壳体外形变形量测量治具制造技术

本实用新型专利技术公开一种壳体外形变形量测量治具，包括底座以及均设于底座上的仿形治具、第一测量组件与第二测量组件；仿形治具用于放置待测量壳体；第一测量组件包括设于底座上的第一驱动部及设于第一驱动部上的第一千分尺，第二测量组件包括设于底座上的第二驱动部及设于第二驱动部上的第二千分尺；第一驱动部用于驱动第一千分尺测量待测量壳体的第一侧边的变形量，第二驱动部用于驱动第二千分尺测量待测量壳体的第二侧边的变形量。本实用新型专利技术实现了对待测量壳体多个侧边的同时测量，提升了测量效率，且占用体积小，可满足正常大批量生产类全检测量尺寸以及产品变形量的检测需求。产类全检测量尺寸以及产品变形量的检测需求。产类全检测量尺寸以及产品变形量的检测需求。

【技术实现步骤摘要】
壳体外形变形量测量治具


[0001]本技术涉及测量治具
，尤其涉及一种壳体外形变形量测量治具。

技术介绍

[0002]随着对电子产品标准化的外形尺寸的要求提升，电子产品的壳体在生产完成后需要进行尺寸测量，以避免不符合标准的壳体投入使用。目前对于电子产品尺寸测量的常规方法主要以游标卡尺、高度规、二次元投影为主。其中，游标卡尺通常用于测量常规类外型长宽尺寸，但对于有弧度类的产品测量会存在误差；高度规则是通过治具辅助测量尺寸，主要以测量产品的高度为主；二次元投影测量方法可以通过投影测量尺寸，测量精度相对比较高，因此可满足电子产品对于尺寸测量对于精度的要求。但二次元投影测量方法因设备体积较大且测量效率低，难以满足正常大批量生产类全检测量尺寸以及产品变形量的检测需求。

技术实现思路

[0003]本技术的目的是提供一种壳体外形变形量测量治具，旨在改善二次元投影测量方法测量效率低的问题，且占用体积小，可满足正常大批量生产类全检测量尺寸以及产品变形量的检测需求。
[0004]为了实现上述目的，本技术提供一种壳体外形变形量测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种壳体外形变形量测量治具，其特征在于，包括底座以及均设于所述底座上的仿形治具、第一测量组件与第二测量组件；所述仿形治具用于放置待测量壳体；所述第一测量组件包括设于所述底座上的第一驱动部及设于所述第一驱动部上的第一千分尺，所述第二测量组件包括设于所述底座上的第二驱动部及设于所述第二驱动部上的第二千分尺；所述第一驱动部用于驱动所述第一千分尺测量所述待测量壳体的第一侧边的变形量，所述第二驱动部用于驱动所述第二千分尺测量所述待测量壳体的第二侧边的变形量。2.如权利要求1所述的壳体外形变形量测量治具，其特征在于，所述第一驱动部包括固定于所述底座上的第一平推气缸及设于所述第一平推气缸上的第一滑块，所述第一千分尺垂直固定于所述第一滑块上；所述第一平推气缸用于驱动所述第一滑块沿水平方向滑动，以使所述第一千分尺靠近或远离所述仿形治具；所述第二驱动部包括固定于所述底座上的第二平推气缸及设于所述第二平推气缸上的第二滑块，所述第二千分尺垂直固定于所述第二滑块上；所述第二平推气缸用于驱动所述第二滑块沿水平方向滑动，以使所述第二千分尺靠近或远离所述仿形治具。3.如权利要求2所述的壳体外形变形量测量治具，其特征在于，所述底座上设有一对平行间隔设置的第一滑轨，所述第一滑块的两侧分别可滑动连接于一对所述第一滑轨上；所述底座上还设有一对平行间隔设置的第二滑轨，所述第二滑块的两侧分别可滑动连接于一对所述第二滑轨上；所述第一滑轨与所述第二滑轨相垂直。4.如权利要求2所述的壳体外形变形量测量治具，其特征在于，所述底座开设有第一避让孔；所述第一平推气缸固定于所述底座背离所述仿形治具的一侧，并通过穿过所述第一避让孔的第一连接块与所述第一滑块固定连接；所述底座还开设有第二避让孔；所述第二平推气缸固定于所述底座背离所述仿形治具的一侧，并通过穿过所...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘小平，
申请(专利权)人：闻泰通讯股份有限公司，
类型：新型
国别省市：