缺陷处理方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本公开提供了一种缺陷处理方法、装置、设备、存储介质以及程序产品，涉及计算机技术、数据处理技术领域，尤其涉及软件缺陷处理技术领域。具体实现方案为：针对多个参与方中的任意一个目标方，响应于针对目标缺陷的确认指令，根据目标缺陷的候选来源，确定目标来源，其中，目标缺陷的处理方为目标方，目标缺陷的处理方是根据包括目标缺陷的目标代码的代码标签得到的；候选来源由处理目标缺陷的处理方确定；以及响应于处理方对目标缺陷的修改操作，确定目标方缺陷分析数据。目标方缺陷分析数据。目标方缺陷分析数据。

【技术实现步骤摘要】
缺陷处理方法、装置、设备及存储介质


[0001]本公开涉及计算机技术、数据处理
，尤其涉及软件缺陷处理
，具体涉及一种缺陷处理方法、装置、设备、存储介质以及程序产品。

技术介绍

[0002]软件缺陷处理涉及记录软件缺陷、跟踪缺陷的解决以及验证。通过缺陷处理例如可以进行软件质量改进。

技术实现思路

[0003]本公开提供了一种缺陷处理方法、装置、设备、存储介质以及程序产品。
[0004]根据本公开的一方面，提供了一种缺陷处理方法，包括：针对多个参与方中的任意一个目标方，响应于针对目标缺陷的确认指令，根据目标缺陷的候选来源，确定目标来源，其中，目标缺陷的处理方为目标方，其中，目标缺陷的处理方是根据包括目标缺陷的目标代码的代码标签得到的；候选来源由处理目标缺陷的处理方确定；以及响应于处理方对目标缺陷的修改操作，确定目标方缺陷分析数据。
[0005]根据本公开的另一方面，提供了一种缺陷处理装置，包括：目标来源确定模块，用于针对多个参与方中的任意一个目标方，响应于针对目标缺陷的确认指令，根据目标缺陷的候选来源，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种缺陷处理方法，包括：针对多个参与方中的任意一个目标方，响应于针对目标缺陷的确认指令，根据所述目标缺陷的候选来源，确定目标来源，其中，所述目标缺陷的处理方为所述目标方，所述目标缺陷的处理方是根据包括所述目标缺陷的目标代码的代码标签得到的；所述候选来源由处理目标缺陷的处理方确定；以及响应于所述处理方对所述目标缺陷的修改操作，确定目标方缺陷分析数据。2.根据权利要求1所述的方法，还包括：响应于缺陷分析数据展示指令，获取所述多个参与方中的每一个所述目标方的所述目标方缺陷分析数据，得到缺陷分析数据，其中，所述参与方包括企业实体、客户实体和合作方实体；以及展示所述缺陷分析数据。3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述根据所述目标缺陷的候选来源，确定目标来源包括：在所述候选来源为所述处理方的情况下，将所述候选来源确定为所述目标来源；以及在所述候选来源为除了所述处理方之外的指定方的情况下，响应于接收到缺陷来源反馈数据为所述目标缺陷由所述指定方产生，将所述候选来源确定为所述目标来源，其中，所述缺陷来源反馈数据是由所述指定方确定的。4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述响应于所述处理方对所述目标缺陷的修改操作，确定目标方缺陷分析数据包括：响应于所述处理方对所述目标缺陷的修改操作，记录与所述目标缺陷关联的缺陷处理字段的操作，得到针对所述目标缺陷的处理记录数据；以及对所述处理记录数据进行统计，确定所述目标方缺陷分析数据，其中，所述目标方缺陷分析数据包括以下中的至少一个：缺陷数量、缺陷解决率、缺陷严重率、缺陷解决时长以及缺陷返回率。5.根据权利要求4所述的方法，其中，所述缺陷处理字段包括以下中的至少一个：缺陷状态字段、缺陷处理方式字段以及缺陷应发现阶段字段；所述缺陷应发现字段包括以下状态中的一个：交付测试、交付部署。6.一种缺陷处理装置，包括：目标来源确定模块，用于针对多个参与方中的任意一个目标方，响应于针对目标缺陷的确认指令，根据所述目标缺陷的候选来源，确定目标来源，其中，所述目标缺陷的处理方为所述目标方，所述目标缺陷的处理方是根据包括所述目标缺陷的目标代码的代码标签得到的；所述候选来源由处理目标缺陷的处理方确定；以及目标方缺陷分析数据确定模块，用于响应于所述处理方对所述目标缺陷的修改操作，确定目标方...

【专利技术属性】
技术研发人员：施金华，贾希贝，
申请(专利权)人：北京百度网讯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：