玻璃光谱内透过率测量方法技术

本发明专利技术提出了一种光学玻璃材料内透测试的方法。本发明专利技术采用双光路双样品单光束两步法，测试数据不存在超100％的现象，并且步骤简单，提高了测试效率，并且仪器的光束能量在短时间内变化较小，对光谱内透的测试准确性影响也较小。本发明专利技术要求的样品数量减少，并且降低了样品的加工要求，从而降低成本。从而降低成本。

【技术实现步骤摘要】
玻璃光谱内透过率测量方法


[0001]本专利技术属于玻璃测试
，具体涉及一种玻璃光谱内透过率测量方法。

技术介绍

[0002]玻璃光谱内透过率是剔除掉样品界面反射损失从而反映玻璃内部真实透过情况的指标。通过知网查询现内透测试方法有GB/T 7962.12
‑
2010,成都光明光电田丰贵先生撰写的论文《光学玻璃内透过率测试新方法》及吴志强先生发表的专利《玻璃光谱内透过率测量方法》。
[0003]1、GB/T 7962.12
‑
2010方法
[0004]①
在选择的测试波长范围内进行基线扫描测试
[0005]②
在测试光路中放入厚样品(15mm)，在参考光路中放入薄样品(5mm)
[0006]③
开始测试，测量出目标样品厚度的内透过率
[0007]2、成都光明光电的田丰贵先生撰写的论文《光学玻璃内透过率测试新方法》,其描述：
[0008]①
在选择的测试波长范围内进行基线扫描测试
[0009]②/>在测试光路放入薄本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学玻璃材料内透测试的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一：样品制备在同一样品上切取薄厚两块样品，加工成矩形，具体尺寸视样品架大小而定；该步骤中，薄样品和厚样品的通光面需进行同盘研磨和抛光，除通光面外的其余各面进行细磨；步骤二：采用双光路双样品单光束两步法进行测量
①
先将薄样品放入测试光路中，然后在选择的测试波长范围内进行基线测量；
②
测量完基线后，再将测试光路中的薄样品换为厚样品；
③
...

【专利技术属性】
技术研发人员：李辉，吴志强，兰双龙，
申请(专利权)人：湖北戈碧迦光电科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：