构造圈闭体积校正系数确定方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种构造圈闭体积校正系数确定方法、装置、设备及介质。其中，该方法包括：确定待测构造圈闭的圈闭类型，根据圈闭类型确定待测构造圈闭的标准横截面；圈闭类型包括背斜型、断背斜型和断块型，标准横截面用于代表待测构造圈闭的底面所在平面；确定待测构造圈闭在标准横截面上的目标参数信息，根据目标参数信息确定待测构造圈闭的参考校正系数；参考校正系数包括幅度校正系数、断层校正系数和储层校正系数中的至少两种；根据参考校正系数确定待测构造圈闭的体积校正系数。本技术方案，能够基于构造圈闭的标准横截面快速准确求取逼近地下真实情况的构造圈闭的体积校正系数，有助于提高构造圈闭的资源量预测速度和预测精度。度和预测精度。度和预测精度。

【技术实现步骤摘要】
构造圈闭体积校正系数确定方法、装置、设备及介质


[0001]本专利技术涉及地质研究
，尤其涉及一种构造圈闭体积校正系数确定方法、装置、设备及介质。

技术介绍

[0002]构造圈闭体积是预测构造圈闭内储存的油气资源潜力的直接参数，一般通过底面积与储层厚度的乘积计算构造圈闭体积。但是，这种方式确定的构造圈闭体积与实际情况存在较大误差，通常引入体积校正系数对计算得到的构造圈闭体积进行校正。因此，如何准确求取构造圈闭的体积校正系数，成为制约构造圈闭资源量预测精度的最大瓶颈。
[0003]现有技术中，通常直接依据个人经验或者采用专家打分法在构造圈闭资源量预测时赋予构造圈闭体积校正系数，甚至直接忽略该参数对资源量预测结果的影响。由此得到的构造圈闭资源量通常高估或者低估构造圈闭体积，结果存在明显误差，因而无法真实反映地下真实资源潜力，直接影响了构造圈闭的勘探潜力评价和勘探方案部署。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供了一种构造圈闭体积校正系数确定方法、装置、设备及介质，能够基于构造圈闭的标准横截面，快速准确地求取逼近地下真本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种构造圈闭体积校正系数确定方法，其特征在于，所述方法包括：确定待测构造圈闭的圈闭类型，根据所述圈闭类型确定所述待测构造圈闭的标准横截面；所述圈闭类型包括背斜型、断背斜型和断块型，所述标准横截面用于代表所述待测构造圈闭的底面所在平面；确定所述待测构造圈闭在所述标准横截面上的目标参数信息，根据所述目标参数信息确定所述待测构造圈闭的参考校正系数；所述参考校正系数包括幅度校正系数、断层校正系数和储层校正系数中的至少两种；根据所述参考校正系数确定所述待测构造圈闭的体积校正系数；其中，所述幅度校正系数根据第一横截面积与第二横截面积的比值确定，所述第一横截面积基于第一参考面积确定，所述第一参考面积是指所述待测构造圈闭受顶面幅度影响导致的横截面积，所述第二横截面积基于第二参考面积确定，所述第二参考面积是指所述待测构造圈闭在理想角度下的横截面积，所述理想角度是指储层倾角为0度，所述断层校正系数根据第三横截面积与第二横截面积的比值确定，所述第三横截面积基于第三参考面积确定，所述第三参考面积是指所述待测构造圈闭受控圈断层影响导致的横截面积，所述储层校正系数根据第四横截面积与所述第二横截面积的比值确定，所述第四横截面积基于第四参考面积确定，所述第四参考面积是指所述待测构造圈闭受储层产状倾斜影响导致的横截面积。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述标准横截面根据所述待测构造圈闭范围内的目标线段所在的横截面进行确定，其中：当圈闭类型为背斜型时，所述目标线段为所述待测构造圈闭范围内经过背斜中心点的线段，所述目标线段的长度等于第一参考线段和第二参考线段的平均长度，所述第一参考线段和所述第二参考线段分别为所述待测构造圈闭范围内经过背斜中心点的最长线段和最短线段；当圈闭类型为断背斜型时，所述目标线段为所述待测构造圈闭范围内与控圈断层垂直的线段，所述目标线段的长度等于第三参考线段长度的一半，所述第三参考线段为所述待测构造圈闭范围内与控圈断层垂直的最长线段；当圈闭类型为断块型时，所述目标线段为所述待测断块型圈闭范围内与第四参考线段平行的线段，所述目标线段的长度等于所述第四参考线段长度的一半，所述第四参考线段为所述待测断块型圈闭范围内的两条控圈断层与构造溢出点等值线相交点的连线。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述目标参数信息确定所述待测构造圈闭的参考校正系数，包括：当圈闭类型为背斜型时，根据目标参数信息中的第一幅度参数信息和第一幅度函数确定所述待测构造圈闭的幅度校正系数；其中，所述第一幅度参数信息包括理想角度下所述标准横截面上待测构造圈闭范围内的储层横截面长度和储层横截面厚度，以及所述待测构造圈闭在标准横截面上的左翼顶面倾角和右翼顶面倾角；所述第一幅度函数用于描述所述第一幅度参数信息与所述幅度校正系数的映射关系；当圈闭类型为断背斜型时，根据目标参数信息中的第二幅度参数信息和第二幅度函数确定所述待测构造圈闭的幅度校正系数；
其中，所述第二幅度参数信息包括理想角度下所述标准横截面上待测构造圈闭范围内的储层横截面长度和储层横截面厚度，以及所述待测构造圈闭在标准横截面上的顶面倾角；所述第二幅度函数用于描述所述第二幅度参数信息与所述幅度校正系数的映射关系。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述目标参数信息确定所述待测构造圈闭的参考校正系数，包括：当圈闭类型为断背斜型时，根据目标参数信息中的第一断层参数信息和第一断层函数确定所述待测构造圈闭的断层校正系数；其中，所述第一断层参数信息包括理想角度下所述标准横截面上待测构造圈闭范围内的储层横截面长度和储层横截面厚度，以及所述待测构造圈闭在标准横截面上的控圈断层倾角；所述第一断层函数用于描述所述第一断层参数信息与所述断层校正系数的映射关系；当圈闭类型为断块型时，根据目标参数信息中的第二断层参数信息和第二断层函数确定所述待测构造圈闭的断层校正系数；其中，所述第二断层参数信息包括理想角度下所述标准横截面上待测构造圈闭范围内的储层横截面长度和储层横截面厚度，以及所述待测构造圈闭在标准横截面上的左翼控圈断层倾角和右翼控圈断层倾角；所述第二断层函数用于描述所述第二断层参数信息与所述断层校...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈彬滔，马峰，杨丽莎，薛罗，马轮，洪亮，刘雄志，王磊，雷明，张斌，谢明贤，徐飞，
申请(专利权)人：中国石油天然气股份有限公司，
类型：发明
国别省市：