一种多功能芯片测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种多功能芯片测试装置，测试腔与收集腔之间贯穿固定有空心圆台，空心圆台上下两端外侧均呈环形等距开有三个摆放腔，空心圆台内部顶端且位于摆放腔的一侧均嵌入固定有电机，控制器与电机信号连接，电机的下部输出端连接有旋转架，旋转架两端均固定有支撑板，支撑板与摆放腔相对应，收集腔内部滑动连接有收集盒。通过将芯片放在摆放腔内，并使芯片位于支撑板上方，这样当检测该芯片为不合格时，则支撑板呈圆周运动一百八十度角，使两块支撑板调换位置，但是不合格的芯片会调换位置的过程中往下掉落入收集盒内部，这样统一收集不合格的芯片，从而减轻了工作人员的工作量。的工作量。的工作量。

【技术实现步骤摘要】
一种多功能芯片测试装置


[0001]本技术涉及芯片测试
，具体涉及一种多功能芯片测试装置。

技术介绍

[0002]芯片又称微电路、微芯片、集成电路，芯片是指内含集成电路的硅片，体积很小，常常是计算机或其他电子设备的一部分，芯片在电子学中是一种把电路小型化的方式，并通常制造在半导体晶圆表面上，晶圆测试是对晶片上的每个晶粒进行针测，利用针卡上的探针与晶粒上的接点接触，测试其电气特性。经检索，一篇专利号为202122799873.1的技术公开了一种多芯片测试装置，该多芯片测试装置在对多块芯片进行测试的时候，使气阀开启，利用限位片上的气孔，将芯片吹出，从而便于对不合格芯片进行筛选，但是吹出的芯片还需要工作人员去拾起再回收，这样当有两块以上的芯片被吹起时，则给工作人员增加了工作量。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种多功能芯片测试装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0004]一种多功能芯片测试装置，包括测试箱，所述测试箱前端上下两侧分别设有测试腔和收集腔，所述测试腔内顶部安装有测试机构，所述测试箱前端且位于测试腔与收集腔之间安装有控制面板，所述测试箱后部安装有与测试机构连接的控制器，所述测试箱右端安装有与控制器连接的显示屏；
[0005]所述测试腔与收集腔之间贯穿固定有空心圆台，所述空心圆台上下两端外侧均呈环形等距开有三个摆放腔，所述空心圆台内部顶端且位于摆放腔的一侧均嵌入固定有电机，所述控制器与电机信号连接，所述电机的下部输出端连接有旋转架，所述旋转架两端均固定有支撑板，所述支撑板与摆放腔相对应，所述收集腔内部滑动连接有收集盒。
[0006]具体的，所述测试机构包括电动推杆、滑动座、集线器和测试探针，所述电动推杆固定安装在测试腔内顶部，所述滑动座安装在电动推杆下部，所述集线器安装在滑动座上端，所述滑动座下端呈环形均匀安装有三组测试探针，所述测试探针与摆放腔上下一一对应，所述测试探针与集线器连接，所述集线器与控制器连接，所述控制面板与电动推杆连接。
[0007]具体的，所述测试箱上端安装有报警器，所述控制器与报警器信号连接。
[0008]具体的，所述支撑板的外径大于摆放腔的口径。
[0009]具体的，所述测试箱右端且位于显示屏前方开有滑道，所述滑动座右端固定有滑杆，所述滑杆右部延伸出滑道且与滑道滑动连接。
[0010]具体的，所述滑杆后部粘接有子魔术贴，所述子魔术贴后部连接有母魔术贴，所述母魔术贴后部缝合有抹布，所述抹布后部与显示屏前部滑动连接。
[0011]有益效果：通过将芯片放在摆放腔内，并使芯片位于支撑板上方，这样当检测该芯
片为不合格时，则支撑板呈圆周运动一百八十度角，使两块支撑板调换位置，但是不合格的芯片会调换位置的过程中往下掉落入收集盒内部，这样统一收集不合格的芯片，从而减轻了工作人员的工作量。
附图说明
[0012]图1为本技术整体示意图；
[0013]图2为本技术空心圆台俯视剖面示意图。
[0014]图3为本技术图2中支撑板不遮挡摆放腔的示意图。
[0015]图中：1
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测试箱、2
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显示屏、3
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控制器、4
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报警器、5
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电动推杆、6
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滑动座、7
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集线器、8
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测试探针、9
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空心圆台、10
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摆放腔、11
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支撑板、12
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控制面板、13
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收集腔、14
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收集盒、15
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测试腔、16
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滑道、17
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滑杆、18
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抹布、19
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电机、20
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旋转架。
具体实施方式
[0016]请参阅图1
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图3，一种多功能芯片测试装置，包括测试箱1，所述测试箱1前端上下两侧分别设有测试腔15和收集腔13，所述测试腔15内顶部安装有测试机构，所述测试箱1前端且位于测试腔15与收集腔13之间安装有控制面板12，所述测试箱1后部安装有与测试机构连接的控制器3，所述测试箱1右端安装有与控制器3连接的显示屏2，所述测试机构包括电动推杆5、滑动座6、集线器7和测试探针8，所述电动推杆5固定安装在测试腔15内顶部，所述滑动座6安装在电动推杆5下部，所述集线器7安装在滑动座6上端，所述滑动座6下端呈环形均匀安装有三组测试探针8，所述测试探针8与摆放腔10上下一一对应，所述测试探针8与集线器7连接，所述集线器7与控制器3连接，所述控制面板12与电动推杆5连接，通过控制面板12，可以使电动推杆5带动滑动座6升降，这样滑动座6可以带动集线器7和测试探针8同步移动；
[0017]所述测试腔15与收集腔13之间贯穿固定有空心圆台9，所述空心圆台9上下两端外侧均呈环形等距开有三个摆放腔10，所述空心圆台9内部顶端且位于摆放腔10的一侧均嵌入固定有电机19，所述控制器3与电机19信号连接，所述电机19的下部输出端连接有旋转架20，所述旋转架20两端均固定有支撑板11，所述支撑板11与摆放腔10相对应，所述支撑板11的外径大于摆放腔10的口径，所述收集腔13内部滑动连接有收集盒14，通过将芯片放在摆放腔10内，由于支撑板11上下两面与空心圆台9内壁上下两面紧贴，使得芯片位于支撑板11上方，之后通过电动推杆5，使滑动座6下降，这样测试探针8会下移插入摆放腔10内部对芯片进行接触，测试探针8接触芯片之后，将测试信号发送集线器7，利用集线器7对各测试探针8进行编号并发送到控制器3进行处理，控制器3对集线器7发送的信号进行处理；
[0018]所述测试箱1上端安装有报警器4，所述控制器3与报警器4信号连接，如果芯片存在问题，控制器3会启动报警器4报警提示，并通过显示屏2对芯片的位置进行标注显示，这样当检测该芯片为不合格时，控制器3控制对应的电机19驱动旋转架20旋转一百八十度角，则旋转架20带动支撑板11呈圆周运动一百八十度角，使两块支撑板11调换位置，在调换位置的过程中，首先支撑板11会带动芯片与摆放腔10内壁相抵，然后当这块支撑板11移离开摆放腔10的时候，芯片失去支撑会掉落，并从下方的摆放腔10落入收集腔13的收集盒14内部，可使不合格的芯片在调换位置的过程中往下掉落入收集盒14内部，这样统一收集不合
格的芯片，可以减轻工作人员的工作量；
[0019]所述测试箱1右端且位于显示屏2前方开有滑道16，所述滑动座6右端固定有滑杆17，所述滑杆17右部延伸出滑道16且与滑道16滑动连接，当滑动座6在上下移动的时候，可带动滑杆17沿着滑道16上下移动，此时起到滑动座6的导向作用；
[0020]所述滑杆17后部粘接有子魔术贴，所述子魔术贴后部连接有母魔术贴，所述母魔本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多功能芯片测试装置，包括测试箱(1)，所述测试箱(1)前端上下两侧分别设有测试腔(15)和收集腔(13)，所述测试腔(15)内顶部安装有测试机构，所述测试箱(1)前端且位于测试腔(15)与收集腔(13)之间安装有控制面板(12)，所述测试箱(1)后部安装有与测试机构连接的控制器(3)，所述测试箱(1)右端安装有与控制器(3)连接的显示屏(2)，其特征在于：所述测试腔(15)与收集腔(13)之间贯穿固定有空心圆台(9)，所述空心圆台(9)上下两端外侧均呈环形等距开有三个摆放腔(10)，所述空心圆台(9)内部顶端且位于摆放腔(10)的一侧均嵌入固定有电机(19)，所述控制器(3)与电机(19)信号连接，所述电机(19)的下部输出端连接有旋转架(20)，所述旋转架(20)两端均固定有支撑板(11)，所述支撑板(11)与摆放腔(10)相对应，所述收集腔(13)内部滑动连接有收集盒(14)。2.根据权利要求1所述的一种多功能芯片测试装置，其特征在于：所述测试机构包括电动推杆(5)、滑动座(6)、集线器(7)和测试探针(8)，所述电动推杆(5)固定安装在测试腔(15)内顶部，所述滑动...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐晶，张朝晖，
申请(专利权)人：南京锐弘测控有限公司，
类型：新型
国别省市：