一种可调节的集成电路测试仪制造技术

本发明专利技术公开了一种可调节的集成电路测试仪，包括底座，所述底座底部四角均开设有轮槽，所述轮槽内设有行走机构，所述底座顶部设有升降机构，所述升降机构上方设有旋转机构，所述旋转机构上方设有固定机构，所述固定机构上设有集成电路测试仪本体。本发明专利技术的一种可调节的集成电路测试仪，通过设置的固定机构，将集成电路测试仪本体固定住，通过设置的旋转机构，方便调节集成电路测试仪本体的角度，通过设置的升降机构，方便调节集成电路测试仪本体的高度，解决了集成电路测试仪本体在工作的过程中不能够起到可调节高度和角度，导致工作人员由于身高不同，在生产的过程中尤其不方便，降低了生产效率，浪费了大量时间的问题。浪费了大量时间的问题。浪费了大量时间的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种可调节的集成电路测试仪


[0001]本专利技术涉及集成电路测试
，特别涉及一种可调节的集成电路测试仪。

技术介绍

[0002]集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构，其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步，现有的集成电路测试仪在工作的过程中不能够起到可调节的作用，导致工作人员由于身高不同，在生产的过程中尤其不方便，降低了生产效率，浪费了大量时间的问题。

技术实现思路

[0003]针对现有技术中的上述不足，本专利技术提供了一种可调节的集成电路测试仪，其目的是解决现有的集成电路测试仪在工作的过程中不能够起到可调节的作用，导致工作人员由于身高不同，在生产的过程中尤其不方便，降低了生产效率，浪费了大量时间等问题。
[0004]为了达到上述专利技术目的，本专利技术采用的技术方案为：
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种可调节的集成电路测试仪，其特征在于，包括底座(1)，所述底座(1)底部四角均开设有轮槽(2)，所述轮槽(2)内设有行走机构(3)，所述底座(1)顶部设有升降机构(4)，所述升降机构(4)上方设有旋转机构(5)，所述旋转机构(5)上方设有固定机构(6)，所述固定机构(6)上设有集成电路测试仪本体(7)。2.根据权利要求1所述的一种可调节的集成电路测试仪，其特征在于：所述升降机构(4)包括固定设置在底座(1)顶部的方管一(401)，所述方管一(401)内壁开设有安装槽(402)，所述安装槽(402)内设有滑动组件(403)，所述方管一(401)内插设有方管二(404)，所述方管二(404)底部固定连接有连接板(405)，所述连接板(405)上螺纹连接有第一丝杠(406)，所述方管一(401)内设有第一电机(407)，所述第一电机(407)的输出轴与第一丝杠(406)一端固定连接，所述方管二(404)内设有可滑动的滑块(408)，所述第一丝杠(406)远离第一电机(407)的一端与滑块(408)旋转连接。3.根据权利要求2所述的一种可调节的集成电路测试仪，其特征在于：所述滑动组件(403)包括固定设置在安装槽(402)内的框架(4031)，所述框架(4031)内设有阵列分布的辊子(4032)，所述辊子(4032)与框架(4031)旋转设置，所述辊子(4032)与方管二(404)抵触设置。4.根据权利要求3所述的一种可调节的集成电路测试仪，其特征在于：所述旋转机构(5)包括设置在方管二(404)顶部的壳体(501)，所述壳体(501)内设有第二电机(502)，所述第二电机(502)的输出轴伸出壳体(501)顶部且与壳体(501)顶部旋转设置，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑俊，李闯，林献伟，
申请(专利权)人：江苏顺海科技有限公司，
类型：发明
国别省市：