【技术实现步骤摘要】
单线总线电路中的扫描测试
[0001]本公开的技术大体上涉及在仅暴露一个物理引脚的单线总线电路中执行扫描测试。
技术介绍
[0002]移动通信装置在当今社会已经变得越来越普遍。这些移动通信装置的普及部分地由目前在此类装置上启用的许多功能驱动。此类装置中处理能力的提高意味着移动通信装置已经从纯粹的通信工具发展成能够增强用户体验的复杂移动多媒体中心。
[0003]当今的移动通信装置可包含许多逻辑装置。随着逻辑装置变得越来越复杂，基于传统测试方法(又名功能测试)手动创建、执行和验证逻辑装置将需要大量的时间和精力。此外，功能测试只能在某些部件上执行预期的操作模式，而不是在逻辑装置的所有部件上执行所有可能的操作模式。当使未测试的部件在非预期的模式下操作时，或未检测流使未测试的部件间歇性运行或汲取过量电源电流时，那些未测试的部件的操作模式可能会出现问题。为了克服传统测试方法的缺陷，测试设计(DFT)方法现已被IC行业广泛采用，其中集成电路(IC)设计被修改成适应结构测试(又名扫描测试)。
[0004]扫描测试是一种众所周...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种单线总线电路，其包括：总线引脚，所述总线引脚耦合到单线总线；通信电路，所述通信电路耦合到所述总线引脚；以及驱动器电路，所述驱动器电路耦合到所述总线引脚且包括：多个测试引脚，所述多个测试引脚耦合到所述通信电路；和测试驱动器电路，所述测试驱动器电路被配置成在多个测试周期中的每一个中在测试模式下操作以：将一个或多个测试输入值提供到所述多个测试引脚的第一子集，从而使得在所述通信电路中执行测试；并且经由所述多个测试引脚的第二子集接收在所述通信电路中执行的所述测试产生的一个或多个测试输出值。2.根据权利要求1所述的单线总线电路，其中所述驱动器电路进一步包括：开关电路，所述开关电路耦合在所述总线引脚、所述通信电路和所述测试驱动器电路之间；以及驱动器控制器，所述驱动器控制器被配置成：响应于所述测试模式的明确指示，控制所述开关电路以将所述通信电路与所述总线引脚解耦，并且将所述测试驱动器电路耦合到所述总线引脚；以及响应于通信模式的明确指示，控制所述开关电路以将所述测试驱动器电路与所述总线引脚解耦，并且耦合所述通信电路。3.根据权利要求2所述的单线总线电路，其中：所述驱动器电路进一步包括耦合在所述驱动器控制器与所述通信电路之间的测试模式引脚；并且所述通信电路被配置成断言所述测试模式引脚以提供所述测试模式的所述明确指示，以及解除断言所述测试模式引脚以提供所述通信模式的所述明确指示。4.根据权利要求3所述的单线总线电路，其中所述通信电路包括模式检测器，所述模式检测器被配置成：响应于接收到测试启动命令而断言所述测试模式引脚；以及响应于所述单线总线电路的功率循环而解除断言所述测试模式引脚。5.根据权利要求4所述的单线总线电路，其中所述通信电路包括耦合到所述总线引脚的接收电路且被配置成：经由所述总线引脚在所述通信模式下接收所述测试启动命令；以及将所述测试启动命令提供到所述模式检测器。6.根据权利要求1所述的单线总线电路，其中所述测试驱动器电路进一步被配置成使得在所述测试模式下在所述通信电路中执行扫描测试。7.根据权利要求6所述的单线总线电路，其中：所述多个测试引脚包括扫描输入(SI)引脚、扫描启用(SE)引脚、时钟(CLK)引脚和扫描输出(SO)引脚；所述多个测试引脚的所述第一子集包括所述SI引脚、所述SE引脚和所述CLK引脚；所述多个测试引脚的所述第二子集包括所述SO引脚；并且
所述测试驱动器电路进一步被配置成在所述多个测试周期中的每一个中在所述测试模式下操作以：分别将SI值、SE值和CLK值提供到所述SI引脚、所述SE引脚和所述CLK引脚，从而使得在所述通信电路中执行所述扫描测试；并且经由所述SO引脚接收在所述通信电路中执行的所述扫描测试产生的SO值。8.根据权利要求7所述的单线总线电路，其中所述SI值、所述SE值和所述SO值中的每一个是电压脉冲宽度调制(PWM)值。9.根据权利要求7所述的单线总线电路，其中所述多个测试周期各自包括第一总线符号、第二总线符号和第三总线符号。10....
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