一种复合绝缘子芯棒老化评价方法、装置及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种复合绝缘子芯棒老化评价方法、装置及存储介质，其中方法包括：建立复合绝缘子芯棒老化程度BP神经网络模型；建立太赫兹时域光谱特征数据库，训练神经网络模型；获取待测绝缘子芯棒的太赫兹时域光谱特征，输入BP神经网络模型，以分析待测绝缘子芯棒的老化程度。本发明专利技术所采用的太赫兹光谱技术能够有效表征材料的老化特性，在此基础上综合考虑多种太赫兹时域光谱特征参数对老化程度进行量化，通过建立不同老化程度的复合绝缘子芯棒对应的特征库，结合计算机智能优化算法，实现对复合绝缘子芯棒老化程度的灵敏表征和准确评价。本发明专利技术可广泛应用于高电压复合绝缘子领域。域。域。

【技术实现步骤摘要】
一种复合绝缘子芯棒老化评价方法、装置及存储介质


[0001]本专利技术涉及高电压复合绝缘子领域，尤其涉及一种复合绝缘子芯棒老化评价方法、装置及存储介质。

技术介绍

[0002]复合绝缘子由聚合物伞裙护套、玻璃纤维增强树脂芯棒和金具三部分组成，因其优良的耐污闪性在电力系统中得到广泛运用。然而随着复合绝缘子大量使用，运行中逐渐暴露出一些问题。复合绝缘子的硅橡胶伞套及玻璃钢芯棒材料由有机材料制成，其分子间作用力比瓷和玻璃等无机材料弱，在电晕放电、紫外线辐射、潮气、温度变化以及污秽等因素的作用下会发生老化。近年复合绝缘子芯棒老化引起的异常温升现象频发，是复合绝缘子应用面临的主要故障类型，异常发热会导致复合绝缘子加速老化，长时间运行甚至会出现断裂，严重威胁电网安全稳定运行。因此，对复合绝缘子芯棒进行老化评价具有十分重要的意义。
[0003]工程上主要通过测试复合绝缘子芯棒理化特性以及观察材料微观形貌来判断其老化程度，具体方法包括SEM(扫描电子显微镜)、FTIR(傅立叶变换红外吸收光谱)、TGA(热重分析)等。这些检测技术由于对样品要求较高及材料本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种复合绝缘子芯棒老化评价方法，其特征在于，包括以下步骤：构建用于检测复合绝缘子芯棒老化程度的BP神经网络模型；构建太赫兹时域光谱特征数据库，根据数据库训练BP神经网络模型；获取待测复合绝缘子芯棒的太赫兹时域光谱特征，将获得的太赫兹时域光谱特征输入训练后的BP神经网络模型，获得待测复合绝缘子芯棒的老化程度结果；其中，所述构建太赫兹时域光谱特征数据库，包括：获取复合绝缘子玻璃钢芯棒的圆形薄片作为试样；对试样进行不同程度的老化，获取对应的太赫兹时域光谱图；根据所述复合绝缘子芯棒的太赫兹时域光谱图，获取太赫兹时域光谱特征；将获得的太赫兹时域光谱特征进行归一化处理；将归一化后的太赫兹时域光谱特征及其对应老化程度存入数据库。2.根据权利要求1所述的一种复合绝缘子芯棒老化评价方法，其特征在于，所述BP神经网络模型包括输入层、隐含层和输出层；其中，输入层的输入数据为复合绝缘子芯棒的太赫兹时域光谱特征，输出层的输出结果为复合绝缘子芯棒的老化程度；通过调整输入层与隐含层的权值w
ij
以及隐含层与输出层的权值t
jk
，以降低模型的计算误差，提高模型的检测精度。3.根据权利要求2所述的一种复合绝缘子芯棒老化评价方法，其特征在于，输出层神经元的输出为复合绝缘子芯棒的老化程度o
k
，对于q个样本的误差e
q
计算公式为：其中，y
k
为输出层神经元k的期望输出，o
k
为输出层神经元k的BP神经网络预测输出；设x1，x2，
…
x
m
为输入层神经元的输入，ω
ij
为输入层神经元i与隐含层神经元j的连接权，θ
j
为第j个隐含层神经元的阈值，对于隐含层节点j：其中，x
i
为输入的太赫兹时域光谱特征，v
j
为隐含层神经元j的节点输出，F为Sigmoid型函数；BP神经网络的输出为：o
k
＝F(v
j
t
jk
)(j＝1,2,
……
n)(k＝1,2,
……
l)其中，F为Sigmoid型函数，t
jk
为隐含层神经元j与输出层神经元k的连接权，j表示隐含层神经元序列，k表示输出层神经元输出序列。4.根据权利要求2或3所述的一种复合绝缘子芯棒老化评价方法，其特征在于，采用以下方式调整输入层与隐含层的权值ω
ij
以及隐含层与输出层...

【专利技术属性】
技术研发人员：李煜，谢从珍，苟彬，徐华松，杨畅，
申请(专利权)人：华南理工大学，
类型：发明
国别省市：