【技术实现步骤摘要】
银纳米线触控电极单元及其制备方法和应用
[0001]本专利技术涉及触控电极制备
,特别是涉及一种银纳米线触控电极单元及其制备方法和应用。
技术介绍
[0002]氧化铟锡(ITO)和银纳米线都是触控领域常用的传感电极材料。但由于铟(In)源稀缺、具有毒性,并且ITO触控电极的光电性能较低、具有易脆特性、制备工艺复杂成本高,严重限制了ITO触控电极的发展。与传统物理气相沉积(PVD)工艺制备ITO触控电极相比,银纳米线触控电极通过简单的湿法工艺即可制备得到,制备工艺简单且成本较低,使银纳米线触控电极具有更大的应用潜能。
[0003]但是,由于传统涂布工艺存在精度较低等问题,无法实现银纳米线触控电极的一步成型,需要全板涂布后利用干法或湿法刻蚀出阵列电极,这不仅消耗了大量银纳米线原料,增加了生产成本,而且降低了银纳米线触控电极相对于ITO触控电极的湿法工艺制备优势。
技术实现思路
[0004]基于此,有必要针对上述问题,提供一种银纳米线触控电极单元及其制备方法和应用;所述制备方法不仅具有较高的制备精度, ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种银纳米线触控电极单元的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:在透明基底表面制备第一保护胶层;在所述第一保护胶层背离所述透明基底的表面制备第一疏水涂层,将所述第一疏水涂层进行刻蚀,得到阵列排布的第一凹槽,且第一凹槽的深度与第一疏水涂层厚度相等;在阵列排布的所述第一凹槽中填充前驱体混合物,经紫外光照射后去除前驱体混合物中的极性溶剂,得到阵列排布的第一电极,其中,所述前驱体混合物包括银纳米晶种、银源和极性溶剂;剥离刻蚀后的所述第一疏水涂层,并在阵列排布的所述第一电极表面制备第二保护胶层;在所述第二保护胶层背离所述第一电极的表面制备第二疏水涂层,将所述第二疏水涂层进行刻蚀,得到阵列排布的第二凹槽,所述第二凹槽的深度与第二疏水涂层厚度相等,且任一所述第二凹槽与任一所述第一电极相互垂直;重复所述第一电极的制备步骤,得到阵列排布的第二电极,所述第二电极与刻蚀后的所述第二疏水涂层构成复合层,并在所述复合层表面制备第三疏水涂层,得到银纳米线触控电极单元。2.根据权利要求1所述的银纳米线触控电极单元的制备方法,其特征在于,所述第一疏水涂层选自氟化二氧化硅层,所述第一疏水涂层的厚度为500nm
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1000nm;及/或,所述第二疏水涂层选自氟化二氧化硅层,所述第二疏水涂层的厚度为500nm
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1000nm;及/或,所述第三疏水涂层选自氟化二氧化硅层,所述第三疏水涂层的厚度为200nm
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400nm。3.根据权利要求1所述的银纳米线触控电极单元的制备方法,其特征在于,所述第一凹槽的宽度为1μm
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【专利技术属性】
技术研发人员:郑博达,陈洁,马登元,姜国康,汪聪,曾西,邓志吉,刘明,
申请(专利权)人:浙江大华技术股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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