设备及系统技术方案

本申请公开了一种电路板表面零件视觉检测方法和设备及系统，确定控制电机带动多个相机同时运动的起点和终点；控制电机运动从起点横坐标横向运动至终点横坐标的横向遍历，在遍历过程中确定多个相机FOV内IC分布均满足拍摄完整IC条件时，记录第一电机位置；横向遍历结束后，返回起点横坐标，在终点纵坐标范围内，触发控制电机向终点纵向移动一次，确定多个相机FOV内IC分布均满足拍摄完整IC条件的第二电机位置；纵向移动结束后再触发一次横向遍历；运动结束后控制电机依次运动到记录的各电机位置时触发拍摄。本申请可以根据各相机拍摄的图像进行独立IC检测，不需要进行图像分割和拼接，误检概率降低且缩短了检测时间。误检概率降低且缩短了检测时间。误检概率降低且缩短了检测时间。

【技术实现步骤摘要】
一种电路板表面零件视觉检测方法和设备及系统


[0001]本专利技术涉及视觉检测
，特别涉及一种电路板表面零件视觉检测方法和设备及系统。

技术介绍

[0002]与传统LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示器)技术相比，经由技术迭代而来的MiniLED在画面效果上的进步是显而易见的，更高密度的发光器件使得MiniLED面板拥有了更加接近像素化的背光效果，画面亮度和对比度也有了明显提升。相比OLED(Organic Light
‑
Emitting Diode，有机发光二极管)，MiniLED优势在于能够以更低的成本实现可比拟OLED面板的显示效果、轻薄体验，而且由于MiniLED是无机的产品，所以寿命更长、功耗更低。
[0003]在MiniLED背光面板生产过程中，组件容易发生损坏、异物、偏斜等情况，所以在MiniLED的外观检测方面就引入了传统表面组装技术的外观检测方法，该方法是通过以检测区域均匀切割+固定重叠区的方式进行路径规划。在采集完成图像后，利用重叠区域进行图像拼接，最后在对拼合完成后本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电路板表面零件视觉检测方法，其特征在于，包括：控制电机带动多个相机同时运动，确定使各相机均遍历对应视域时电机位置的起点和终点，所述多个相机位于基台上方并纵向间隔排布，所述电机运动与所述多个相机的运动方向一致，所述基台上放置包括多个IC的电路板；控制电机运动至起点并记录第一电机位置，触发一次控制所述电机横向运动至终点横坐标的横向遍历，在所述横向遍历过程中确定所述多个相机FOV内IC分布均满足拍摄完整IC条件时，记录第一电机位置；每次所述横向遍历结束后，控制所述电机横向返回起点横坐标，在终点纵坐标范围内，触发控制所述电机向终点纵向移动一次，确定所述多个相机FOV内IC分布均满足拍摄完整IC条件时，记录第二电机位置，否则纵向调整电机查找所述多个相机FOV内IC分布均满足拍摄完整IC条件的第二电机位置并记录；每次纵向移动结束后记录第一电机位置，再触发一次控制所述电机横向运动至终点横坐标的所述横向遍历，在所述横向遍历过程中确定所述多个相机FOV内IC分布均满足拍摄完整IC条件时，记录第一电机位置；控制所述电机运动到终点时，获取记录的所述第一电机位置、所述第二电机位置，控制所述电机逐个运动到对应所述第一电机位置、所述第二电机位置时触发拍摄，以根据拍摄的图像内IC的信息进行电路板检测。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定使各相机均遍历对应视域时电机位置的起点和终点，包括：根据所述多个相机的视域，确定控制所述多个相机运动时使其中任一相机遍历对应视域时电机位置的起点横坐标、起点纵坐标、终点横坐标、终点纵坐标；确定最小的起点横坐标和最小的起点纵坐标为电机位置的起点，确定最大的终点横坐标和最大的终点纵坐标为电机位置的终点。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电路板中所有IC的最大外接矩形的中心与基台中心对齐，该方法还包括：以基台的左上角为原点，对电路板采样得到绘制图像的像素点，各所述像素点的图像坐标，根据采样点在所述基台上的坐标除以单位像素映射的物理长度取整得到，位于IC的外接矩形上像素点的灰度值，为将对应采样点在所述基台上的坐标除以所述单位像素映射的物理长度取整后的余数得到，其余像素点的灰度值为零；其中，控制所述电机每运动到一个电机位置，根据所述电机位置与各相机FOV的关系，确定所述各相机FOV对应的绘制图像的对准区域，确定所述对准区域内IC分布是否满足拍摄完整IC条件。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，触发一次控制所述电机横向运动至终点横坐标的所述横向遍历，在所述横向遍历过程中确定所述多个相机FOV内IC分布均满足拍摄完整IC条件，包括：控制所述电机从起点横坐标开始，以对准区域移动多个相机中最小FOV宽度为第一移动单位逐步横向移动至终点横坐标；每横向以第一移动单位移动一次，判断各相机FOV对应的绘制图像的对准区域左边线像素点的灰度值的均值是否均为零；
若是，以对准区域移动一个像素为第二移动单位向终点横向移动，至任一相机FOV的对准区域的左边线像素点灰度值的均值为非零时，确定所述多个相机FOV内IC分布均满足拍摄完整IC条件，并触发下一次以所述第一移动单位移动；否则，以对准区域移动一个像素为第二移动单位向起点横向移动，并保留所述各相机FOV左边线对应的各像素点的最小灰度值，至所述各相机FOV左边线的所有像素点的最小灰度值均为零时，确定所述多个相机FOV内IC分布均满足拍摄完整IC条件，并触发下一次以所述第一移动单位移动。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，控制所述电机向终点纵向移动一次，确定所述多个相机FOV内IC分布均满足拍摄完整IC条件时，记录第二电机位置，否则纵向调整电机查找所述多个相机FOV内IC分布均满足拍摄完整IC条件时的第二电机位置并记录，包括：以对准区域移动所述多个相机中最小FOV高度为第三移动单位，控制所述电机向终点纵向移动一次；判断各相机FOV对应的绘制图像的对准区域上边线像素点灰度值的均值是否均为零；若是，以对准区域移动一个像素为第二移动单位向终点纵向移动，至任一相机FOV的对准区域上边线像素点的灰度值的均值为非零时，确定满足拍摄完整IC条件，记录第二电机位置；否则，以对准区域移动一个像素为第二移动单位向起点纵向移动，并保留各FOV上边线对应的各像素点的最小灰度值，至所述各FOV左边线的所有像素点的最小灰度值均为零时，确定多个相机FOV内IC分布均满足拍摄完整IC条件，记录第二电机位置。6.根据权利要求4或5所述的方法，其特征在于，位于IC的外接矩形上像素点的灰度值，为将对应采样点在所述基台上的坐标除以所述单位像素映射的物理长度取整后的余数得到，包括：对于IC的外接矩形的横边线上像素点的灰度值，为将对应采样点在所述基台上的纵坐标除以所述单位像素映射的物理长度取整后的余数得到；对于IC的外接矩形的纵边线上像素点的灰度值，为将对应采样点在所述基台上的横坐标除以所述单位像素映射的物理长度取整后的余数得到。7.根据权利要求6所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：王嘉伟，
申请(专利权)人：合肥欣奕华智能机器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：