一种通用测试系统及测试方法技术方案

本发明专利技术提供一种通用测试系统，包括通用测试单元、寄存器配置文件、专用配置文件和接口模块单元，接口模块单元与待测试产品和配套工具连接；通用测试单元一端与专用配置文件连接，另一端与接口模块单元连接；寄存器配置文件是待测试产品存储空间的映射；专用配置文件内包括不同产品测试项及测试流程，通用测试单元按照测试流程将测试项的指令调用其中的信息，通过接口模块单元发送给待测产品；待测产品根据获取的指令将寄存器中的信息通过接口模块单元发送给通用测试单元，通用测试单元将获得待测试产品存储器中的信息通过与寄存器配置文件对比，获得对应的信息。本发明专利技术使得在更换待测产品时，能节约大量修改程序的时间。能节约大量修改程序的时间。能节约大量修改程序的时间。

【技术实现步骤摘要】
一种通用测试系统及测试方法


[0001]本专利技术属于产品测试
，具体涉及一种通用测试系统及测试方法。

技术介绍

[0002]物联网传感器终端产品主要特点：1)功能复杂，集成存储、时钟、多种传感器、通信等功能。2)应用场景多样，定制程度高。3)更新迭代快，同型号、同系列产品每半年或每一年更新一次，多为功能上的增加与优化。
[0003]一般的，产品升级或定制，主要分为对外接口扩展和内部功能增改。相应的软件人员和硬件人员需要根据需求，对测试软件和测试工装进行修改和调试，满足新产品的测试需求，由此造成费用高，时间长的缺点。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于克服现有技术中的不足，提供一种通用测试系统及测试方法。本专利技术方案能够解决上述现有技术中存在的问题。
[0005]本专利技术的技术解决方案：
[0006]一种通用测试系统，包括通用测试单元、寄存器配置文件、专用配置文件和接口模块单元，
[0007]所述的接口模块单元与待测试产品和配套工具连接，将进行待测试产品和配套工具的非串口接口本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种通用测试系统，其特征在于，包括通用测试单元、寄存器配置文件、专用配置文件和接口模块单元，所述的接口模块单元与待测试产品和配套工具连接，将进行待测试产品和配套工具的非串口接口转换为串口接口，进行数据传输；所述的通用测试单元一端与所述的专用配置文件连接，获取专用配置文件的数据进行传输，另一端与所述的接口模块单元连接，与接口模块单元进行数据传输；所述的寄存器配置文件是待测试产品存储空间的映射，定义相应待测试产品寄存器内存储内容的含义；所述的专用配置文件内包括不同产品测试项及测试流程，所述通用测试单元按照测试流程将测试项的指令调用其中的信息，通过所述的接口模块单元发送给待测产品；所述待测产品根据获取的指令将寄存器中的信息通过所述的接口模块单元发送给通用测试单元，所述通用测试单元将获得待测试产品存储器中的信息通过与寄存器配置文件对比，获得对应的信息。2.根据权利要求1所述的一种通用测试系统，其特征在于，所述的通用测试单元还包括显示模块和输入模块，所述的显示模块生成测试界面...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙贵鑫，张家勇，刘尊言，夏顺盈，董建勋，
申请(专利权)人：航天科工惯性技术有限公司，
类型：发明
国别省市：