液晶涂布的实时检测处理系统及其处理方法技术方案

本发明专利技术公开了液晶涂布的实时检测处理系统及其处理方法，其中的处理方法包括：一种液晶涂布的实时检测处理方法，图像采集机构相对基板位移，并遍历基板上待检测的液晶涂布区域；调整图像采集机构的参数，进而调整图像采集机构采集基板上涂布的液晶的图像准确性，减少图像的失真；通过图像分析检测分析采集的图像是否合格，对不合格的类型进行识别。合格时继续涂布液晶，不合格时，根据识别的液晶涂布的不合格类别选择故障排除的方式。本发明专利技术公开的一种液晶涂布的实时检测处理系统及其处理方法，实现了对液晶涂布的实时反馈涂布机的喷头状态以及涂布效果，避免了因液晶涂布机构故障不能及时发现而导致的不良问题。障不能及时发现而导致的不良问题。障不能及时发现而导致的不良问题。

【技术实现步骤摘要】
液晶涂布的实时检测处理系统及其处理方法


[0001]本专利技术涉及喷墨打印
，具体涉及液晶涂布的实时检测处理系统及其处理方法。

技术介绍

[0002]目前，液晶的填充主要为液晶注入式和液晶滴下式，注入式非常耗时，故大尺寸面板多采用液晶滴下式填充液晶。对于大尺寸面板的液晶涂布，出现液晶断裂和喷头故障的情况，液晶之间的间隔很微小，人员很难及时发现和处理，这样会导致大量的不良产品产生和堆积。例如，单张的玻璃基板（TFT）液晶涂布结束后，对玻璃基板（TFT）的表面液晶涂布状态进行检测，检出规定区域未涂布、喷头故障，如图1所示为喷头漏涂造成未涂布，使得涂布的液晶出现断裂的情况。如图2所示为喷头故障堵塞产生的不良情况，因此造成液晶断裂。

技术实现思路

[0003]本专利技术克服了现有技术的不足，提供了液晶涂布的实时检测处理系统及其处理方法，实现了对液晶涂布的实时反馈，并了解液晶涂布机构的喷头状态以及涂布效果，避免因液晶涂布机构的故障不能及时发现而导致液晶涂布的不良生产范围和影响扩大。
[0004]为达到上述目的，本专利技术采用本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种液晶涂布的实时检测处理方法，其特征在于：包括以下步骤：a.图像采集机构相对基板位移，并遍历基板上待检测的液晶涂布区域，获取基板上待检测的液晶涂布区域的图像；b.调整图像采集机构的参数，进而调整图像采集机构采集的基板上待检测的液晶涂布区域的所述图像的准确性，减少图像的失真；c．通过图像分析检测分析图像采集机构采集的图像是否合格，对图像中显示的基板上待检测的液晶涂布区域的液晶涂布不合格的类型进行识别。2.根据权利要求1所述的一种液晶涂布的实时检测处理方法，其特征在于：还包括位于步骤c之后的步骤d；步骤d包括：步骤c检测到合格时继续涂布液晶，步骤c检测到不合格时，根据识别的液晶涂布的不合格类别选择故障排除的方式。3.根据权利要求2所述的一种液晶涂布的实时检测处理方法，其特征在于：所述图像采集机构包括设置在基板上方的线阵相机和线性光源，所述线阵相机对基板上涂布的液晶的拍摄角度与所述线性光源的光源入射在基板上涂布的液晶的入射角度分别相对位于基板的涂布面的至少一条法线的两侧。4.根据权利要求3所述的一种液晶涂布的实时检测处理方法，其特征在于：所述图像采集机构中的线阵相机相对基板上待检测的液晶涂布区域沿所述线阵相机采集的图像的高度方向运动；使采集的图像的高度方向上所采用的纵向扫描精度和采集的图像的宽度方向上所采用的横向扫描精度一致，图像采集机构采集到不拉伸或不压缩的图像。5.根据权利要求4所述的一种液晶涂布的实时检测处理方法，其特征在于：所述线阵相机的横向扫描精度PH为：PH=Hc/(Lo)；所述线阵相机的纵向扫描精度PL为：PL=(Vc
×
Tc)/(1pixel
×
Vo
×
To)；To和Tc扫描所用的时间是相等的，即To=Tc；所以PL=(Vc)/(1pixel
×
Vo)；根据横向和纵向的分辨率相等的原则，得到公式如下：Lo/Hc=Vo/Vc；则线阵相机的线扫描速率为：Vc=(Hc
×
Vo)/(Lo)；其中，Hc是线阵相机的每线像素数，pixel是Hc选用的单位；Lo是目标物的宽幅；Vo是目标物运行速率；Vc是线阵相机线扫描速率；To是扫描一帧图像目标物运行的时间；Tc是扫描一帧图像线阵相机的扫描时间；PH是横向精度即每个像素代表...

【专利技术属性】
技术研发人员：王翔，蔡硕，葛京都，
申请(专利权)人：苏州优备精密智能装备股份有限公司，
类型：发明
国别省市：