天线检测方法、装置、电子设备及计算机可读介质制造方法及图纸

本申请公开了一种天线检测方法、装置、电子设备及计算机可读介质，涉及天线领域，应用于待测设备，所述待测设备包括中框，所述中框上安装有待测天线，所述方法包括：获取所述待测天线的图像；将所述待测天线的图像与预设的标准图像比对；若比对结果为二者匹配，则判定所述待测天线合格；若比对结果为二者不匹配，则判定所述待测天线不合格。因此，相比对天线采用电性能测试，采用图像比对的方式，不就能够避免检测仪器的依赖，而且，还能够避免仪器和天线之间的电性连接的问题而导致检测结果过差。过差。过差。

【技术实现步骤摘要】
天线检测方法、装置、电子设备及计算机可读介质


[0001]本申请涉及天线领域，更具体地，涉及一种天线检测方法、装置、电子设备及计算机可读介质。

技术介绍

[0002]智能终端等消费终端产品天线形式主要为FPC、LDS、金属嵌件、金属外观天线等，其天线物料或结构件出货前需要做性能全检，提前拦截不良物料，提升后端整机组装的良率。现有的终端天线检测方案普遍为电性能检测，需要基于天线的数量增加检测仪器，导致，检测仪器的设置繁琐，并且，采用电性能测试，由于仪器和天线之间的电性连接的问题，可能导致检测效果较差。

技术实现思路

[0003]本申请提出了一种天线检测方法、装置、电子设备及计算机可读介质，以改善上述缺陷。
[0004]第一方面，本申请实施例提供了一种天线检测方法，应用于待测设备，所述待测设备包括中框，所述中框上安装有待测天线，所述方法包括：获取所述待测天线的图像；将所述待测天线的图像与预设的标准图像比对；若比对结果为二者匹配，则判定所述待测天线合格；若比对结果为二者不匹配，则判定所述待测天线不合格。r/>[0005]第本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种天线检测方法，其特征在于，应用于待测设备，所述待测设备包括中框，所述中框上安装有待测天线，所述方法包括：获取所述待测天线的图像；将所述待测天线的图像与预设的标准图像比对；若比对结果为二者匹配，则判定所述待测天线合格；若比对结果为二者不匹配，则判定所述待测天线不合格。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述待测天线的图像，包括：基于对所述中框的图像采集操作，获取初始图像；识别所述初始图像中的指定部位的图像，所述指定部位影响所述待测天线的性能；基于所述指定部位的图像得到所述待测天线的图像，其中，所述标准图像包括标准天线对应的指定部位的图像。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，基于所述指定部位的图像得到所述待测天线的图像，包括：将所述指定部位的图像作为所述待测天线的图像。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，基于所述指定部位的图像得到所述待测天线的图像，包括：将所述指定部位的图像的像素精度设置为第一精度，以得到第一图像；将所述初始图像中的所述指定部位之外的区域的图像的像素精度设置为第二精度，以得到第二图像，所述第一精度大于所述第二精度；根据所述第一图像和所述第二图像合成为所述待测天线的图像。5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述指定部位为多个，所述将所述待测天线的图像与预设的标准图像比对，包括：获取待测天线的图像中的每个所述指定部位的图像与标准天线对应的该指定部位的图像之间的图像差异；若每个所述指定部位的图像差异小于预设阈值，则判定该指定部位匹配成功；若所有的指定部位均匹配成功，则判定所述待测天线的图像与预设的标准图像的比对结果为二者匹配；若所有的指定部位中存在匹配不成功的指定部位，则判定所述待测天线的图像与预设的标准图像的...

【专利技术属性】
技术研发人员：李伟，
申请(专利权)人：OPPO广东移动通信有限公司，
类型：发明
国别省市：