本发明专利技术实施方式公开了一种测试方法，应用于自动测试设备，该测试方法包括：配置夹具的ID以及相应测试项目，使得通过读取夹具的ID，以加载与ID相应的测试项目配置；根据参考样品的各个测试项目的相应测试数据，计算获得相应的第一判断值和第二判断值；将第一判断值和第二判断值分别设置为自动测试设备的相应测试项目的下限阈值和上限阈值；使自动测试设备根据测试项目配置对待测试产品进行测试，以获得相应测试数据。通过上述方式，本发明专利技术实施方式能够自动配置测试范围、自动加载测试项目，进而提高自动测试设备的测试效率。并且还能对不良品进行自动测试分类，在提高了测试效率的同时避免了人工测试结果出错的情况。时避免了人工测试结果出错的情况。时避免了人工测试结果出错的情况。
【技术实现步骤摘要】
一种测试方法、装置及其电子设备
[0001]本专利技术实施方式涉及自动测试领域，特别是涉及一种测试方法、装置及其电子设备。
技术介绍
[0002]自动测试设备是一种自动化系统，目的是用于电气、热力和物理测试，无需人工直接干扰。通常来说，自动测试设备系统用于加速测试、执行重复任务或增强测试系统的重复性和一致性。设计自动测试设备系统的目的是用于完成上述所有任务。因为如果所有测试都用手动执行的话，那么设备的性能、质量、功能甚至环境变量压力测试的成本都可能会显著增加最终部件的成本。
[0003]然而在应用自动测试设备不同型号模块的情况下，需要配置不同的输入电压、输入电流、输出电压、输出电流及测试项目，测试软件也需要修改。在这种情况下，测试项目繁多，手动配置测试范围繁琐且不客观。此外目前测试系统测试完后，需要工程师手动对不良品重新测试分类，统计之后才会反馈给工厂改进，效率低，容易出错。
技术实现思路
[0004]为解决上述技术问题，本专利技术实施方式采用的一个技术方案是：提供一种测试方法，应用于自动测试设备，所述测试方法包括：配置夹具的ID以及相应测试项目，使得通过读取夹具的ID，以加载与所述ID相应的测试项目配置；根据参考样品的各个测试项目的相应测试数据，计算获得相应的第一判断值和第二判断值；将所述第一判断值和所述第二判断值分别设置为所述自动测试设备的相应测试项目的下限阈值和上限阈值；使所述自动测试设备根据所述测试项目配置对待测试产品进行测试，以获得相应测试数据。
[0005]在一些实施例中，所述测试方法还包括：根据所述相应测试数据判断不良品，统计不良品中相应测试项目的项目不良品的数量以及占比，获得统计数据；根据所述统计数据，通过机器学习生成故障分析模型；将不良品的测试数据输入所述故障分析模型，以判断所述不良品的故障原因和严重程度，并给出相应的维修建议。
[0006]在一些实施例中，所述测试方法还包括：在进行产品比对测试时，根据设定的测试项目依次对各个产品进行测试，获得测试结果；根据所述测试结果生成产品对比报告。
[0007]在一些实施例中，所述根据参考样品的各个测试项目的相应测试数据，计算获得相应的第一判断值和第二判断值，包括：录入所述参考样品的各个测试项目的相应测试数据；分别计算相应测试数据的第一中心值和标准差；将所述第一中心值减去3倍标准差获得第一筛选值；将所述第一中心值加上3倍标准差获得第二筛选值；剔除所述测试数据中小于所述第一筛选值的数据和大于所述第二筛选值的数据；计算剩余测试数据的第二中心值、最小值和最大值；根据下式计算第一绝对值：
[0008]X1＝XM
‑
(Xmin
‑
σ)，
[0009]其中，X1为所述第一绝对值，XM为所述第二中心值，Xmin为所述最小值，σ为所述标
准差；根据下式计算第二绝对值：
[0010]X2＝(Xmax+σ)
‑
XM，
[0011]其中，X2为所述第二绝对值，Xmax为所述最大值；计算所述第一绝对值和所述第二绝对值中的最大值，获得误差值；将所述第二中心值减去所述误差值，获得所述第一判断值；将所述第二中心值加上所述误差值，获得所述第二判断值。
[0012]在一些实施例中，所述将所述第一判断值和所述第二判断值分别设置为所述自动测试设备的相应测试项目的下限阈值和上限阈值包括：将所述第一判断值设置为所述自动测试设备的相应测试项目的下限阈值，若所述待测试产品的相应测试数据小于所述第一判断值，则确定所述待测试产品为不良品；将所述第二判断值设置为所述自动测试设备的相应测试项目的上限阈值，若所述待测试产品的相应测试数据大于所述第二判断值，则确定所述待测试产品为不良品。
[0013]在一些实施例中，所述测试项目包括输入电压、输出电压、输入电流、输出电流、输入功率、输出功率、功率损耗和功率效率。
[0014]在一些实施例中，所述不良品的故障原因包括没有输出电压、功率损耗大于预设损耗阈值、输入电流超出预设电流阈值、输出电压低于预设电压阈值，以及输出电流不稳定。
[0015]为解决上述技术问题，本专利技术实施方式采用的另一个技术方案是：提供一种测试装置，应用于自动测试设备，所述测试装置包括：加载模块，用于配置夹具的ID以及相应测试项目，使得通过读取夹具的ID，以加载与所述ID相应的测试项目配置；计算模块，用于根据参考样品的各个测试项目的相应测试数据，计算获得相应的第一判断值和第二判断值；设置模块，用于将所述第一判断值和所述第二判断值分别设置为所述自动测试设备的相应测试项目的下限阈值和上限阈值；第一测试模块，用于使所述自动测试设备根据所述测试项目配置对待测试产品进行测试，以获得相应测试数据；统计模块，用于根据所述相应测试数据判断不良品，统计不良品中相应测试项目的项目不良品的数量以及占比，获得统计数据；模型生成模块，用于根据所述统计数据，通过机器学习生成故障分析模型；判断模块，用于将不良品的测试数据输入所述故障分析模型，以判断所述不良品的故障原因和严重程度，并给出相应的维修建议；第二测试模块，用于在进行产品比对测试时，根据设定的测试项目依次对各个产品进行测试，获得测试结果；报告生成模块，用于根据所述测试结果生成产品对比报告。
[0016]为解决上述技术问题，本专利技术实施方式采用的另一个技术方案是：提供一种电子设备，包括：至少一个处理器；以及，与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行如上所述的一种测试方法。
[0017]为解决上述技术问题，本专利技术实施方式采用的另一个技术方案是：提供一种非易失性计算机存储介质，所述计算机存储介质存储有计算机可执行指令，该计算机可执行指令被一个或多个处理器执行，可使得所述一个或多个处理器执行如上所述的一种测试方法。
[0018]本专利技术实施方式的有益效果是：区别于现有技术的情况，本专利技术实施方式能够自动配置测试范围、自动加载测试项目，进而提高自动测试设备的测试效率。并且还能对不良
品进行自动测试分类，在提高了测试效率的同时避免了人工测试结果出错的情况。
附图说明
[0019]图1是本专利技术实施方式提供的一种测试方法的流程示意图；
[0020]图2是本专利技术实施方式提供的根据参考样品的各个测试项目的相应测试数据，计算获得相应的第一判断值和第二判断值的流程示意图；
[0021]图3是本专利技术实施方式提供的将第一判断值和第二判断值分别设置为自动测试设备的相应测试项目的下限阈值和上限阈值的流程示意图；
[0022]图4是本专利技术实施方式提供的一种测试装置的结构示意图；
[0023]图5是本专利技术实施方式提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0024]自动测试设备(automatic test equipment，ATE)是一种自动化系统，目的是用于电气、热本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种测试方法，应用于自动测试设备，其特征在于，包括：配置夹具的ID以及相应测试项目，使得通过读取夹具的ID，以加载与所述ID相应的测试项目配置；根据参考样品的各个测试项目的相应测试数据，计算获得相应的第一判断值和第二判断值；将所述第一判断值和所述第二判断值分别设置为所述自动测试设备的相应测试项目的下限阈值和上限阈值；使所述自动测试设备根据所述测试项目配置对待测试产品进行测试，以获得相应测试数据。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：根据所述相应测试数据判断不良品，统计不良品中相应测试项目的项目不良品的数量以及占比，获得统计数据；根据所述统计数据，通过机器学习生成故障分析模型；将不良品的测试数据输入所述故障分析模型，以判断所述不良品的故障原因和严重程度，并给出相应的维修建议。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：在进行产品比对测试时，根据设定的测试项目依次对各个产品进行测试，获得测试结果；根据所述测试结果生成产品对比报告。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据参考样品的各个测试项目的相应测试数据，计算获得相应的第一判断值和第二判断值，包括：录入所述参考样品的各个测试项目的相应测试数据；分别计算相应测试数据的第一中心值和标准差；将所述第一中心值减去3倍标准差获得第一筛选值；将所述第一中心值加上3倍标准差获得第二筛选值；剔除所述测试数据中小于所述第一筛选值的数据和大于所述第二筛选值的数据；计算剩余测试数据的第二中心值、最小值和最大值；根据下式计算第一绝对值：X1＝|XM
‑
(Xmin
‑
σ)|，其中，X1为所述第一绝对值，XM为所述第二中心值，Xmin为所述最小值，σ为所述标准差；根据下式计算第二绝对值：X2＝|(Xmax+σ)
‑
XM|，其中，X2为所述第二绝对值，Xmax为所述最大值；计算所述第一绝对值和所述第二绝对值中的最大值，获得误差值；将所述第二中心值减去所述误差值，获得所述第一判断值；将所述第二中心值加上所述误差值，获得所述第二判断值。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述将所述第一判断值和所述第二判断值分别设置为所述自动测试设备的相应测试项目的下限阈值和上限阈值包括：
将所述第一判断值设置为所述自动测试设备的相应测试项目的下限阈值，...
【专利技术属性】
技术研发人员：谢斌，李思琦，陈卫东，
申请(专利权)人：深圳市大能创智半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：
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